专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]复合透镜板-CN200910162288.1有效
  • 李昱钦;黄博亮 - 光林电子股份有限公司
  • 2009-07-31 - 2011-03-23 - F21V5/04
  • 一种复合透镜板应用于发光灯具。发光灯具具有多个发光。复合透镜板包括多个屈光组件。每一屈光组件是以一对一关系对应发光并导引对应的发光所发出的光线;每一屈光组件均具有屈光特性。此些屈光组件依其屈光特性被区分为至少种透镜。同一种透镜的屈光特性实质上相同,同一种透镜的屈光特性相异于另一种透镜的屈光特性
  • 复合透镜
  • [发明专利]混色LED组件及其制造方法-CN201780069430.0有效
  • 海因里希·戈特洛布;弗兰兹·瑞特梅尔 - 威世半导体有限公司
  • 2017-11-02 - 2021-10-08 - H05B45/20
  • 一种混色LED组件,其具有载体和至少三个发光,该发光设置在载体上并配置成以相互不同的颜色发光,从而一起产生对应于加色混合的输出辐射,其中,每个发光具有单独的发射特性。LED组件还具有用于每个发光的相应的驱动器输入,用以向发光供电,其中,发光的发射特性取决于相应的电能供给,这样,通过改变驱动器输入的相应能量供给,能够设置输出辐射的颜色混合。LED组件更具有校准信息元件,其包括用于每个发光的至少一个可读校准值,该可读校准值表示相应的发光的各自发射特性
  • 混色led组件及其制造方法
  • [实用新型]发光的温度特性测量系统-CN200720189804.6无效
  • 翁思渊 - 亿光电子工业股份有限公司
  • 2007-09-28 - 2008-11-05 - G01R31/00
  • 一种发光的温度特性测量系统,用于测量发光的温度特性,其包括环境控制装置、流体介质、温度控制装置及光学测量装置。所述发光设置于环境控制装置的容置空间中,所述流体介质填充于环境控制装置的容置空间中,所述温度控制装置用于控制容置空间内的温度,光学测量装置用于测量发光的光学特性。本实用新型可用以测量环境温度对于发光的光学特性的影响,并可确保在环境温度变化时的测量准确度。
  • 发光二极管温度特性测量系统
  • [实用新型]一种的检测电路-CN201721176330.1有效
  • 李刚;王士龙 - 东莞讯滔电子有限公司
  • 2017-09-13 - 2018-05-11 - G01R31/26
  • 本实用新型公开了一种检测电路,该检测电路包括至少一个检测端、正向特性测试模块、反向特性测试模块、第一开关模块、以及处理器,通过将待测的电连接于检测端,由处理器发出第一控制信号,控制第一开关模块选择正向特性测试模块或反向特性测试模块,对待测的正向导通电源或反向导通电压进行检测,并将检测结果输入处理器,以供处理器进行分析。本实用新型实施例提供的检测电路能够分别对待测的正向导通电源和反向导通电压进行检测,从而减少了测试流程,增加了测试速度,提高了测试效率,能够达到电子元器件高效生产与检测。
  • 一种二极管检测电路
  • [实用新型]导体电阻随湿度变化特性演示教学板-CN201220291722.3有效
  • 万荣智 - 万荣智
  • 2012-06-20 - 2013-01-30 - G09B23/18
  • 本实用新型提供了一种导体电阻随湿度变化特性演示教学板,包括木板、设置在木板上的24V电源、A、电流表A、220V电灯、D、开关K1、B、K2、220V电源插座、C;A的集电极与24V电源连接,发射与电流表连接,电流表与220V电灯连接,220V电灯连接D的集电极,D的发射接K1,K1接24V电源的负极;所述B的发射接电流表,集电极接K2,K2接交流插座的一,交流插座的另一C的集电极,C的发射D的集电极。本实用新型将抽象难懂的导体电阻随湿度变化特性演示现给学生,使得复杂难懂的物理概念变得生动形象,直观。
  • 导体电阻湿度变化特性演示教学
  • [发明专利]雪崩光电仿真电路及仿真模型-CN202210577530.7有效
  • 邢婉婉;胡安琪;刘巧莉;郭霞;周幸叶 - 北京邮电大学
  • 2022-05-25 - 2023-08-11 - G05B17/02
  • 本申请提供一种雪崩光电仿真电路及仿真模型,该仿真电路包括:输入单元、雪崩触发压控开关、提供雪崩光电击穿电压的电压源及第一电阻;输入单元包括光子入射单元、暗计数单元及后脉冲单元,输入单元输出端连接雪崩触发压控开关正极控制端;暗计数单元输入端与雪崩光电阳极、雪崩光电阴极连接;后脉冲单元输入端与雪崩光电阳极、雪崩光电阴极连接;电压源与雪崩光电阴极、第一电阻输入端连接;雪崩触发压控开关输入端与第一电阻输出端连接,其输出端连接雪崩光电阳极,负极控制端接地。本申请仿真电路能够模拟雪崩光电的光子、暗计数及后脉冲特性,提高了模拟雪崩光电特性的准确率。
  • 雪崩光电二极管仿真电路模型
  • [实用新型]半导体结温测试装置-CN201720809530.X有效
  • 景昌忠;杨毓敏;吴云云;陈斌;刘宁;王欢;王晶;王毅 - 扬州扬杰电子科技股份有限公司
  • 2017-07-06 - 2018-05-08 - G01R31/26
  • 提供了一种能够直接测得半导体结温,测得结温误差小,能真实反映半导体的真实性能的半导体结温测试装置及其测试方法。包括安置位和恒流源,所述安置位连接恒流源,还包括半导体特性测试仪,所述半导体特性测试仪并联于安置位的两端,所述安置位上设有。所述安置位包括绝缘的基座,在所述基座上设有一对卡位,的接线端卡合在所述卡位上;本实用新型具有能够直接测得半导体结温,测得结温误差小,能真实反映半导体的真实性能的优点。
  • 半导体测试装置

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