[发明专利]光掩模的制造方法、光掩模以及显示装置的制造方法在审
申请号: | 202110480246.3 | 申请日: | 2016-09-26 |
公开(公告)号: | CN113219782A | 公开(公告)日: | 2021-08-06 |
发明(设计)人: | 吉田光一郎;金台勋;李锡薰 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/20 | 分类号: | G03F1/20;G03F1/36;G03F1/62;G03F1/68;G03F1/76;G03F1/80;G03F7/00;G03F7/09;G03F7/20 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 庞东成 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明的课题在于提供兼具更微细、更高的CD精度和透射率精度的光掩模的制造方法、光掩模以及显示装置的制造方法。本发明的解决手段为一种光掩模的制造方法,该光掩模在透明基板上具备包含透光部、第1透射控制部和第2透射控制部的转印用图案。该制造方法该制造方法包括:准备在透明基板上形成有具有规定的曝光光透射率的第1薄膜的光掩模坯的工序;对第1薄膜进行蚀刻,由此形成第1薄膜图案的第1图案化工序;在形成有第1薄膜图案的透明基板上形成第2薄膜,对第2薄膜进行蚀刻,由此形成第2薄膜图案的第2图案化工序。在上述第2图案化工序中,仅对上述第2薄膜进行蚀刻。 | ||
搜索关键词: | 光掩模 制造 方法 以及 显示装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
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G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备