专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体照明外延结构形成方法-CN202010154491.0有效
  • 孙蕾蕾 - 孙蕾蕾
  • 2020-03-07 - 2021-04-13 - H01L33/00
  • 本发明提供了一种半导体照明外延结构形成方法,包括提供一基板,依次在所述基板上形成半结晶性层、3D未掺杂层,形成3D未掺杂层后排出腔体内氮源,接着通入源且不通入氮源,通入源后通入氮源,通入氮源后形成N本发明在形成3D未掺杂层后将腔体内氮源排出,此时岛状结构表面没有气体保护,腔体内的高温对岛状结构顶部氮化进行烘烤并产生一相对粗糙表面,通入源后分解产生液态金属覆盖在粗糙表面上对缺陷位错进行填充并得到一相对平整表面,再通入氮源,氮源与液态金属表面接触形成氮化,晶格重新排序并阻断前面形成的位错缺陷,提高了晶体质量。
  • 半导体照明外延结构形成方法
  • [实用新型]一种p型增强型氮化芯片封装器件及装置-CN202320215882.8有效
  • 窦娟娟;李成 - 青岛聚能创芯微电子有限公司
  • 2023-02-14 - 2023-05-26 - H01L23/495
  • 本实用新型公开了一种p型增强型氮化芯片封装器件及装置,应用于氮化芯片封装领域,该器件中绝缘基板一侧与p型增强型氮化芯片的基底连接,对侧与TO引线框架中的基岛连接;p型增强型氮化芯片中的栅极焊盘与TO引线框架中的栅极引脚相连,p型增强型氮化芯片中的漏极焊盘与TO引线框架中的基岛相连,p型增强型氮化芯片中的源极焊盘与TO引线框架中的源极引脚相连;绝缘基板与p型增强型氮化芯片的基底相连的一侧与TO引线框架中的源极引脚相连,TO引线框架中的基岛与漏极引脚为一体,实现了与硅基器件相同的引脚定义,使得该p型增强型氮化芯片封装器件能够直接替换硅基器件使用,无需重新排布电路板。
  • 一种增强氮化芯片封装器件装置
  • [实用新型]含螺旋状环形电极的垂直结构LED芯片-CN201520620704.9有效
  • 胡晓龙;王洪;刘丽 - 华南理工大学
  • 2015-08-15 - 2016-01-06 - H01L33/38
  • 本实用新型在该衬底上利用外延沉积技术生长氮化外延层;在上述氮化外延层上沉积一反射电极层,然后沉积一电镀种子层;在上述电镀种子层上地涂覆一种非导电物质;在上述种子层上区域选择性地生长金属基板,形成第二衬底;利用激光剥离或湿法腐蚀技术使蓝宝石衬底与氮化外延层的分离,漏出N极性氮化;在N极性氮化表面制备复合微结构;干法选择刻蚀N极性氮化,刻蚀至n-GaN,并在n-GaN上制作n型电极本实用新型采用区域性电镀复合金属基板
  • 螺旋状环形电极垂直结构led芯片
  • [发明专利]氮化器件-CN202311156996.0在审
  • 文豪;庞振江;洪海敏;周芝梅;温雷;顾才鑫;廖刚 - 深圳智芯微电子科技有限公司;深圳市国电科技通信有限公司
  • 2023-09-06 - 2023-10-20 - H01L29/778
  • 本发明提供了氮化器件。该氮化器件包括:第一介质层设置在基板的一侧;第一钝化层设置在第一介质层远离基板的一侧,第一钝化层具有第一通孔;栅极填充在第一通孔中,多层第二钝化层均具有第二通孔,相邻两个第二通孔连通且在基板上的正投影有部分交叠区域,第二通孔与第一通孔连通,且在基板上的正投影与第一通孔在基板上的正投影有部分交叠区域;多层场板分别填充在第二通孔,以及设置在与第一钝化层距离最远的第二钝化层远离基板的表面上,与第一钝化层接触设置的第二钝化层中的第二通孔中填充的场板与栅极接触设置通过设置多层场板,可以降低氮化器件漏极附近的电场峰值,提高氮化器件的击穿电压。
  • 氮化器件
  • [发明专利]制造氮化物电子设备的方法-CN201180069623.9无效
  • 斋藤雄;冈田政也;木山诚 - 住友电气工业株式会社
  • 2011-04-05 - 2013-12-18 - H01L21/338
  • 在时刻t0将基板产物配置到生长炉后,将基板温度上升到摄氏950度。在基板温度充分稳定的时刻t3,将三甲基及氨提供到生长炉,生长i-GaN膜。在时刻t5,基板温度达到摄氏1080度。在基板温度充分稳定的时刻t6,将三甲基、三甲基铝及氨提供到生长炉,生长i-AlGaN膜。在时刻t7,停止三甲基及三甲基铝的供给并停止成膜后,迅速停止对生长炉提供氨及氢,并且开始氮的供给,在生长炉的炉膛中,将氨及氢的气氛变更为氮的气氛。形成了氮的气氛后,在时刻t8开始基板温度的降低。
  • 制造氮化物电子设备方法
  • [发明专利]垂直结构发光二极管的制造方法-CN200910156998.3有效
  • 田红涛 - 杭州士兰明芯科技有限公司
  • 2009-12-31 - 2010-07-07 - H01L33/00
  • 本发明提供了垂直结构发光二极管的制作方法,包括如下步骤:在氮化外延层上沉积接触、反光层金属;在基板上沉积金属焊料;将氮化外延层与基板键合;去除蓝宝石衬底;外延层表面粗化,露出外延层中的N型氮化;去除划片槽区域的氮化外延层;沉积钝化层保护膜;露出沉积电极窗口,腐蚀去除电极窗口下的钝化层,蒸镀与N型氮化接触的金属薄膜,然后使用剥离工艺制作N电极28;划片切割垂直结构发光二极管。
  • 垂直结构发光二极管制造方法

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