[实用新型]一种微型耐压高散热的MOSFET有效

专利信息
申请号: 201420586141.1 申请日: 2014-10-11
公开(公告)号: CN204271079U 公开(公告)日: 2015-04-15
发明(设计)人: 黄泽军 申请(专利权)人: 深圳市锐骏半导体有限公司
主分类号: H01L25/18 分类号: H01L25/18;H01L23/02;H01L23/367;H01L29/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市福田*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 微型 耐压 散热 mosfet
【权利要求书】:

1. 一种微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于,它包括第一外延片、第二外延片,其中,第一外延片的第一端与第二外延片第一端被一封装体封装;

还包括一壳体,封装于壳体内的电路结构,壳体包括外壳和盖于外壳上的外盖,电路结构包括功率端子、信号端子、绝缘陶瓷基板、碳化硅MOSFET芯片、碳化硅SBD芯片;所述绝缘陶瓷基板通过高温回流焊接到散热基板上,在绝缘陶瓷基板上焊接有碳化硅MOSFET芯片和碳化硅SBD芯片,碳化硅MOSFET芯片、碳化硅SBD芯片与绝缘陶瓷基板上刻蚀的电路结构连接起来,并通过铝线将碳化硅MOSFET芯片、碳化硅SBD芯片相互之间连接起来,至少三个功率端子焊接在绝缘陶瓷基板的对应位置上,在第一外延片的第一段的侧部连接所述外壳,该外壳包覆在封装体的外部,该外壳用于散热。

2.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:第一外延片与外壳是一体设置。

3.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:第二外延片与外壳是一体设置。

4.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:第一外延片与外壳形成U字形空间,封装体在U字形空间内。

5.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:外壳设置在第一外延片第一端的左侧。

6.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:外壳设置在第一外延片第一端的右侧。

7.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:外壳设置在第一外延片第一端的前端。

8.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:外壳设置在第一外延片第一端的后端。

9.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:在封装体内设置处理器模块、加解密模块,存储模块,电源检测模块和输入输出模块,所有模块通过MOSFET内部的总线相互连接,管脚控制模块连接于处理器模块和管脚模块之间。

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