专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光学元件损伤所属表面的分类方法-CN201710317105.3有效
  • 陈凤东;刘国栋;魏富鹏;刘炳国;彭志涛;唐军 - 哈尔滨工业大学;中国工程物理研究院激光聚变研究中心
  • 2017-05-08 - 2021-02-02 - G06K9/62
  • 本发明提供一种自动区分入光面损伤或出光面损伤的光学元件损伤所属表面的分类方法,属于光学损伤分类领域。本发明具体为:选取光学元件;利用FODI系统采集光学元件真空隔离片的损伤在线图像,并在该光学元件真空隔离片通光口径范围内标记出所有的损伤点;对光学元件真空隔离片通光口径范围内的入光面与出光面逐一扫描,记录下损伤点位置与形态,作为离线数据;使用几何变换把离线数据匹配到采集的在线图像上,获得入光面与出光面损伤的训练样本集;建立分类模型,采用训练样本集训练分类模型,获取分类模型的最优参数;利用具有最优参数的分类模型对光学元件的损伤进行分类,确定为入光面损伤或出光面损伤。本发明用于FODI系统中损伤识别与分类。
  • 光学元件损伤所属表面分类方法
  • [发明专利]减少ICP刻蚀SiC表面损伤的方法-CN200610135226.8无效
  • 吴正云;吕英 - 厦门大学
  • 2006-11-09 - 2007-04-18 - H01L21/3065
  • 减少ICP刻蚀SiC表面损伤的方法,涉及一种碳化硅表面刻蚀,尤其是涉及一种采用感应耦合等离子体技术实现碳化硅材料刻蚀过程中一种减少ICP刻蚀SiC表面损伤的新方法。提供一种新的减少ICP刻蚀SiC表面损伤的方法。其步骤为在SiC表面上涂敷光刻胶,经曝光、显影、腐蚀形成光刻掩膜层;在保留有光刻胶图形的SiC样品表面溅射沉积金属膜层,去除光刻胶掩膜层及其上的金属层,保留与SiC表面紧密接触的金属图形;将保留金属图形的
  • 减少icp刻蚀sic表面损伤方法
  • [发明专利]一种腔镜夹钳与肠道组织之间摩擦损伤的检测方法和系统-CN202011627926.5在审
  • 王进;李炜;李文超 - 中原工学院
  • 2020-12-30 - 2021-05-28 - A61B1/313
  • 本发明公开了一种腔镜夹钳与肠道组织之间摩擦损伤的检测方法,包括:通过腔镜机器人获取腔镜夹钳与肠道组织之间摩擦损伤区域的实时图像;对实时图像中的表面摩擦损伤进行判断;其中,所述表面摩擦损伤包括:表面撕裂、表面出血和充血;对判断出的表面摩擦损伤分别进行标注、并按照损伤等级评分系统确定损伤等级。为了能够使系统能够自动识别并判断组织摩擦损伤的程度,本发明的检测方法能够在手术过程中辅助医生进行损伤区域摩擦损伤程度的识别和判断,从而对病人损伤部位进行更准确、及时的表面撕裂、表面出血和充血等表面微观摩擦损伤判断,确保手术过程的顺利进行、确保病人的损伤部位没有较为严重的病理性变化和表面微观损伤
  • 一种夹钳肠道组织之间摩擦损伤检测方法系统

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