专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种晶圆曝光前预对准高度调节的系统及其使用方法-CN202011154132.1有效
  • 郑华明;徐晓敏;黄俊 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2020-10-26 - 2023-04-07 - G03F9/00
  • 本发明提供一种晶圆曝光前预对准高度调节的系统及其使用方法,设有激光位移传感器的预对准温控平台;激光位移传感器用于接收来自报错单元的报错信号并量测预对准温控平台与晶圆间的间距,将量测的数据发送至位移控制单元;位移控制单元用于接收激光位移传感器量测的数据,并发出调整预对准温控平台高度的指令至马达驱动单元;马达驱动单元,用于接收位移控制单元发出的指令并驱动预对准温控平台下降,使卡盘上的晶圆不受预对准温控平台的阻力而正常旋转本发明通过在预对准温控平台上安装激光位移传感器,当卡盘旋转产生阻力时可自动修正预对准温控平台的高度,然后再自动做晶圆预对准动作,解决了晶圆由于晶背沾污原因造成的机台宕机和返工。
  • 一种曝光对准高度调节系统及其使用方法
  • [发明专利]一种自动对准装置及方法-CN201911202729.6有效
  • 徐娜;李光耀;周滔;靳丹宇 - 龙铁纵横(北京)轨道交通科技股份有限公司
  • 2019-11-29 - 2021-03-09 - B23P19/10
  • 本发明公开了一种自动对准装置,包括轴箱固定支撑挂架、拧紧轴固定转箱、轴箱伺服驱动电机,与所述轴箱固定支撑挂架相连接,可驱动所述拧紧轴固定转箱转动;拧紧轴轴箱实时摄像位置反馈模块,与所述轴箱固定支撑挂架相连接可拍摄置于所述滑轨下运动的轮对孔位图像;定位装置,与所述轴箱固定支撑挂架相连接;可采集所述轮对的位置信息,与拍摄的轮对孔位图像进行匹配,并控制轴箱伺服驱动电机动作,驱动所述拧紧轴固定转箱转动,实现拧紧轴固定转箱与轮对孔位的自动对准本发明还公开了一种自动对准方法。本发明的自动对准装置自动完成了对多个轮对的寻址和定位作业,实现了轮对拧紧自动化作业,节省了人力,提高了作业效率和精度。
  • 一种自动对准装置方法
  • [发明专利]一种调平及水平误差测试设备-CN201710580637.6有效
  • 郑涛;王林;马浩亮;刘敏;郭鹏飞;司高潞;凌强;鲍立国 - 北京航天控制仪器研究所
  • 2017-07-17 - 2020-05-08 - G01C15/00
  • 本发明是一种调平及水平误差测试设备,包括基座、花岗岩平板、调平瞄准装置、传动系统、电控箱,其中调平瞄准装置包括光电自准直仪、五棱镜、硅油盘、单轴激光对准器、支架,光电自准直仪用于平台调平误差的光学瞄准,五棱镜用于将光电自准直仪的测量光轴折转90°后对准平台基准六面体,硅油盘用于光电自准直仪的零位校正,单轴激光对准器用于自准直仪光轴的精确对准,支架用于光电自准直仪、五棱镜、硅油盘、单轴激光对准器的安装。本发明能实现光轴的自动对准,同时实现调平误差的自动测量,测试效率高,测试数据一致性好。
  • 一种水平误差测试设备
  • [实用新型]自动对准的U盘装置-CN201521111439.8有效
  • 周天驰;储善鹏;俞晓东;陈胜;谢辉 - 河海大学
  • 2015-12-29 - 2016-06-08 - G06K19/077
  • 本实用新型公开了一种自动对准的U盘装置,包括U盘和USB接口,USB接口与U盘的USB接头相互匹配,USB接头的尾端与U盘本体固定连接,U盘本体的外部套设有外壳,U盘本体与外壳之间安装有轴承,USB接头的前端具有第一磁铁,USB接头的前端具有第二磁铁,当USB接口与USB接头对准时,第一磁铁与第二磁铁相互吸引。本实用新型采用的磁性对准装置,可以在使用时自动对准,使用方便快捷。
  • 自动对准装置
  • [发明专利]对准标记的检测方法、对准方法及蒸镀方法-CN201710548743.6有效
  • 小林康信 - 佳能特机株式会社
  • 2017-07-07 - 2020-09-04 - C23C14/04
  • 本发明提供一种对准标记的检测方法、对准方法及蒸镀方法,在检测工序中不能检测对准标记的情况下,使设有对准标记的基体自动地移动,由此能够不使装置停止而再次尝试对准标记的检测。该对准标记的检测方法包括:用于使用光学机构而检测基体上的对准标记的第一检测工序;在所述第一检测工序之后,基于该第一检测工序的判定结果而使所述基体移动的第一移动工序;以及用于使用所述光学机构而再次检测所述对准标记的第二检测工序
  • 对准标记检测方法
  • [发明专利]用于自动化实验室系统的模块-CN202110596552.3在审
  • C·切鲁比尼;A·德雷克斯勒;R·许泽尔;I·海因策 - 豪夫迈·罗氏有限公司
  • 2021-05-28 - 2021-12-03 - G01N35/04
  • 本发明公开了一种用于自动化实验室系统(100)的模块(106)。所述模块(106)包括:模块连接件(120),所述模块连接件配置为可释放地连接到所述自动化实验室系统(100)的部件(106,108);检测器(146),所述检测器至少配置为检测位于所述部件(106,108所述位置数据指示所述模块(106)的实际位置;处理器(156),所述处理器配置为基于所述位置数据来计算所述模块(106)相对由所述部件(106,108)限定的目标位置的位置偏差,并且基于所述位置偏差来计算位置对准数据;以及对准装置(164),所述对准装置配置为基于所述位置对准数据将所述模块(106)对准所述目标位置。此外,本发明公开了一种自动化实验室系统(100)和一种用于对准模块(106)的方法。
  • 用于自动化实验室系统模块
  • [发明专利]光刻对位标记及其自适应设计方法、装置和对准方法-CN202210529078.7在审
  • 赖强;张萌佳;郭东升 - 联合微电子中心有限责任公司
  • 2022-05-16 - 2022-08-12 - G03F9/00
  • 本发明公开了一种光刻对位标记及其自适应设计方法、装置和对准方法,自适应设计方法包括:基于预设的版图设计规则以及工艺需求进行分析,得到分析结果,分析结果至少包括以下一种或多种:图形形状、图形尺寸和图形密度对准方法包括:在TSV层版图上放置两组光刻对位标记,两组光刻对位标记沿Y轴镜像,一组用于正照光刻层自动对准,另一组用于键合后的背照光刻层自动对准。本发明基于预设版图设计规则及工艺需求,对光刻对位标记的图形形状、图形尺寸和图形密度进行自适应设计,解决了对位标记与特殊工艺不兼容的问题,并利用该光刻对位标记实现TSV工艺全自动对准,提高图形分辨率、对准精度及产量
  • 光刻对位标记及其自适应设计方法装置对准

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