[发明专利]摄像装置有效

专利信息
申请号: 201480023339.1 申请日: 2014-03-28
公开(公告)号: CN105144385B 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 藤森纪幸 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: H01L27/14 分类号: H01L27/14;H01L21/3205;H01L21/768;H01L23/522;H04N5/369
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 摄像元件 低介电常数材料 摄像装置 芯片 主面 绝缘层 相对介电常数 玻璃罩 电路部 耐湿性 摄像部 氧化硅 粘接
【说明书】:

摄像装置(1)具有:摄像元件芯片(10A),以及与摄像元件芯片(10A)的第1主面(10SA)粘接的玻璃罩(30),其中,所述摄像元件芯片(10A)在第一主面(10SA)上形成有:摄像部(13);电路部(14),其具有多个层,所述多个层包含由相对介电常数比氧化硅低的低介电常数材料构成的绝缘层(12C);以及保护环(16),其由从耐湿性比低介电常数材料优良的材料中选择的1种以上的材料构成。

技术领域

发明涉及具有摄像元件芯片的摄像装置,该摄像元件芯片形成有摄像部和包含低介电常数材料层的电路部。

背景技术

由于具有摄像元件芯片的芯片尺寸封装型的摄像装置为小径,所以能够用于内窥镜等,其中,该摄像元件芯片是在主面上形成有由CMOS摄像元件等构成的摄像部而成的。为了获得摄像部与连接信号缆线等的较大的接合电极的一致性,由导体层和绝缘层构成的再布线电路对摄像元件芯片来说是不可或缺的,其中,该摄像部由利用半导体技术制成的细微图案构成。近年来,为了实现摄像装置的高性能化,正在研究使用介电常数比氧化硅低的材料、所谓Low-k材料,作为再布线电路的绝缘层。

但是,Low-k材料的耐湿性、即水蒸气的渗透性比现有的绝缘层材料差。由于以Low-k材料为绝缘层的芯片尺寸封装型的摄像装置的Low-k材料露出于外周部,所以可靠性有可能不充分。即,当水渗透到由Low-k材料构成的绝缘层时,相对介电常数上升,寄生电容增加,并产生信号延迟,所以有可能会产生动作不良,或者产生金属布线的腐蚀。

在日本特开2008-78382号公报中,公开了如下半导体装置:由耐湿性比低介电常数绝缘材料优良的底填充材料覆盖并密封包含半导体元件芯片的低介电常数绝缘层在内的再布线电路的侧面。

但是,上述公报记载的半导体装置的俯视尺寸比半导体元件芯片大出底填充材料的嵌条(Fillet)长度的量。

此外,在日本特开2011-166080公报中,公开了将摄像元件芯片收纳在屏蔽箱中的摄像装置。在摄像元件芯片与屏蔽箱的间隙中填充有密封树脂。

但是,在上述公报中没有公开和揭示任何由于经由密封树脂而渗透的水带来的影响。推测这是由于没有使用Low-k材料来作为摄像元件芯片的绝缘层。

发明内容

发明所要解决的问题

本发明的实施方式的目的在于提供小径且可靠性高的摄像装置。

用于解决问题的手段

本发明的摄像装置具有:摄像元件芯片,该摄像元件芯片在第1主面上形成有:摄像部;电路部,其与所述摄像部之间收发信号,并具有多个层,该多个层包含由相对介电常数比氧化硅低的低介电常数材料构成的绝缘层;以及电极焊盘,其与所述电路部连接,并且,所述摄像元件芯片在第2主面上形成有接合端子,该接合端子经由贯穿布线与所述电极焊盘连接;以及透明部件,其经由粘接层与所述摄像元件芯片的所述第1主面粘接,且俯视尺寸与所述摄像元件芯片相同,其中,所述摄像装置在所述摄像元件芯片的所述第1主面上具有保护环,所述保护环包围所述摄像部、所述电路部和所述电极焊盘,由从耐湿性比所述低介电常数材料优良的材料中选择的1种以上的材料构成,或者,所述摄像装置具有:屏蔽箱,其收纳所述摄像元件芯片,且内壁的角部的截面形状由曲线构成;以及密封树脂,其填充所述摄像元件芯片的侧面与所述屏蔽箱之间的间隙,且所述角部以外的厚度为100μm以下。

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