[发明专利]一种高稳定性氧化物TFT结构在审
申请号: | 202211082829.1 | 申请日: | 2022-09-06 |
公开(公告)号: | CN115360242A | 公开(公告)日: | 2022-11-18 |
发明(设计)人: | 陈宇怀 | 申请(专利权)人: | 华映科技(集团)股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L29/45 |
代理公司: | 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 | 代理人: | 林云娇 |
地址: | 350000 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明提供一种高稳定性氧化物TFT结构,其基板上设有第一金属层,第一金属层包括栅极和栅极驱动线;第一金属层之上设有第一绝缘层;第一绝缘层之上设有有源层,有源层之上设置第二金属层,第二金属层包括源极、漏极,源极包括相互连接的第一中间导电层和源极金属层,漏极包括相互连接的第二中间导电层和漏极金属层;源极金属层通过第一中间导电层与有源层一端连接,漏极金属层通过第二中间导电层与有源层另一端连接;源极金属层和漏极金属层属于同一金属层,第一中间导电层和第二中间导电层属于同一金属层。本发明通过结构优化以减少源漏极金属离子对沟道区的扩散效果,同时氧化物TFT有源层沟道上下界面间的薄膜应力差异,从而提高器件稳定性。 | ||
搜索关键词: | 一种 稳定性 氧化物 tft 结构 | ||
【主权项】:
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