专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]结构的制备方法和缩小尺寸的方法-CN202011193994.5在审
  • 过奇钧;左正笏;钱虓;孟凡涛 - 浙江驰拓科技有限公司
  • 2020-10-30 - 2022-05-06 - H01L21/768
  • 本发明提供了一种结构的制备方法和缩小尺寸的方法。半导体结构的一侧具有基底;在半导体结构的远离基底的一侧中形成凹槽;在具有凹槽的半导体结构的表面覆盖薄膜沉积材料,部分薄膜沉积材料位于凹槽表面;对薄膜沉积材料和半导体结构进行各向异性刻蚀,以形成贯穿至基底的,剩余的薄膜沉积材料环绕与凹槽对应的。本发明的上述制备方法中通过上述薄膜沉积材料能够实现的进一步缩小以及精确控制;并且,本发明的上述制备方法是在原有工艺上进行的改进,工艺简单易于实施,且本发明的上述薄膜沉积材料环绕,能够用于降低刻蚀电浆引起氧化层缺陷伤害
  • 结构制备方法缩小尺寸
  • [发明专利]刻蚀形成硅的方法与硅刻蚀装置-CN201510318240.0有效
  • 李俊良;倪图强 - 中微半导体设备(上海)有限公司
  • 2015-06-11 - 2018-12-25 - H01L21/3065
  • 本发明提供一种刻蚀形成硅的方法与硅刻蚀装置。其中的在硅基片的背面刻蚀形成硅的方法,包括:将硅基片以背面朝上的方式放置于等离子体刻蚀装置的反应腔中,所述硅基片背面的硅材料层的上方形成有硬掩膜层,所述硬掩膜层上方形成有光刻胶图案;以所述光刻胶图案为掩模,刻蚀所述硬掩膜层,以形成硬掩膜图案;去除残余的光刻胶图案;以所述硬掩膜图案以掩模,刻蚀下方的硅材料层,以初步形成硅;去除残余的硬掩膜图案;全局刻蚀所述硅材料层;将硅基片移出所述反应腔。
  • 刻蚀形成硅通孔方法装置
  • [发明专利]一种生成方法及生成系统-CN201811546656.8有效
  • 邹志博 - 上海安路信息科技有限公司
  • 2018-12-18 - 2020-12-22 - G06F30/392
  • 本发明提供的生成方法包括:输入自定义参数,对所述自定义参数进行赋值判断和计算,再对系统参数进行赋值,对所述自定义参数进行循环判断,判断是否进行循环处理,所述循环处理过程中,将所述自定义参数和所述系统参数代入列表生成公式所述生成方法对所述自定义参数进行赋值判断并对所述系统参数赋值后,对所述自定义参数进行所述循环判断,以进行所述循环处理,从而生成多种所述列表,修改一个所述输入值,整体生成的所述列表就会发生变化,进而实现对版图的修改本发明还提供了实现所述生成方法的生成系统。
  • 一种生成方法系统
  • [实用新型]陶瓷基板自动检设备-CN201921688361.4有效
  • 李绍东 - 东莞市国瓷新材料科技有限公司
  • 2019-10-10 - 2020-07-14 - B07C5/34
  • 本实用新型公开了一种陶瓷基板自动检设备,包括有机架、输送装置、检装置以及装置;该输送装置设置于机架上;该检装置设置于机架上并位于输送装置的上方;装置设置于机架上并位于输送装置的上方,并且装置位于检装置的后方通过设置有检装置和装置,并配合输送装置使得检变为自动化过程,不仅节省人工检查的时间,还可以节省的时间,且检精度也更高,提升了制程良率,同时减少了后制程检查漏出的风险。
  • 陶瓷自动检孔通孔设备
  • [实用新型]内齿专用机-CN95208391.4无效
  • 陈天德 - 陈天德
  • 1995-04-20 - 1996-01-03 - B23F17/00
  • 一种无内齿专用机,马达带动前、后偏心轮,使与其相连的连杆分别带动纵向滑座上下动作及后齿轮组转动,纵向滑座上的刀具由下朝上往复切削工件,使碎屑直接掉落,且后齿轮组借一凸面轮的推动,使横向滑座前移,使切削的齿痕加深至适当深度
  • 无通孔孔内齿专用
  • [发明专利]刻蚀方法-CN201310572277.7在审
  • 尹志尧;许颂临;倪图强 - 中微半导体设备(上海)有限公司
  • 2013-11-15 - 2015-05-20 - H01L21/768
  • 本发明涉及半导体技术领域,公开了一硅刻蚀方法,其中包括多次重复的制程循环步骤,所述制程循环步骤包括刻蚀步骤和侧壁沉积步骤,所述侧壁沉积步骤在各重复执行的制程循环步骤中,执行时间逐次减少。随着制程循环步骤的重复执行,刻蚀深度逐渐变深,制程循环步骤中侧壁沉积步骤的执行时间逐渐变短,通过调整重复执行的制程循环步骤中侧壁沉积步骤的执行时间,随着刻蚀深度的加深,改变刻蚀过程中刻蚀气体和沉积气体的入量
  • 硅通孔刻蚀方法
  • [发明专利]工艺方法-CN201310557105.2在审
  • 潘嘉;陈曦;周正良 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2013-11-11 - 2015-05-20 - H01L21/768
  • 本发明公开了一种硅工艺方法,与有源器件的工艺相集成,是在硅片上有源器件制作完成之后,先在硅片上淀积一层金属前介质;然后对硅区域进行刻蚀,然后形成氧化层及淀积钛和氮化钛,再淀积一层金属钨;回刻并再淀积第二层金属钨;进行接触刻蚀及金属互连工艺;背面减薄。该方法在不改变现有工艺方法和流程的基础上实现了硅工艺的集成,降低了器件的电阻和电感,提高了RF产品的性能。
  • 硅通孔工艺方法

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