[发明专利]氮化物类半导体元件以及其制造方法有效
申请号: | 201080002932.X | 申请日: | 2010-09-21 |
公开(公告)号: | CN102203967A | 公开(公告)日: | 2011-09-28 |
发明(设计)人: | 安杖尚美;横川俊哉 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01L33/32 | 分类号: | H01L33/32;H01L21/28;H01L33/16;H01L33/40 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氮化 物类 半导体 元件 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种氮化物半导体元件以及其制造方法。特别地,本发明涉及一种从紫外到蓝色、绿色、橙色以及白色等可见光域全体的波长域下的发光二极管、激光二极管等GaN类半导体发光元件。这种发光元件在向显示、照明以及光信息处理领域等的应用值得期待。另外,本发明还涉及一种在氮化物类半导体元件中使用的电极的制造方法。
背景技术
具有作为V族元素的氮(N)的氮化物半导体,因其带隙的大小而有望视作短波长发光元件的材料。其中,氮化镓类化合物半导体(GaN类半导体:AlxGayInzN(x+y+z=1,x≥0,y≥0,z≥0))的研究正盛行,且蓝色发光二极管(LED)、绿色LED、以及以GaN类半导体为材料的半导体激光也正实用化。
GaN类半导体具有纤锌矿型晶体构造。图1示意地表示了GaN的晶胞。在AlxGayInzN(x+y+z=1,x≥0,y≥0,z≥0)的半导体晶体中,图1所示的Ga的一部分能够置换成Al以及/或者In。
图2表示为了用4个指标标记(六面晶指数)表现纤锌矿型晶体构造的面而一般使用的4个矢量a1、a2、a3、c。基本矢量c沿[0001]方向延伸,该方向称作“c轴”。与c轴垂直的面(plane)称作“c面”或者“(0001)面”。此外,“c轴”以及“c面”也有分别用“C轴”以及“C面”进行标记的情况。
在用GaN类半导体来制作半导体元件的情况下,作为使GaN类半导体晶体生长的基板,使用使c面即(0001面)为表面的基板。但是,由于在c面上Ga的原子层和氮的原子层的位置在c轴方向上仅偏离一点,故形成极化(Electrical Polarization)。因此,“c面”也称作“极性面”。极化的结果是,在活性层的InGaN的量子阱方向,沿c轴方向产生压电电场。若在产生层而产生这样的压电电场,则因载流子的量子限制斯塔克效应(Quantum Confined Stark Effect)而使在活性层内的电子以及空穴的分布产生偏离,故内部量子效率降低。因此,若是半导体激光,则将会引起阈值电流的增大。若是LED,则将会引起功耗的增大或发光效率的降低。另外,与注入载流子的密度的上升一起,压电电场的筛分(screening)也发生,从而发光波长也产生变化。
为此,为了解决这些课题,研究使用在表面具有非极性面、例如与[10-10]方向垂直的、称作m面的(10-10)面的基板。在此,表示密勒指数的括号内的数字的左边所附的“-”表示“负号(bar)”。m面如图2所示,是与c轴(基本矢量c)平行的面,且与c面垂直。由于在m面,Ga原子和N原子存在于同一原子面状,故在与m面垂直的方向上不产生极化。其结果是,若在与m面垂直的方向上形成半导体层叠构造,则由于在活性层不产生压电电场,故能够解决上述课题。
m面是(10-10)面、(-1010)面、(1-100)面、(-1100)面、(01-10)面、(0-110)面的统称。此外,在本说明书中,“X面生长”指的是在与六面晶纤锌矿型构造的X面(X=c、m)垂直的方向上发生外延生长(Epitaxial Growth)。在X面生长中,有时将X面称作“生长面”。另外,有时将通过X面生长而形成的半导体的层称作“X面半导体层”。
专利文献1:JP特开平8-64871号公报
专利文献2:JP特开平11-40846号公报
专利文献3:JP特开2005-197631号公报
非专利文献1:Massalski,T.B.著“BINARY ALLOY PHASE DIAGRAMS”ASM International出版,1990
如上所述,使在m面基板上生长的GaN类半导体元件与使在c面基板上生长的GaN类半导体元件比较,能够发挥更显著的效果,但有以下这样的问题。即,使在m面基板上生长的GaN类半导体元件较之使在c面基板上生长的GaN类半导体元件,其接触电阻高,这在使用使在m面基板上生长的GaN类半导体元件的方面,成为大的技术障碍。
在此状况中,本申请的发明者为了解决使在非极性面即m面上生长的GaN类半导体元件具有的接触电阻高的课题而进行锐意研究,其结果是,发现了能够降低接触电阻的方法。
发明内容
本发明正是鉴于所提及的点而提出的,其主要目的在于,提供一种能够降低在m面基板上使晶体生长的GaN类半导体元件中的接触电阻的构造以及制造方法。
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