[发明专利]质量评估方法以及质量评估装置有效
| 申请号： | 201780042520.0 | 申请日： | 2017-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN109477793B | 公开（公告）日： | 2022-12-23 |
| 发明（设计）人： | 菅沼宽;杉山阳子;本村麻子 | 申请（专利权）人： | 住友电气工业株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/359 | 分类号： | G01N21/359;C12M1/34;C12Q1/04 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 张苏娜;樊晓焕 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种质量评估方法，包括：获取步骤，其中通过使用包含近红外光的测量光照射细胞团块，从而获取光强度分布信息，该光强度分布信息为与所述细胞团块中测量光的吸光度分布有关的信息；以及评估步骤，其中基于所述光强度分布信息评估所述细胞团块的质量。一种质量评估装置，包括：光源，其使用包含近红外光的测量光照射细胞团块；光接收单元，其通过接收源于测量光的照射而发射自所述细胞团块的透射光或漫反射光而获得光强度分布信息，其中所述光强度分布信息包括与所述细胞团块中测量光的吸光度分布有关的信息；以及分析单元，其基于所述光强度分布信息评估所述细胞团块的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 评估 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
1.一种质量评估方法，包括：获取步骤，其中通过使用包含近红外光的测量光照射细胞团块，从而获取光强度分布信息，该光强度分布信息包括与所述细胞团块中对于所述测量光的吸光度的分布有关的信息；以及评估步骤，基于所述光强度分布信息评估所述细胞团块的质量。
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