专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种商品的曝光排序方法和装置-CN201711089372.6有效
  • 李林杰;张保景 - 浙江执御信息技术有限公司
  • 2017-11-08 - 2020-12-01 - G06Q30/06
  • 本发明实施例公开了一种商品的曝光排序方法、装置和系统,其中方法包括:获取商品的当前曝光量,并将当前曝光量与阈值进行对比,将当前曝光量大于等于阈值的商品定为成熟商品,将当前曝光量小于阈值的商品定为成长期商品;根据商品的曝光情况,分别为成熟商品和成长期商品进行排序,获得成熟商品排序集合和成长期商品排序集合;将成熟商品排序集合和成长期商品排序集合进行整合获得最终商品排序集合。通过上述方案,在保证成熟商品正常展示的同时,留给成长期商品部分展示空间,使用户能够有更多选择新款商品的机会,使电商网络销售平台的整体商品交替处于正常稳定系统中。
  • 一种商品曝光排序方法装置
  • [发明专利]摄像装置及摄像方法-CN201980029993.6在审
  • 冈田雄介;德原健富;佐藤嘉晃;三宅康夫 - 松下知识产权经营株式会社
  • 2019-06-17 - 2020-12-11 - H04N5/369
  • 在1个帧中,第1间、第3间和第2间按照该第1间、第3间和第2间的顺序出现。在第1间中,进行像素阵列(PA)中的第1至少1个行的像素信号读出。在第2间中,进行像素阵列(PA)中的第2至少1个行的像素信号读出。第1至少1个行及第2至少1个行的至少一方包含像素阵列(PA)中的2个行。在第3间中,不进行像素阵列(PA)的任何行的像素信号读出。第1间及第2间是高灵敏度曝光期间及低灵敏度曝光期间中的一方。第3间是高灵敏度曝光期间及低灵敏度曝光期间中的另一方。
  • 摄像装置方法
  • [发明专利]摄像系统、摄像方法-CN201380001473.7有效
  • 矢部雄亮;高桥智也 - 奥林巴斯株式会社
  • 2013-03-27 - 2017-03-22 - H04N5/238
  • 一种摄像系统,进行卷帘式快门方式的摄像控制使得产生所有行曝光期间(Ta)和非所有行曝光期间(Tr),控制照明光的光源使得在第一调光模式下,将所有行曝光期间(Ta)中的第一间(T1)的照明光的光量维持为规定的水平,并且使由除第一间(T1)以外的所有行曝光期间(Ta)和非所有行曝光期间(Tr)构成的第二间(T2)中的照明光的光量与前一第二间(T2)相比有所增减(CI1、CI2)。
  • 摄像系统方法
  • [发明专利]确定剂量的方法、检查设备、图案形成装置、衬底以及器件制造方法-CN201580035773.6有效
  • A·弗玛;H·A·J·克拉默 - ASML荷兰有限公司
  • 2015-06-09 - 2018-10-19 - G03F7/20
  • 一种确定在衬底上光刻工艺中使用的光刻设备的曝光剂量的方法,方法包括步骤:(a)接收包括使用光刻工艺制造的第一结构和第二结构的衬底;(b)当采用辐射照射第一结构时,检测被散射的辐射以获得第一散射仪信号;(c)当采用辐射照射第二结构时,检测被散射的辐射以获得第二散射仪信号;(d)使用第一散射仪信号和第二散射仪信号以确定用于制造第一结构和第二结构的曝光剂量值,其中第一结构包括具有空间特性的第一周性特性和具有空间特性的至少另一第二周性特性,空间特性被设计为受曝光剂量影响,以及第二结构包括具有空间特性的第一周性特性和具有空间特性的至少另一第二周性特性,空间特性被设计为受曝光剂量影响,其中曝光剂量以不同方式影响第一结构和第二结构的受曝光剂量影响的空间特性
  • 确定剂量方法检查设备图案形成装置衬底以及器件制造
  • [发明专利]检测装置-CN202180053360.6在审
  • 池田匡孝 - 株式会社日本显示器
  • 2021-08-18 - 2023-04-25 - H04N25/78
  • 检测装置具有将光电变换元件连接在第1晶体管的栅极电极上的像素;具有将第1晶体管的栅极电极复位的复位期间、将光电变换元件曝光曝光期间和将伴随着光电变换元件的曝光的电压读出的读出期间;在复位期间中,在对第1晶体管的栅极电极供给复位电压的第1间中将第1电压读出,在对第1晶体管的栅极电极停止复位电压的供给后的第2间中将第2电压读出,在作为曝光期间的第3间之后作为上述读出期间的第4间中将第3电压读出;
  • 检测装置

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