[发明专利]半导体装置及半导体封装在审

专利信息
申请号: 201710804579.0 申请日: 2017-09-08
公开(公告)号: CN109309063A 公开(公告)日: 2019-02-05
发明(设计)人: 庄立朴;普翰屏;潘信瑜;许森贵 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L23/367 分类号: H01L23/367;H01L23/467;H01L23/485;H01L21/60
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人: 顾伯兴
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 导电性通孔 导热性 保护层 接垫 通孔 连接图案 管芯 半导体封装 半导体装置 延伸穿过
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,其特征在于,包括:

管芯,包括多个第一接垫及多个第二接垫;

保护层,设置在所述管芯上;

多个第一导电性通孔及多个第二导电性通孔,延伸穿过所述保护层并分别接触所述第一接垫及所述第二接垫;

多个导热性通孔,设置在所述保护层之上,其中所述导热性通孔中的每一个与所述第一导电性通孔及所述第二导电性通孔间隔开;以及

连接图案,设置在所述保护层上且连接所述导热性通孔及所述第一导电性通孔,其中所述导热性通孔通过所述连接图案及所述第一导电性通孔连接到所述第一接垫。

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