[发明专利]一种硅钢断面厚差质量图形化区域分析方法

权利要求书

1.一种硅钢断面厚差质量图形化区域分析方法，其特征在于，该方法包含如下步骤：

步骤1：在取样检测环节获得带钢样品横断面多点的厚度数据，并通过计算得出表征相关质量的数据，所述数据包括距离带钢传动侧边部15mm处凸度C_D15和距离带钢操作侧边部15mm处凸度C_O15；

步骤2：设定传动侧凸度目标值C_A，设定R₁和R₂分别为随机两位小数，其中，R₁=-0.99μm-0.99μm，R₂=-0.99μm-0μm；将实测传动侧凸度数据进行如下随机离散处理：

2.1若C_D15>C_A+1，则C^’_D15=C_D15 +R₁；

2.2若C_D15<C_A-1，则C^’_D15=C_D15 +R₁；

2.3若C_A-1< C_D15<C_A+1，则C^’_D15=C_D15 +R₂；

式中，C_D15为随机化距离带钢传动侧边部15mm处凸度值；

步骤3：设定传动侧凸度目标值C_B，设定R₁和R₂分别为随机两位小数，其中R₁=-0.99μm-0.99μm，R₂=-0.99μm-0μm；将实测传动侧凸度数据进行如下随机离散处理：

3.1若C_O15>C_B+1，则C^’_O15=C_O15+R₁；

3.2若C_O15<C_B-1，则C^’_O15=C_O15+R₁；

3.3若C_B-1<C_O15<C_B+1，则C^’_O15=C_O15+R₂；

式中，C_O15为随机化距离带钢操作侧边部15mm处凸度值；

步骤4：将步骤2处理得到的C^’_D15作横坐标数据，将步骤3处理得到的C^’_O15作纵坐标数据，构成样本品质量的坐标，对坐标进行描点，将所述描点填入二维直角坐标系内，同时取x=C_A位置作垂直于X轴的辅助线，取y=C_B位置作垂直于Y轴的辅助线，两条辅助线将坐标系分成四个区域，即区域A、区域B、区域C和区域D，其中，由两条辅助线构成的闭合区域为合格区域，即区域C，其余的区域A、区域B和区域D为不合格区域，分别统计各区域内描点数量占全部描点总数比例，由此得到用于分析硅钢带钢成品断面厚差的质量分布图；

步骤5：根据横向厚差质量分布图展现的信息，按照代表带钢成品质量的点坐落的位置，得到带钢成品断面横向厚差质量判定结果如下：

如果代表带钢成品质量的点坐落在区域A：说明操作侧和传动侧两侧的凸度均超过了目标值，但不会产生较大楔形的情况，带钢成品质量判定结果：不合格，造成此类质量缺陷的原因主要为设备能力上的不足；

如果代表带钢成品质量的点坐落在区域B：说明操作侧凸度低于目标值而传动侧凸度超过了目标值，导致传动侧偏薄，产生了较大的楔形，带钢成品质量判定结果：不合格，造成此类质量缺陷的原因主要为设备工作状态调试不佳；

如果代表带钢成品质量的点坐落在区域C：说明操作侧和传动侧两侧的凸度均低于目标值，且不会产生较大楔形的情况，达到了产品规格的要求，带钢成品质量判定结果：合格；

如果代表带钢成品质量的点坐落在区域D：说明操作侧凸度超过了目标值而传动侧凸度低于目标值，导致操作侧偏薄，产生了较大的楔形，带钢成品质量判定结果：不合格，造成此类质量缺陷的原因主要为设备工作状态调试不佳。