专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]保护形成用化学溶液-CN201611028598.0有效
  • 斋藤真规;荒田忍;斋尾崇;公文创一;七井秀寿;赤松佳则 - 中央硝子株式会社
  • 2010-10-20 - 2020-09-08 - H01L21/02
  • 本发明涉及保护形成用化学溶液。本发明公开了一种晶片的拒水性保护形成用化学溶液,其特征在于,其为包含拒水性保护形成剂的化学溶液,所述拒水性保护形成剂用于在表面形成有微细的凹凸图案且该凹凸图案的至少凹部表面的一部分包含选自由氮化、钨、铝、铜、锡、氮化钽、钌以及硅组成的组中的至少1种物质的晶片的清洗时至少在前述凹部表面形成拒水性保护,该拒水性保护形成剂为非水溶性的表面活性剂。利用该化学溶液形成的拒水性保护可以防止清洗工序中的晶片的图案倾塌。
  • 保护膜形成化学溶液
  • [发明专利]半导体器件制造方法-CN99103425.2无效
  • 井上显 - 日本电气株式会社
  • 1999-03-30 - 1999-10-06 - H01L21/3205
  • 在硅衬底1的杂质扩散层9、10的表面上形成了一层钴12和一层作为防氧气的阻挡氮化13之后,在低于400℃的温度下进行第一热处理,形成一层Co2Si31。利用硫酸和过氧化氢的混合溶液将该氮化和未发生反应的钴清除掉,随后在700~900℃的温度范围内的一个温度下进行另一次热处理,形成一层CoSi2
  • 半导体器件制造方法
  • [发明专利]半导体器件及其制备方法-CN202210998250.3在审
  • 符云飞;刘宇恒 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-08-19 - 2022-11-11 - H01L21/28
  • 本公开实施例提供一种半导体器件的制备方法,其包括:提供衬底,所述衬底内具有浅沟槽隔离结构;在所述浅沟槽隔离结构中形成字线沟槽,所述字线沟槽侧壁设置有栅极绝缘层;形成氮化阻挡层,所述氮化阻挡层覆盖所述栅极绝缘层表面;沉积金属钼栅极,所述金属钼栅极选择性地沉积在所述氮化阻挡层上。所述制备方法利用所述金属钼栅极选择性沉积的性质,使得所述金属钼栅极仅沉积在所述氮化阻挡层上,而并不沉积在其他结构上,进而无需再采用额外的回刻蚀步骤,简化了制备工艺,降低了工艺难度,且金属钼栅极的电阻率比TIN/W的电阻率低,有利于降低栅极电阻,提高半导体器件的性能。
  • 半导体器件及其制备方法

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