[发明专利]多层磁性薄膜器件及其制备方法、磁存储器在审

专利信息
申请号: 202111040979.1 申请日: 2021-09-06
公开(公告)号: CN113764153A 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 王开友;曹易;张晓敏 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01F10/32 分类号: H01F10/32;H01F41/14;G11C11/15
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 鄢功军
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种多层磁性薄膜器件及其制备方法、磁存储器,其中,上述多层磁性薄膜器件包括从下至上依次设置的如下结构:衬底、第一磁性层、非磁层、第二磁性层;上述第一磁性层的居里温度高于上述第二磁性层;上述非磁层用于实现上述第一磁性层与上述第二磁性层之间的层间交换磁耦合。
搜索关键词: 多层 磁性 薄膜 器件 及其 制备 方法 磁存储器
【主权项】:
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