[发明专利]半导体封装结构和其制造方法在审

专利信息
申请号: 202010401528.5 申请日: 2020-05-12
公开(公告)号: CN112110410A 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 曾吉生;赖律名;柳辉忠 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: B81B7/02 分类号: B81B7/02;B81B7/00;B81C1/00
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 蕭輔寬
地址: 中国台湾高雄市楠梓*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 本公开提供了一种半导体封装结构,所述半导体封装结构包含:衬底;第一管芯,所述第一管芯位于所述衬底上,其中所述第一管芯的主动表面背对所述衬底;第二管芯,所述第二管芯位于所述第一管芯的所述主动表面上,所述第二管芯通过多个导电端子电连接到所述第一管芯;以及密封结构,所述密封结构位于所述第一管芯的所述主动表面上,所述密封结构围绕所述多个导电端子并且邻接所述第二管芯,由此在所述第一管芯与所述第二管芯之间形成腔。还提供了一种用于制造半导体封装结构的方法。
搜索关键词: 半导体 封装 结构 制造 方法
【主权项】:
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