[发明专利]一种发光二极管芯片及其制作方法无效

专利信息
申请号: 201210358562.4 申请日: 2012-09-24
公开(公告)号: CN102881785A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: 吴继清;张建宝 申请(专利权)人: 华灿光电股份有限公司
主分类号: H01L33/04 分类号: H01L33/04;H01L33/10;H01L33/12;H01L33/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 430223 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 发光二极管 芯片 及其 制作方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及半导体技术领域,特别涉及一种发光二极管芯片及其制作方法。

背景技术

发光二极管是一种半导体固体发光器件,其直接可以将电能转化为光能,且可以通过调节晶体结构使其发出不同颜色的光,与传统光源相比其优势明显。目前,发光二极管已广泛用于显示屏、背光源、照明、车灯等领域。发光二极管芯片为半导体晶片,是发光二极管的核心组件。

发光二极管芯片包括衬底和外延层,外延层包括依次生长在衬底上的n型层、MQWs(Multiple Quantum Wells,多量子阱)层和p型层,外延层上设有从p型层刻蚀到n型层的凹槽,凹槽内的n型层上设有n型焊盘,p型层上设有p型焊盘。由于外延片在刻蚀后会形成大量缺陷,这些缺陷会导致漏电流的产生,为了降低漏电流,一般会在p型层和凹槽内的n型层上设有钝化层。

在实现本发明的过程中,发明人发现现有技术至少存在以下问题:

现有的钝化层通常为单层的SiO2层或是单层的Al2O3层;当为单层的SiO2层时,由于SiO2结构较为疏松,防潮抗沾污能力较差,芯片在使用时会漏电,芯片的稳定性较差;当为单层的Al2O3层时,由于Al2O3的出光临界角度比较小,降低了芯片的发光效率。

发明内容

为了解决现有技术的问题,本发明实施例提供了一种发光二极管芯片及其制作方法。所述技术方案如下:

一方面,本发明实施例提供了一种发光二极管芯片,所述芯片包括:

衬底以及依次层叠在所述衬底上的n型层、多量子阱层和p型层,所述芯片上设有从所述p型层刻蚀到所述n型层的凹槽,所述凹槽内的所述n型层上设有n型焊盘,所述p型层上设有p型焊盘,所述p型层和所述凹槽内的n型层上设有钝化层,所述n型焊盘和所述p型焊盘穿过所述钝化层,其中,所述钝化层包括依次层叠在所述p型层和所述凹槽内的n型层上的第一层和第二层,其中,所述第一层为Al2O3层,所述第二层为SiO2层、SiNx层或SiONx层。

优选地,所述p型层和所述第一层之间还设有所述纳米铟锡金属氧化物电流扩散层。

优选地,所述第一层的厚度为5-10nm。

优选地,所述第二层的厚度为50-100nm。

优选地,所述n型焊盘和所述p型焊盘由Cr/Pt/Au制成。

另一方面,本发明实施例还提供了一种发光二极管芯片的制作方法,所述方法包括:

在衬底上依次层叠生长n型层、多量子阱层和p型层;

刻蚀掉部分所述p型层和所述多量子阱层,以使部分所述n型层裸露出来;

在裸露出来的所述n型层上形成n型焊盘,在所述p型层上形成p型焊盘;

在所述p型层和裸露出来的所述n型层上生长钝化层;

其中,所述在所述p型层和裸露出来的所述n型层上生长钝化层包括:

在所述p型层和裸露出来的所述n型层上依次层叠生长第一层和第二层,其中,所述第一层为Al2O3层,所述第二层为SiO2层、SiNx层或SiONx层。

优选地,在所述裸露出来的所述n型层上形成n型焊盘,在所述p型层上形成p型焊盘之前,所述方法还包括:

在所述p型层上沉积纳米铟锡金属氧化物电流扩散层;

则,所述在所述p型层和裸露出来的所述n型层上依次层叠生长第一层和第二层具体包括:

在所述纳米铟锡金属氧化物电流扩散层和裸露出来的所述n型层上依次层叠生长所述第一层和所述第二层。

优选地,所述第一层的厚度为5-10nm。

优选地,所述第二层的厚度为50-100nm。

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