[实用新型]一种微型耐压高散热的MOSFET有效
| 申请号: | 201420586141.1 | 申请日: | 2014-10-11 |
| 公开(公告)号: | CN204271079U | 公开(公告)日: | 2015-04-15 |
| 发明(设计)人: | 黄泽军 | 申请(专利权)人: | 深圳市锐骏半导体有限公司 |
| 主分类号: | H01L25/18 | 分类号: | H01L25/18;H01L23/02;H01L23/367;H01L29/06 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市福田*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 微型 耐压 散热 mosfet | ||
1. 一种微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于,它包括第一外延片、第二外延片,其中,第一外延片的第一端与第二外延片第一端被一封装体封装;
还包括一壳体,封装于壳体内的电路结构,壳体包括外壳和盖于外壳上的外盖,电路结构包括功率端子、信号端子、绝缘陶瓷基板、碳化硅MOSFET芯片、碳化硅SBD芯片;所述绝缘陶瓷基板通过高温回流焊接到散热基板上,在绝缘陶瓷基板上焊接有碳化硅MOSFET芯片和碳化硅SBD芯片,碳化硅MOSFET芯片、碳化硅SBD芯片与绝缘陶瓷基板上刻蚀的电路结构连接起来,并通过铝线将碳化硅MOSFET芯片、碳化硅SBD芯片相互之间连接起来,至少三个功率端子焊接在绝缘陶瓷基板的对应位置上,在第一外延片的第一段的侧部连接所述外壳,该外壳包覆在封装体的外部,该外壳用于散热。
2.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:第一外延片与外壳是一体设置。
3.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:第二外延片与外壳是一体设置。
4.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:第一外延片与外壳形成U字形空间,封装体在U字形空间内。
5.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:外壳设置在第一外延片第一端的左侧。
6.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:外壳设置在第一外延片第一端的右侧。
7.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:外壳设置在第一外延片第一端的前端。
8.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:外壳设置在第一外延片第一端的后端。
9.根据权利要求l所述的微型耐压高散热的MOSFET,其特征在于:在封装体内设置处理器模块、加解密模块,存储模块,电源检测模块和输入输出模块,所有模块通过MOSFET内部的总线相互连接,管脚控制模块连接于处理器模块和管脚模块之间。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市锐骏半导体有限公司,未经深圳市锐骏半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420586141.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于栅极接地NMOS结构ESD保护器件
- 下一篇:高频集成电路的封装结构
- 同类专利
- 专利分类





