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[发明专利]功率器件的失效分析方法-CN202010210630.7在审
发明人：芮志贤 -专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2020-03-24 - 公布日： 2020-07-03 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本申请公开了一种功率器件的失效分析方法，包括：去除集成有功率器件的晶圆的正面的第一金属层；通过失效点定位机台对正面失效区域进行定位后，对正面失效区域进行标记，得到正面失效标记；通过失效点定位机台在背面查找到正面失效标记，对背面失效区域进行定位，背面失效区域是正面失效区域在背面的对应区域；通过失效点定位机台对背面失效区域进行标记，得到背面失效标记；根据背面失效标记对背面失效区域进行失效分析。本申请实现了对晶圆的背面进行失效分析，提高了失效分析的准确度。
功率器件失效分析方法

[发明专利]基于感知失效的数据补偿方法以及装置-CN202310266280.X在审
发明人：杨少鹏;冯亚闯;蔡思佳;邓兵 -专利权人：阿里云计算有限公司
申请日： 2023-03-13 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： H04W4/44 文献下载
摘要：本说明书实施例提供基于感知失效的数据补偿方法以及装置，其中基于感知失效的数据补偿方法包括：获取多个对象的对象信息，并根据各对象的对象信息预测各对象对应的遮挡区域；遍历遮挡区域，在遮挡区域与指定关注区域存在交集的情况下，基于指定关注区域，确定感知失效区域和感知失效时间区间；根据感知失效区域和感知失效时间区间，从各对象中确定感知失效对象；获取感知失效对象对应的待处理运动预测数据，并根据待处理运动预测数据生成感知失效补偿数据通过对获取的多个对象的对象信息进行处理，确定出感知失效时间区间与感知失效区域，进而确定出感知失效对象，并对感知失效对象进行数据补偿，实现对感知失效的检测、预警及数据补偿。
基于感知失效数据补偿方法以及装置

[发明专利]一种构建软件失效区域模式的方法及系统-CN201811525574.5在审
发明人：黄如兵;孙伟峰;陈宗岳;陈锦富 -专利权人：江苏大学;斯威本科技大学
申请日： 2018-12-13 - 公布日： 2019-06-21 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种构建软件失效区域模式的方法及系统，实现对程序错误的定位，提高软件测试技术性能，包括：步骤1，根据软件系统的输入域，采用高效的ART算法群，获取软件中存在的第一个失效点，即能够使程序异常输出的输入；步骤2，根据第一个失效点，在有限的测试资源下，陆续获得其他的失效区域点；步骤3，利用之前已存在的失效点集合，获得更多的失效区域信息，用于构建失效区域模式。步骤4，采用多维凸包算法，针对步骤2或者步骤3获得的失效点集合，确定失效区域的面积，采用线性规划的方法，确定失效区域的范围，明确失效区域的类型，生成失效区域信息文件。本发明在软件测试中节省成本，填补了获取软件失效区域领域的空白。
失效区域失效点构建算法集合软件测试技术测试资源程序异常软件测试软件系统线性规划信息文件输入域多维凸包输出填补

[发明专利]一种控制显示屏显示的方法和装置及一种触摸屏-CN201810438726.1有效
发明人：李全战 -专利权人：上海歌尔泰克机器人有限公司
申请日： 2018-05-09 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：所述方法包括：检测显示屏的显示区域是否存在失效点；在检测到显示区域存在失效点时，根据所述失效点确定显示屏的失效区域；根据所述失效区域确定所述显示屏的有效区域；将待显示的内容显示在所述有效区域。本发明实现了显示屏的屏幕部分失效后，还可以重新利用屏幕的有效区域正常工作。
一种控制显示屏显示方法装置触摸屏

[发明专利]兴趣点失效确定方法、装置、设备和介质-CN202010182736.0在审
发明人：翟启亮;梁隆恺 -专利权人：百度在线网络技术（北京）有限公司
申请日： 2020-03-16 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： H04W4/021 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种兴趣点失效确定方法、装置、设备和介质，涉及电子地图技术，其中，该方法包括：分别确定地理区域在当前时间周期内的当前无线局域网信息，和地理区域在历史时间周期内的历史无线局域网信息；根据当前无线局域网信息与历史无线局域网信息之间的变化，确定地理区域是否为失效区域；如果地理区域为失效区域，则确定失效区域内的失效兴趣点。本申请实施例可以实现高效与低成本地确定兴趣点的失效区域，提高失效兴趣点的确定效率，进而准确维护电子地图中的兴趣点状态。
兴趣失效确定方法装置设备介质

[发明专利]半导体器件失效分析方法、装置、设备及存储介质-CN202010826866.3在审
发明人：蔡小龙 -专利权人：中兴通讯股份有限公司;西安电子科技大学
申请日： 2020-08-17 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明实施例提供的半导体器件失效分析方法、装置、设备及存储介质，通过物理检测获取正常半导体器件的目标检测参数，目标检测参数包括正常半导体器件对应失效半导体器件上的失效点区域的检测参数，其包括失效点区域的表面检测参数、失效点区域的元素浓度检测参数、失效点区域的剖面检测参数；然后将获取到的目标检测参数作为预设仿真算法的输入参数输入，通过预设仿真算法结合预测失效结果，从而得到失效半导体器件的失效原因。也即本发明实施例实现了对失效半导体器件失效原因的逆向分析，以真实的失效半导体器件作为直接的分析对象，分析结果为全面、准确。
半导体器件失效分析方法装置设备存储介质

[实用新型]一种具有透光图案的电容式按键-CN201420475458.8有效
发明人：孙楹煌;郑清交;吕岳敏;杨烨;张高明;林德志;杨柳根 -专利权人：汕头超声显示器技术有限公司
申请日： 2014-08-22 - 公布日： 2015-01-28 - 主分类号： H03K17/975 文献下载
摘要：一种具有透光图案的电容式按键，包括透明基板、图案层、感应电极层和多个跳线连接结构，图案层上设有镂空图案，感应电极层包括相互交错的第一电极块和第二电极块，第一电极块和第二电极块均被镂空图案分隔为稳定区域和至少一个易失效区域，第一电极块的各个易失效区域均通过跳线连接结构与稳定区域连接，第二电极块的各个易失效区域均通过跳线连接结构与稳定区域连接。由于第一电极块、第二电极块的各个易失效区域均通过跳线连接结构与稳定区域连接，因此，无论第一电极块、第二电极块是否会在镂空图案边缘的台阶发生断线，易失效区域总是与稳定区域连接在一起，避免易失效区域处按键发生失效
一种具有透光图案电容按键

[发明专利]于失效分析中观察失效区域的样品制作方法-CN202011341189.2在审
发明人：林倖妍;邓雅心;唐忠毅 -专利权人：华星光通科技股份有限公司
申请日： 2020-11-25 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开一种于失效分析中观察失效区域的样品制作方法，包括以下步骤，首先，提供一芯片，将进行失效分析。其次，在该芯片周围点上保护胶固定在一小基板上，使该芯片在研磨时不会造成破损。最后，灌入卸取胶使该芯片能固定在一承载基板上，且在进行失效分析中在判断出失效区域后能将该芯片卸取进而确认其失效原由。本发明方法能制作于失效分析中观察失效区域的样品，以便对于特定失效区域进行后续芯片结构及失效原由确认。
失效分析观察区域样品制作方法

[发明专利]存储器失效点的定位方法-CN201911393029.X有效
发明人：徐静;王君易;刘慧丽;卜丽丽 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2019-12-30 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明提供一种存储器失效点的定位方法，其包括如下步骤：初步定位失效点，获得失效点的初始位置；将失效点的初始位置所在区域标定为目标区域；去除所述目标区域表面的金属层；再次定位失效点，获得失效点的最终位置。本发明存储器失效点的定位方法简单易行，且大大提高了失效点的定位准确度。
存储器失效定位方法

[发明专利]一种失效分析定位方法-CN201810619924.8在审
发明人：翁浚婧;黄楚楚;李金;纪晓娜 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2018-06-14 - 公布日： 2018-11-30 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明公开了一种失效分析定位方法，其属于半导体领域的技术，包括：步骤S1，预先在所述重复性结构区域设置一目标区域；步骤S2，以所述目标区域为中心在所述被测芯片表面设置一点阵图形，所述点阵图形中的组成点的面积和所述组成点与所述目标区域之间的距离成正相关；步骤S3，对所述目标区域进行失效分析以定位所述目标区域中的失效点，在进行所述失效分析之前根据所述点阵图形定位所述目标区域。该技术方案的有益效果是：本发明能够减少抓取失效点的时间，以便快速的进行失效分析，提高了失效分析的效率，实现了对芯片上的重复性结构区域中的失效点的快速定位与分析。
目标区域失效分析点阵图形失效点重复性结构抓取半导体领域被测芯片表面设置快速定位区域设置面积和正相关芯片分析

[发明专利]芯片逻辑地址到物理地址的转换方法和装置-CN201410425355.5在审
发明人：黄红伟;刘抒;金小英;夏兰;廖炳隆 -专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2014-08-26 - 公布日： 2014-11-19 - 主分类号： G06F12/10 文献下载
摘要：一种芯片逻辑地址到物理地址的转换方法和装置，其中，方法包括：在芯片上选取失效区域；破坏失效区域；检测失效区域，获取失效区域中失效位存储单元的逻辑地址；根据预设的逻辑地址到物理地址的转换关系，得到失效位存储单元的逻辑地址对应的理论物理地址；对芯片作物理失效分析，将失效位存储单元的理论物理地址与失效区域的实际位置进行比较，得到理论物理地址到实际位置的偏移值；根据偏移值，得到芯片的逻辑地址到物理地址的转换关系。
芯片逻辑地址物理地址转换方法装置

[发明专利]一种基于芯片针脚测试的失效分析方法和装置-CN202310629365.X在审
发明人：林健 -专利权人：成都海光微电子技术有限公司
申请日： 2023-05-30 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于芯片针脚测试的失效分析方法和装置。该方法包括：获取晶圆测试阶段的芯片针脚测试数据，从针脚测试数据中确定芯片中每个凸点的失效数量；根据失效数量从芯片中的凸点中选择风险凸点，并统计风险凸点的坐标位置，根据坐标位置确定芯片的风险区域；导入失效芯片的失效日志，解析失效日志得到原始失效路径集合，并从原始失效路径集合中过滤得到与风险区域相对应的失效数据点；利用电性失效分析工具对失效数据点进行失效分析和验证。本发明的技术方案利用芯片针脚测试数据来定义和评估风险区域，将风险区域信息反馈给电性失效分析工具，缩小了失效数据分析和验证范围，加快了分析速度，提升了准确性。
一种基于芯片针脚测试失效分析方法装置

[发明专利]一种晶圆失效的分析方法及系统-CN202011419830.X有效
发明人：祖文秀;徐东东 -专利权人：晶芯成（北京）科技有限公司
申请日： 2020-12-08 - 公布日： 2021-05-14 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆失效的分析方法及系统，所述晶圆失效的分析方法包括：分析芯片良率数据，获取所述晶圆的失效区域；分析每个所述晶圆上所述失效区域的失效情况，获取每个所述晶圆的晶圆区域良率；实现所述芯片良率数据、所述线上测试数据和所述电性测试数据坐标的统一；在坐标统一的情况下获得选定区域中每个失效区块的权重；根据所述权重获取每个所述线上测试数据和所述电性测试数据的区域测量值；将所述区域测量值与所述晶圆区域良率做相关性分析，获取所述晶圆的所述失效区块的影响因素。通过本发明提供的一种晶圆失效的分析方法及系统，可提高分析结果的准确性。
一种失效分析方法系统

[发明专利]存储器芯片的失效分析方法-CN201910972844.5有效
发明人：李辉 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2019-10-14 - 公布日： 2021-04-13 - 主分类号： G11C29/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种存储器芯片的失效分析方法，包括：确定失效点所在的热点区域；确认存在漏电的字线；对所述存在漏电的字线施加偏压，同时观察位于所述热点区域内的位线的电压衬度，直至寻找到所述热点区域内出现异常电压衬度的失效位线；对所述失效位线进行失效分析。上述方法能够提高失效分析效率。
存储器芯片失效分析方法

[发明专利]失效位元的修补方法及装置-CN202010833678.3有效
发明人：陈予郎 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-08-18 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G11C29/44 文献下载
摘要：本公开是关于一种失效位元的修补方法及装置，涉及集成电路技术领域，可以应用于对芯片中的失效位元进行修补的场景。该方法包括：确定待修补芯片中包括多个目标修补区域的待修补区域；采用备用电路对各目标修补区域中的第一失效位元进行第一修补处理；执行第二失效位元的位置确定步骤以确定第二失效位元的位元位置，并对第二失效位元进行第二修补处理；确定各目标修补区域的未修补失效位元，并递归执行第二失效位元的位置确定步骤以得到未修补失效位元的测试修补位置，以根据测试修补位置对未修补失效位元进行第三修补处理。本公开提出最佳化备用电路分派的三个不同阶段的失效位元修补处理方案，可以得到针对芯片中失效位元的最佳修补方案。
失效位元修补方法装置

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