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[发明专利]电子束曝光掩模、曝光方法和设备及半导体器件制造方法-CN00123809.4无效
发明人：宫坂满美 -专利权人：恩益禧电子股份有限公司
申请日： 2000-08-18 - 公布日： 2004-08-04 - 主分类号： H01L21/027 文献下载
摘要：补偿掩模包括一个或多个无缺陷第二限定掩模，每个第二限定掩模具有按所述第一限定掩模中有缺陷的掩模形成的图形构形。在利用该电子束曝光掩模进行曝光时，只要第一限定掩模没有缺陷，则使用第一限定掩模，在第一限定掩模有缺陷时，使用对应于第一限定掩模的第二限定掩模。
电子束曝光方法设备半导体器件制造

[发明专利]轧辊表面探伤检测方法-CN200710019422.3无效
发明人：杨明峰;刘建军;林春 -专利权人：宝钢集团常州轧辊制造公司
申请日： 2007-01-23 - 公布日： 2008-07-30 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种轧辊表面探伤检测方法，具有以下步骤：①对轧辊表面进行快速大面积的涡流探伤检测，从而检测出具有缺陷信号的区域；②对步骤①中具有缺陷信号的区域进行二次探伤检测，从而检测出具体缺陷。所述二次探伤检测是指对具有缺陷信号的区域进行表面超声波探伤检测，对缺陷信号进行甄别，并对缺陷位置进行精确定位；再对具有真缺陷信号的区域进行磁粉和/或渗透探伤检测，检测出具体缺陷。
轧辊表面探伤检测方法

[发明专利]一种使用神经网络鉴别商品真伪的方法-CN202011318059.7在审
发明人：何嘉麒 -专利权人：广州创品知识产权服务有限公司
申请日： 2020-11-23 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：本发明的目的是通过使用多重神经网络辨识不同的正品产品在生产过程中因外力因素导致的非人为制造的生产缺陷，最终使用合议算法，协助用户对当前产品进行鉴别的使用神经网络鉴别商品真伪的方法。本发明针对现有商品真伪识别的效率和准确度问题，提取图片内实物图像的灰度图像的边缘信息和深度信息，利用多重神经网络定位产品生产过程中造成的非人为造成的固有缺陷，实现在复杂环境中对图像中的实物面的真实缺陷的高速和高精度识别
一种使用神经网络鉴别商品真伪方法

[发明专利]高稳定缺陷态铈锆双金属氧化物催化剂、制备方法及其的应用-CN202110332759.X有效
发明人：李路;王光明 -专利权人：吉林大学
申请日： 2021-03-29 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： B01J23/10 文献下载
摘要：一种高稳定缺陷态铈锆双金属氧化物催化剂、制备方法及其在光驱动甲烷分子脱氢偶联反应中的应用，属于甲烷脱氢偶联技术领域。本发明利用还原性金属粉体在氢气氛围下处理铈锆双金属氧化物，通过铈锆双金属氧化物和还原性金属粉体比例的调控，可以得到强碱性阴离子缺陷态铈锆双金属氧化物催化剂。固有缺陷及可调控强碱性位点的存在，可以使该铈锆双金属氧化物有效吸附弱化甲烷分子中的C‑H键，实现室温下光驱动甲烷分子的高效脱氢偶联。本发明催化剂光驱动甲烷活化，高效节能，绿色环保，原子利用率高。
稳定缺陷态铈锆双金属氧化物催化剂制备方法及其应用

[发明专利]一种基于ANSYS的盆式绝缘子缺陷模态分析方法-CN201910409126.7有效
发明人：赵彦平;王克胜;张慧军;段星辉;杜娟 -专利权人：国网山西省电力公司检修分公司
申请日： 2019-05-16 - 公布日： 2022-10-14 - 主分类号： G06F30/23 文献下载
摘要：一种基于ANSYS的盆式绝缘子缺陷模态分析方法，属于电力系统技术领域，它包括（1）对GIS盆式绝缘子进行三维建模，得到绝缘子的三维模型；（2）建立盆式绝缘子的有限元模型；（3）对盆式绝缘子进行模态分析；（4）在上述模态分析过程中对盆式绝缘子施加载荷，得到有一定压力情况下盆式绝缘子的模态分析结果和前10阶固有频率；（5）对不同情况下的完好的盆式绝缘子和含有缺陷的盆式绝缘子的频率进行对比分析，发现规律，进而实现对盆式绝缘子的模态分析方法本发明能够提早发现GIS内部可能存在的缺陷，为设备检修提供初期判断，降低设备的维护数量和维修费用提供了有力的保障。
一种基于 ansys 绝缘子缺陷分析方法

[实用新型]一种实体手柄一次性高速涡轮牙钻-CN200720090468.X无效
发明人：李晓平;张健 -专利权人：李晓平;张健
申请日： 2007-05-25 - 公布日： 2007-11-14 - 主分类号： A61C1/08 文献下载
摘要：本实用新型的目的，是解决现有技术的一次性牙钻手机存在的手柄是空管，管内设置的各种细管是耐高压材料成本高，增加整机成本的缺陷，以及高压气流和水流不稳定时就产生振动，容易引起各种细管脱落的固有缺陷，提供一种整体结构简单克服了现有技术空管手柄的缺陷。
一种实体手柄一次性高速涡轮牙钻

[发明专利]一种抑端固有时间尺度分解的管道缺陷识别方法-CN201711397846.3有效
发明人：王新华;齐立夫;陈迎春;张涛;句海洋;赵以振;潘庆丰 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2017-12-21 - 公布日： 2021-06-25 - 主分类号： G01N27/83 文献下载
摘要：本发明公开了一种抑端固有时间尺度分解的管道缺陷识别方法，针对固有时间尺度分解容易产生端点效应的问题采用对称延拓来处理极值序列，处理完的极值序列采用固有时间尺度分解来获得固有旋转分量。将原始信号减去端点延拓处理获得的固有旋转分量获得新的极值序列，重复以上步骤得到一系列固有旋转分量和一个单调趋势项，引入端点效应评价指标θ来定量分析端点效应，结合峭度判定选取重组管道量磁信号的固有旋转分量和单调趋势项对重组的量磁信号和固有旋转分量进行包络处理，对包络信号进行梯度处理并求取管道变形指标，将重组的量磁信号和固有旋转分量进行频谱分析，通过分析梯度异常信号和频谱分析结果来判定管道缺陷。
一种固有时间尺度分解管道缺陷识别方法

[发明专利]存储电路以及其中所使用的备份电路-CN95106055.4无效
发明人：罗伯特J·普罗斯汀 -专利权人：黑内克斯半导体公司
申请日： 1995-05-30 - 公布日： 2004-01-28 - 主分类号： G11C11/34 文献下载
摘要：一种用于存储电路的备份方法，它不需要对有缺陷的元件进行实际断开或逻辑上的不选择。本发明不需要阻塞有缺陷的元件，并允许它运行和产生坏数据。该电路得到适当的设计，从而使备份元件能够压过有缺陷的元件。
存储电路以及其中使用备份

[发明专利]一种无缝钢管加工工艺-CN201710959741.6在审
发明人：史鹏;芮建民;孔林方;杨俊华;蒋玉富;史小平;周志军 -专利权人：江苏鹏程钢结构有限公司
申请日： 2017-10-16 - 公布日： 2017-12-22 - 主分类号： B21C37/06 文献下载
摘要：本发明涉及一种无缝钢管加工工艺，包括以下步骤管坯验收、下料前检测、在管坯上具有缺陷的位置处做出标记、剪断、加热、穿孔、打头、酸洗、水洗、磷化、冷轧、退火、矫直、切头尾、无损探伤。本发明具有以下有益效果在下料前，先对管坯进行下料前检测，通过无损探伤等手段将管坯中比较明显的缺陷探测出来，并在该具有缺陷的位置处做上标记，在对管坯进行剪断时，将该有标记的位置处切除并废弃，因此接下来投入生产的管坯基本都是没有缺陷的，使最终的成品的良品率得到的提升，减少了报废率，同时由于这部分有缺陷的管坯在生产的时候不会被投入产线，防止占用生产资源，因此提高了生产效率。
一种无缝钢管加工工艺

[发明专利]相控阵探头扫查轨迹自纠偏系统及方法-CN202110139025.X有效
发明人：赵小辉;王浩;刘宇;蔡宇;徐龙哲;蒋豪;杨彬 -专利权人：吉林大学
申请日： 2021-02-01 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G01N29/06 文献下载
摘要：相控阵超声无损检测扇形扫描信息中缺陷图像与实际缺陷一一对应，扇形扫描中缺陷图像能够准确反映实际缺陷的深度、大小、位置等信息，带垫板对接焊缝根部两侧固有的未焊透缺陷在相控阵探头沿着焊缝扫查时会产生连续固有回波，在扇形扫描图像上出现连续的位置相对固定的未焊透缺陷检测图像，通过建立的扇形扫描图像缺陷自动识别理论与算法达到焊缝根部两侧固有未焊透缺陷自主识别与跟踪，定位焊缝中心的横向坐标，求取相控阵探头扫查示教轨迹与理论轨迹的横向偏差并传输六轴机器人系统实时消除
相控阵探头轨迹纠偏系统方法

[发明专利]一种针对APP软件缺陷的用户评论挖掘方法-CN201811572514.9有效
发明人：姜瑛;段文静;李凌宇;丁家满;汪海涛 -专利权人：昆明理工大学
申请日： 2018-12-21 - 公布日： 2022-10-28 - 主分类号： G06F40/289 文献下载
摘要：本发明公开了一种针对APP软件缺陷的用户评论挖掘方法，本发明方法为：Step1、提取出与APP软件简介相关及不相关的用户评论；Step2、将与APP软件简介相关的含有缺陷的用户评论归类为功能性缺陷用户评论；Step3、将与APP软件简介不相关的含有缺陷的用户评论进行分类：如果与APP软件简介不相关的用户评论含有缺陷特征词集合中元素，则依据该元素对应的缺陷类型对用户评论进行分类；否则标记为其他缺陷类。本发明有助于从大量的APP软件用户评论中挖掘出含有APP软件缺陷的用户评论，有助于分析用户在使用APP软件时发现的软件缺陷及其类别。
一种针对 app 软件缺陷用户评论挖掘方法

[发明专利]膜式或带式印制电路板的自动光学检测系统及处理方法-CN200510059345.5无效
发明人：崔铉镐 -专利权人： AJU高技术公司
申请日： 2005-03-29 - 公布日： 2005-10-05 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：该自动光学检测系统通过比较图像数据与照明系统的第一参考值来确定电路图案是否有缺陷，该图像数据是从用于印制电路板的透射/反射光获得的。在实践中，通过第一和第二参考值，已被确定为具有缺陷的PCB单元再次被确定为图案缺陷或是由杂质造成的缺陷。因此，纠正性地将过度检测了的、曾由于杂质而被视为具有缺陷但实际上并没有缺陷的PCB单元确定为优质产品，从而防止了过度检测，并因而提高了检测过程的效率和生产率。
印制电路板自动光学检测系统处理方法

[发明专利]信息处理装置、信息处理方法、信息处理程序、学习方法以及已学习模型-CN201980077404.1在审
发明人：猿渡健;冈本悟史 -专利权人：株式会社斯库林集团
申请日： 2019-11-08 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：该信息处理装置是使用没有缺陷的检查对象物的图像数据的集合来检测出有缺陷的检查对象物的装置。本装置具备图像复原部、判定部以及输出部。图像复原部从检查图像的一部分被隐藏的图像数据(Ih)，生成复原了被隐藏的一部分的复原图像(Ir)，检查图像是对不确定有无缺陷的检查对象物进行拍摄而得的图像。判定部通过将复原图像(Ir)与检查图像进行比较，来判定有无缺陷。输出部输出判定结果。另外，图像复原部通过深度学习完成学习，以便能够从多个学习图像各自的一部分被隐藏的图像数据，高精度地生成复原了被隐藏的一部分的复原图像(Ir)，学习图像是对没有缺陷的检查对象物进行拍摄而得的图像。由此，能够使用能够容易地获取多个没有缺陷的检查对象物的图像作为学习用数据，进行用于检测出有缺陷的检查对象物的机器学习。
信息处理装置方法程序学习方法以及学习模型

[发明专利]用于堆叠存储器中的裸片替换的设备及方法-CN202180026065.1在审
发明人： S·E·史密斯 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2021-03-29 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： G11C29/00 文献下载
摘要：在一些实例中，裸片可确定其是否是有缺陷的及提供致使有缺陷的裸片被停用且备用裸片被启用的信号。在一些实例中，所述存储器外部的例如存储器控制器的组件可确定裸片是有缺陷的及提供致使所述有缺陷的裸片被停用且备用裸片被启用的信号。在一些实例中，裸片可由熔丝/反熔丝启用或停用。
用于堆叠存储器中的替换设备方法

[发明专利]具有冗余电路的半导体存储装置-CN98100993.X无效
发明人：中沢茂行 -专利权人：日本电气株式会社
申请日： 1998-03-31 - 公布日： 1998-11-04 - 主分类号： G11C29/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种凭借冗余位线提高了有缺陷位线的补救效率的半导体存储装置。向一列冗余译码器不仅提供一Y地址而且还提供一X地址的一部分。当把一对应于一有缺陷位线的Y地址提供给列冗余译码器时,该列译码器产生一个检测信号。在这种情况下,如果X地址的一部分指示一个存在有缺陷位线的区则利用一冗余位线进行替换,如果它指示一个不存在有缺陷位线的区则不进行利用冗余位线的替换。
具有冗余电路半导体存储装置

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