[发明专利]一种半导体芯片生产工艺有效
| 申请号: | 201810490292.X | 申请日: | 2018-05-21 |
| 公开(公告)号: | CN108550538B | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
| 发明(设计)人: | 林孝余;林世超;吴瑞笑;陈涛;何蓉 | 申请(专利权)人: | 浙江兰达光电科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京化育知识产权代理有限公司 11833 | 代理人: | 尹均利 |
| 地址: | 325200 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 半导体 芯片 生产工艺 | ||
1.一种半导体芯片生产工艺,其特征在于:该工艺包括如下步骤:
步骤一:将晶圆放到研磨机上研磨成镜面;
步骤二:将步骤一中的晶圆放入高温扩散炉内进行氧化处理;
步骤三:将步骤二中的晶圆表面涂抹光刻胶后放入光刻机中进行曝光、显影;
步骤四:将步骤三中的晶圆送入刻蚀机中进行等离子刻蚀;
步骤五:将步骤四中的晶圆送入高温炉中进行掺杂;
步骤六:将步骤五中的晶圆输送至下一工序;
步骤四中的刻蚀机,包括箱体(1)、振动装置(2)、旋转装置(3)、夹紧装置(4)、加热器(5)、抽吸装置(6)、激励线圈(7)、送气装置(8)、偏压提供装置(9),所述箱体(1)顶板上方设有偏压提供装置(9);所述偏压提供装置(9)用于给晶圆施加偏压;所述箱体(1)顶板下方设有振动装置(2);所述振动装置(2)用于使晶圆振动;所述振动装置(2)下方设有旋转装置(3),所述旋转装置(3)用于给晶圆提供旋转的动力;所述旋转装置(3)下方设有夹紧装置(4);所述夹紧装置(4)用于夹持晶圆;所述夹紧装置(4)下方设有抽吸装置(6);所述抽吸装置(6)用于除去晶圆反应表面的反应产物;所述抽吸装置(6)下方的箱体内壁上设有激励线圈(7),所述激励线圈(7)用于把反应气体电离;所述激励线圈(7)下方设有送气装置(8);所述送气装置(8)用于通入反应气体;所述送气装置(8)旋转安装在箱体(1)底板上方;
其中,所述振动装置(2)包括电磁铁(21)、弹簧、连接柱(22)、导向柱(23),所述电磁铁(21)镶嵌在箱体(1)顶板上方;所述电磁铁(21)下方设有弹簧;所述弹簧内设有连接柱(22);所述连接柱(22)一端设置大端面,连接柱(22)的大端面一端悬空,连接柱(22)的另一端与旋转装置(3)固定连接;所述旋转装置(3)包括机箱(31)、一号电机(32)、驱动齿轮(33)、从动齿轮(34)、一号轴承(35),所述机箱(31)顶板上表面与连接柱(22)固定连接,机箱(31)顶板上表面右侧固定连接一号电机(32)机壳;所述一号电机(32)轴端头与驱动齿轮(33)固定连接;所述驱动齿轮(33)与从动齿轮(34)啮合;所述从动齿轮(34)下端面与一号轴承内圈(351)固定连接;所述一号轴承内圈(351)下端面与夹紧装置(4)固定连接;所述机箱(31)底板外表面与一号轴承外圈(352)上端面固定连接;所述夹紧装置(4)包括夹爪顶板(41)、夹爪(42),所述夹爪顶板(41)上方与一号轴承内圈(351)下端面固定连接;所述夹爪顶板(41)下方设有夹爪(42);所述夹爪(42)用于夹持晶圆;所述夹爪顶板(41)下方固定连接加热器(5);所述加热器(5)用于对晶圆进行加热。
2.根据权利要求1所述的一种半导体芯片生产工艺,其特征在于:所述夹紧装置(4)下方设有抽吸装置(6);所述抽吸装置(6)包括横向支撑板(61)、纵向支撑板(62)、抽吸板(63)、光杆(64),所述横向支撑板(61)与纵向支撑板(62)拼接成正方形框架;所述正方形框架固定连接在箱体(1)圆筒内壁上;所述纵向支撑板(62)支架之间设有两根光杆(64);所述光杆(64)上滑动安装抽吸板(63);所述抽吸板(63)用于去除晶圆反应表面产生的反应产物,抽吸板(63)通过同步带轮实现移动;所述送气装置(8)包括送气横杆(81),所述送气横杆(81)通过轴承转动连接在箱体(1)底板上,送气横杆(81)由电机带动旋转;所述送气横杆(81)的横杆表面设置一组第一圆柱孔。
3.根据权利要求2所述的一种半导体芯片生产工艺,其特征在于:所述抽吸板(63)上表面沿长度方向的中心线上设置一组第二圆柱孔,抽吸板(63)两端端面中心位置上设置一个通孔;所述第二圆柱孔与通孔连通;所述抽吸板(63)上表面上的第二圆柱孔两侧各设有一组刷毛。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





