[发明专利]一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路在审
| 申请号： | 201910667536.1 | 申请日： | 2019-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN112285540A | 公开（公告）日： | 2021-01-29 |
| 发明（设计）人： | 江国平 | 申请（专利权）人： | 杭州海康汽车技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/308 | 分类号： | G01R31/308;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 杨春香 |
| 地址： | 310052 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路，该方法包括：检测输入光耦隔离电路的输出端输出的信号；当输入光耦隔离电路的输出端输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，向叠加电路输出检测控制信号，以使叠加电路基于检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号；当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号变换为表示输入光耦隔离电路进行了光电转换的信号时，确定输入光耦隔离电路中的第一光耦未发生故障；当检测到输入光耦隔离电路的输出端保持输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，确定第一光耦发生故障。该方法可以提高光耦故障检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 输入 采集 控制 检测 方法 电路 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州海康汽车技术有限公司，未经杭州海康汽车技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910667536.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：冰箱
- 下一篇：一种图形题目的搜索方法、装置以及设备
- 同类专利
- 测试方法、晶片和测试站-202180064918.0
- M·德尔奈卡;L·卡洛;A·佩罗特;杨华;F·皮特斯 - 洛克利光子有限公司
- 2021-09-23 - 2023-07-21 - G01R31/308
- 一种测试位于相应的装置试样上的一个或多个光电子装置的方法。所述装置试样存在于晶片上。所述方法包括：使用对应测试元件通过以下测试协议中的任一者测试所述一个或多个光电子装置，所述测试元件与所述装置试样位于同一晶片上：在第一测试协议中，操作所述光电子装置以产生光学输出并检测从受测试的所述光电子装置入射在所述测试元件上的光；或在第二测试协议中，由受测试的所述光电子装置检测从所述测试元件接收的所述光。
- 一种通用电路板板上器件故障检测方法及系统-201710393582.8
- 吕昂;陈怡;方晋甬 - 浙江万里学院
- 2017-05-27 - 2023-06-09 - G01R31/308
- 本发明公开了一种通用电路板板上器件故障检测方法及系统，通过采集被测电路板可见光图像和被测电路板红外热图像，首先采用图像配准算法以可见光图像为基准校准红外热图像坐标系统，然后以功率器件的封装形式数据库为模板图，搜索被测电路板可见光图像，确定被测电路板上功率器件的位置坐标和区域大小，再以黑体为背景处理被测电路板校准红外热图像，提取红外热图像中的发热点温度、位置坐标和区域大小；最后通过分析匹配来判断和定位故障器件。本发明无需事先采集同种类型、同种型号工作正常电路板的红外热图像，不但可用于工厂批量化生产，也可用于设备维修等各种应用场合。
- 反射微镜阵列的测试方法及测试装置-202110202684.3
- 邓杨春;王雅雄;魏仁龙;赵团伟 - 歌尔光学科技有限公司
- 2021-02-23 - 2023-04-25 - G01R31/308
- 本发明公开一种反射微镜阵列的测试方法及测试装置，包括以下步骤：提供一光源设备，所述光源设备向反射微镜阵列的无微镜阵列区域发出预设波长的检测光束，通过盖玻璃反射将反射微镜阵列与检测光束垂直，平移反射微镜阵列，将所述检测光束所形成的激光光斑调整到反射微镜阵列的微镜阵列区域，形成闪耀光栅的二维衍射光斑；以及根据所述闪耀光栅的参数生成反射微镜阵列的偏转角度的测试结果。本发明通过采用光源设备向反射微镜阵列发出检测光束，将反射微镜阵列看成一个闪耀角为偏转角，光栅常数为微镜尺寸的二维闪耀光栅，通过计算闪耀光栅的参数，获得反射微镜阵列的检测结果。
- 一种基于PD阵列光耦合和测试芯片工艺-202211476604.4
- 何祺昌;熊小敏;王善伟 - 广东安捷康光通科技有限公司
- 2022-11-23 - 2023-03-21 - G01R31/308
- 一种基于PD阵列光耦合和测试芯片工艺，包括如下步骤；于激光光源输出四种不同波长的光；将激光光源所产生的光通过9/125SMF光纤线进行传输；9/125SMF光纤线与AWG芯片进行耦合，且AWG芯片将不同波长的光根据其波长分到对应的波导内；电路板设有四个PD阵列，每个PD阵列与四种波长的光一一对应，电路板接收光信号以后转换为电信号进行传输；信号处理单元接收上述电信号；PC端功率监控单元接收信号处理单元的电信号以对AWG芯片的光信号进行可视化监控，降低了芯片耦合过程中芯片破损比例；解决了常规使用酒精或甘油残留在产品表面的问题；耦合、测试与客户端使用场景一致，测得的数据更准确；调节简单，即使芯片输出端与PD对得不精准，也能测试出准确数据。
- 一种AOI检测后缺陷板外挂式缓存系统-202211447403.1
- 孙伟清;陈伟;程绍峰;杨海波 - 上海赫立智能机器有限公司
- 2022-11-18 - 2023-03-07 - G01R31/308
- 本发明公开了一种AOI检测后缺陷板外挂式缓存系统，包括AOI检测设备，在检测设备的检测出口处设有连接PCB板输送装置和下道工序的同步传送组件，同步传送组件与PCB板输送装置固定相连，在同步传送组件上设有缓存机构；缓存机构包括升降模组,升降托架，在升降托架上设有两个相对设置的缓存架组件，在每个缓存架组件上均设有缓存PCB板的支撑组件，在同步传送组件上设有停板感应器。本系统安装在检测设备和下道工序之间，设备体积小，不影响生产空间，在出现缺陷板后，不需要人工操作，可以统一储存后统一收取，大大的节约了人力，提高了工作效率，并且使用时，可以根据板厚随时调整间距，从而适应不同规格的产品使用。
- 一种低温芯片工作状态的观测装置-202220595703.3
- 曹俊诚 - 江西万骏光电有限公司
- 2022-03-18 - 2022-11-29 - G01R31/308
- 本实用新型涉及低温测试技术领域，具体地说，是一种低温芯片工作状态的观测装置，用于低温芯片工作状态及工作环境的测量，观测装置包括密封窗片、透镜、远红外探测阵列、外壳、平移台和计算机；透镜对被测低温芯片的不同区域进行成像，观测时，透镜和远红外探测阵列安装于外壳上，并通过平移台实现整个观测装置的位置移动，使得在某一位置上，被测低温芯片中某一区域的辐射透过密封窗片后成像于远红外探测阵列上，通过计算机上的控制软件分别记录低温芯片不同区域的远红外图像以及这些图像随时间的变化，从而实现对低温芯片工作状态的观测和分析。
- 线路板用板架的检测屏蔽结构及线路板干燥设备-202220308864.X
- 黎达营 - 中山市川松智能设备有限公司
- 2022-02-15 - 2022-09-13 - G01R31/308
- 本实用新型公开了一种线路板用板架的检测屏蔽结构及线路板干燥设备，其中，线路板用板架的检测屏蔽结构，包括：板架、检测组件，板架设置于线路板干燥设备的输送机构并用于放置线路板，所述板架设置有通孔或凹位；检测组件设置于线路板干燥设备的机架，所述检测组件能够检测所述通孔或所述凹位是否被遮蔽，可以减少由于板架问题造成的线路板的擦花或损毁的情况发生，并可保持设备持续的运转。
- 一种低温芯片工作状态的观测装置及观测方法-202210270515.8
- 曹俊诚 - 江西万骏光电有限公司
- 2022-03-18 - 2022-05-27 - G01R31/308
- 本发明涉及低温测试技术领域，具体地说，是一种低温芯片工作状态的观测装置及观测方法，用于低温芯片工作状态及工作环境的测量，观测装置包括密封窗片、透镜、远红外探测阵列、外壳、平移台和计算机；透镜对被测低温芯片的不同区域进行成像，观测时，透镜和远红外探测阵列安装于外壳上，并通过平移台实现整个观测装置的位置移动，使得在某一位置上，被测低温芯片中某一区域的辐射透过密封窗片后成像于远红外探测阵列上，通过计算机上的控制软件分别记录低温芯片不同区域的远红外图像以及这些图像随时间的变化，从而实现对低温芯片工作状态的观测和分析。本发明提出的观测装置具有体积小、成本低、结构简单、观测速度快、使用方便等优点，特别适合低温芯片工作状态的观测和分析。
- 工作台盖板装置及光学检测设备-202121080095.4
- 陈林锋;王林;高亮 - 苏州维嘉科技股份有限公司
- 2021-05-19 - 2022-05-17 - G01R31/308
- 本实用新型公开了一种工作台盖板装置及光学检测设备。工作台盖板装置包括底座、盖板组件、平移驱动机构、第一导向机构、若干升降驱动机构、支撑机构和第二导向机构；盖板组件的下盖板设于底座上，上盖板可移动地设于下盖板的上方；平移驱动机构设于底座上并能驱动上盖板沿第一水平方向移动；第一导向机构设于底座上并能导向上盖板沿第一水平方向的移动；若干升降驱动机构设于底座上并分别位于底座沿第一水平方向的两侧，且能驱动上盖板沿竖直方向升降；支撑机构包括连接于升降驱动机构输出端以支撑上盖板的支撑件；第二导向机构能导向上盖板的升降并能随上盖板沿第一水平方向移动，底座沿第一水平方向的两侧均设有第二导向机构和第一导向机构。
- 一种产品漏电保护检测设备-202121441216.3
- 吴益伟 - 苏州奥图美星智能系统科技有限公司
- 2021-06-28 - 2021-11-26 - G01R31/308
- 本实用新型涉及一种产品漏电保护检测设备，包括固定底板、Y轴直线电机模组、检测平台和机械臂。本实用新型一种产品漏电保护检测设备，通过固定底板、Y轴直线电机模组、检测平台和机械臂的结构设置，自动化程度较高，人工劳动强度小，可以提高生产效率，且降低生产成本；通过视觉检测模组的结构设置，可以对检测过程进行实时反馈。
- 一种智能卡的芯片功能检测装置-202011177897.7
- 冯彬 - 广州觉维科技有限公司
- 2020-10-29 - 2021-02-19 - G01R31/308
- 本发明公开了一种智能卡的芯片功能检测装置，包括底座和安装座，所述底座的内部焊接有凹槽，且凹槽的内部活动连接有卡块，所述安装座位于卡块的左侧，且安装座的内部固定连接有密封条，所述密封条的前端固定连接有防滑垫，所述底座的上方活动连接有第一安装盘，所述第一安装盘的左侧水平安设有滑杆，且滑杆的左侧焊接有固定柱，所述滑杆的下方活动连接有直线电机，且直线电机的左侧水平安设有限位块，所述直线电机的下方活动连接有固定盘，且固定盘的下方固定连接有扫描仪。该智能卡的芯片功能检测装置，具有对智能卡的芯片进行检测，从而能够提高智能卡芯片工作的可靠性，同时该装置结构简单，能够便于使用者进行维修。
- 一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路-201910667536.1
- 江国平 - 杭州海康汽车技术有限公司
- 2019-07-23 - 2021-01-29 - G01R31/308
- 本申请提供一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路，该方法包括：检测输入光耦隔离电路的输出端输出的信号；当输入光耦隔离电路的输出端输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，向叠加电路输出检测控制信号，以使叠加电路基于检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号；当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号变换为表示输入光耦隔离电路进行了光电转换的信号时，确定输入光耦隔离电路中的第一光耦未发生故障；当检测到输入光耦隔离电路的输出端保持输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，确定第一光耦发生故障。该方法可以提高光耦故障检测的准确性。
- 线路板绝缘电阻失效检验系统-202020117682.5
- 黄桂平;罗贤宾;刘长庆;王睿刚 - 珠海斗门超毅实业有限公司
- 2020-01-17 - 2020-10-27 - G01R31/308
- 本实用新型公开了一种线路板绝缘电阻失效检验系统，包括测试电源，用于连接待检验线路板，并为所述待检验线路板提供测试电流；红外热成像仪，设置在所述待检验线路板的上方，用于扫描所述待检验线路板。在检验时，测试电源给待检验线路板提供测试电流，以使待检验线路板的两个绝缘电阻失效的网络之间加上测试电流，与待检验线路板的其它位置相比，绝缘电阻失效的位置因为测试电流通过而发热，温度升高，红外热成像仪对待检验线路板进行扫描，可以快速锁定该位置，且不会破坏待检验线路板。
- 探针卡测试装置-201910203533.2
- 李文聪;谢开杰;郑孟杰;李晓刚 - 中华精测科技股份有限公司
- 2019-03-18 - 2020-09-29 - G01R31/308
- 本发明公开一种探针卡测试装置，包含测试电路板、信号转接板及探针头。测试电路板包含位于晶片测试区域的第一透光部、及位于信号压制区域的多个金属垫。信号转接板包含位于晶片测试区域的第二透光部。信号转接板的顶面设置有位于晶片测试区域且沿着第二透光部的周缘设置的多个外接垫。信号转接板的底面设置有位于信号压制区域的多个连接垫。探针头的定位座体包含位于晶片测试区域的第三透光部。探针头的多个导电探针穿设定位于定位座体且沿着第三透光部的周缘设置。多个导电探针的一端穿出定位座体而分别抵接于多个外接垫。借此，导电探针的植针作业时间可以被大幅缩减，并且探针卡测试装置的维护困难度可以被大幅降低。
- 半封装式探测器芯片测试装置及使用方法-202010545201.5
- 王姣姣;刘建国;赵泽平 - 中国科学院半导体研究所
- 2020-06-15 - 2020-09-18 - G01R31/308
- 一种半封装式探测器芯片测试装置，包括：光纤对准模块，固定于三维调节架之上，用于调节光纤输出的光场位置，使其与探测器芯片光敏面对准；芯片测试载体，用于固定探测器芯片，将外部的工作电压信号加载到探测器芯片上并将其产生的电流信号传输到外部测试设备中。本发明采用斜面光纤，摆脱垂直离面耦合方式的限制，方便在视野中检查光纤与探测器芯片光敏面的对准情况。本发明通过电路板上的信号传输线和射频连接器给与探测器工作电压并将交流信号导出，取代了射频探针的使用，较少测试步骤，提高测试效率。本发明采用半封装的耦合形式，可重复利用本装置对多个样品进行测量。
- LED电路板测试机-201921847135.6
- 吕现彬 - 广州视源电子科技股份有限公司
- 2019-10-30 - 2020-09-11 - G01R31/308
- 本实用新型涉及检测装置技术领域，公开了一种LED电路板测试机，包括箱体以及设置在箱体内的测试机构，箱体被配置为提供暗室环境，测试机构包括测试治具、抵压机构和检测机构，测试治具被配置为承载LED电路板并与LED电路板信号连通，抵压机构被配置为将LED电路板抵紧在测试治具上，检测机构被配置为获取LED灯光图像，并根据LED灯光图像判断LED电路板是否合格。该LED电路板测试机通过箱体减少外界光线对LED灯光的影响；通过抵压机构将LED电路板抵紧在测试治具上，测试治具与LED电路板接触良好，保证信号的有效传递；检测机构的设置能够获取LED灯光图像，根据LED灯光图像判断LED电路板是否合格，便于操作。
- 测试装置-201921866725.3
- 罗峰;唐永安;王悦;吴双喜 - 深圳创维-RGB电子有限公司
- 2019-11-01 - 2020-07-21 - G01R31/308
- 本实用新型公开一种测试装置，用于测试具有红外发射器的电路板，包括架体；红外接收器，所述红外接收器连接于所述架体，用于接收待测电路板发出的红外光信号；控制主板，所述控制主板与所述红外接收器电连接，并将所述红外接收器接收到的光信号转化为电信号；以及示波器，所述示波器与所述控制主板电连接，并将所述电信号变换成波形图像显示。本实用新型技术方案旨在提高电路板的原红外的测试效率和测试的准确性。
- SiPM阵列的信号读出方法、装置及SiPM阵列模块-201811537972.9
- 桑子儒;杨永峰;章先鸣;梁栋;刘新;郑海荣 - 深圳先进技术研究院
- 2018-12-16 - 2020-06-12 - G01R31/308
- 本发明适用电子信息技术领域，提供了一种SiPM阵列的信号读出方法、装置及SiPM阵列模块，该方法包括：当SiPM阵列上的SiPM单元采集到光信号时，通过SiPM单元将光信号转换为电流信号，通过与SiPM单元连接的导电介质层，将电流信号分配给设于导电介质层上的读出电极，通过读出电极输出电流信号，根据每个读出电极的电流输出，确定SiPM单元在SiPM阵列上的位置信息，从而通过位于SiPM阵列衬底上的导电介质层和读出电极，且导电介质层上不采用分立的电阻电容等元器件，SiPM阵列大小变化时不需要元器件的重新设计，有效地提高SiPM阵列读出通道的压缩效果，便于SiPM阵列的扩展和集成。
- PLL电路抗辐照性能评估方法-201710522652.5
- 刘红侠;杜守刚;王树龙;王倩琼 - 西安电子科技大学
- 2017-06-30 - 2019-07-16 - G01R31/308
- 本发明公开了一种宇航用抗辐照PLL锁相环电路抗辐照性能评估方法，主要解决现有技术在辐照环境下对电路的功能和性能评估不全面的问题，其技术方案为：从工程试验结果及电路内部设计原理出发，根据PLL锁相环电路在地面加速工程辐照试验时所表征出来的功能及性能的变化，结合不同层面用户的需求，提出用PLL单粒子伪失锁截面、PLL单粒子失锁截面、PLL单粒子功能错误截面和PLL单粒子失锁恢复截面四个评估参数所组成的评估列表综合表征宇航用抗辐照PLL电路的抗辐照性能，从而更加系统合理地解决了PLL电路抗辐照性能评估不全面的问题，为宇航用抗辐照PLL锁相环电路的空间工程应用及地面抗辐照加固设计提供参考依据。
- 一种用于X射线测试的自动输送电路板设备-201821900993.8
- 宋苏洋;朱凯 - 伟创力电子技术(苏州)有限公司
- 2018-11-19 - 2019-07-09 - G01R31/308
- 本实用新型公开了一种用于X射线测试的自动输送电路板设备，包括：送板装置、控制电路和设置在送板装置与测试设备之间的运输轨道。通过上述方式，本实用新型用于X射线测试的自动输送电路板设备，能自动送板进入X‑ray测试机，测试完毕能从X‑ray测试机收板进入电路板周转筐，实现自动进板收板替代人工进板收板，能够智能识别电路板是OK板还是NG板，如果是NG板需要发出报警，提醒操作人员及时处理不良板，不需要人工干预，整体结构简单易操作，并且成本低，同时在自动化生产的应用及普及上有着广泛的市场前景。
- 一种用于X射线测试的自动输送电路板设备-201811374716.2
- 宋苏洋;朱凯 - 伟创力电子技术(苏州)有限公司
- 2018-11-19 - 2019-02-12 - G01R31/308
- 本发明公开了一种用于X射线测试的自动输送电路板设备，包括：送板装置、控制电路和设置在送板装置与测试设备之间的运输轨道。通过上述方式，本发明用于X射线测试的自动输送电路板设备，能自动送板进入X‑ray测试机，测试完毕能从X‑ray测试机收板进入电路板周转筐，实现自动进板收板替代人工进板收板，能够智能识别电路板是OK板还是NG板，如果是NG板需要发出报警，提醒操作人员及时处理不良板，不需要人工干预，整体结构简单易操作，并且成本低，同时在自动化生产的应用及普及上有着广泛的市场前景。
- 一种脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析方法-201610221120.3
- 赵雯;郭晓强;陈伟;郭红霞;丁李利;陈荣梅;王园明 - 西北核技术研究所
- 2016-04-11 - 2018-06-29 - G01R31/308
- 本发明涉及一种脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析方法，方法包括：对样品的各功能模块进行激光脉冲的遍历式扫描并得到各功能模块的单粒子效应失效模式和单粒子效应敏感参数以及选取各功能模块的典型入射位置、使激光脉冲以一定的入射周期入射各功能模块的典型入射位置来分析获得各功能模块的单粒子效应时间敏感性信息、获取脉宽调制器的单粒子效应时间敏感特性等步骤。本发明方法在脉宽调制器功能模块划分的基础上，结合激光脉冲的可控扫描和各功能模块单粒子效应敏感参数提取来实现脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析，方法新颖，是重离子单粒子效应地面模拟试验的重要补充，为较复杂数模混合电路的单粒子效应时间敏感特性研究提供支撑。
- 一种电路板检测工作站-201721648423.X
- 纪良权 - 苏州奥曼恩自动化科技有限公司
- 2017-12-01 - 2018-06-22 - G01R31/308
- 本实用新型公开了一种电路板检测工作站，包括：进料架，所述进料架放置待检测的电路板；对位装置，所述对位装置将待检测的电路板进行基准对位；自动光学检测装置，所述自动光学检测装置检测基准对位后的电路板；打标装置，所述打标装置对检测完成后的电路板进行打码；出料架，所述出料架放置打码完成的电路板；机械手，所述机械手将待进行下一步处理的电路板移至下一工位；机器人控制柜，所述机器人控制柜与所述机械手连接；系统控制柜，所述系统控制柜分别与所述自动光学检测装置、对位装置、打标装置连接。通过上述方式，本实用新型能够先将电路板基准对位后再进行检测，使电路板可以放置规定的测试位，并可以对检测后的电路板直接进行打码。
- 一种SIPM芯片试验装置-201721030620.5
- 郭彦彬;张玺;李耀伟 - 武汉瑞福宁科技有限公司
- 2017-08-17 - 2018-03-02 - G01R31/308
- 本实用新型提供了一种SIPM芯片试验装置，包括移动平台，固定设于移动平台中部的射源连接体，分别间隔设于射源连接体两侧的芯片连接体，射源连接体与两侧的芯片连接体之间分别设置有至少一个晶体连接体，芯片连接体以及晶体连接体均与移动平台滑动连接。该装置通过设置移动平台，使得芯片连接体、晶体连接体以及射源连接体三者间的距离可调，还能在确保上述三者的中心在同一水平线上的同时，可以自由变换三者位置。
- 一种通用电路板板上器件故障检测系统-201720611077.1
- 吕昂;陈怡;方晋甬 - 浙江万里学院
- 2017-05-27 - 2017-12-19 - G01R31/308
- 本实用新型公开了一种通用电路板板上器件故障检测系统，包括用于放置被测电路板的测试平台、红外热像仪、可见光照相机、放置于测试平台上的黑体、红光发光二极管、设置于测试平台上与被测电路板电连接的电源与信号源，以及与红外热像仪和可见光照相机连接的计算机系统，红外热像仪和可见光照相机将采集到的红外热图像和可见光图像发送至计算机系统，以判定被测电路板工作是否正常，确定故障点位置及故障情况。本实用新型无需事先采集同种类型、同种型号工作正常电路板的红外热图像，不但可用于工厂批量化生产，也可用于设备维修等各种应用场合。
- 低照度CMOS芯片性能测试系统-201610700230.8
- 钱芸生;叶琼;郭一亮;朱波;王琦;林宇轩;徐华 - 南京理工大学
- 2016-08-22 - 2017-02-15 - G01R31/308
- 本发明公开了一种低照度CMOS芯片性能测试系统，包括卤钨灯光源、电动狭缝、第一积分球、可变孔径光阑、第二积分球、暗箱、待测低照度CMOS芯片、光照度计和计算机；将低照度CMOS芯片置于暗箱中，卤钨灯产生的均匀光入射到低照度CMOS芯片的光敏面，经过计算机调节电动狭缝和可变孔径光阑改变光照度，设置芯片曝光时间，采集低照度CMOS芯片产生的图像信号，并将它转换成对应的电压信号，通过数据处理得到相应的参数值。本发明可以科学地评价低照度CMOS芯片的性能，为低照度CMOS的研制和生产提供依据。
- 一种电路板故障检测装置-201620223206.5
- 靳丽茹 - 天津睿百特科技有限公司
- 2016-03-22 - 2016-10-12 - G01R31/308
- 本实用新型属于检测装置技术领域且公开了一种电路板故障检测装置，包括检测装置，所述检测装置包括夹具、适配器、固定板、控制面板和打印机，所述固定板安装在夹具内，所述夹具包括固定杆和滑动杆，所述固定杆下端设有滑轨，所述滑动杆安装在滑轨上，所述滑动杆安装有固定螺丝，所述固定杆一侧设有灯座，所述灯座下端安装有照明灯，所述固定板内镶嵌有显示屏，所述固定板上端通过检测线与检测器连接，所述适配器、控制面板和打印机均通过电线与固定板连接。本实用新型通过夹具，可以将需要检测的电路板通过滑动杆上的固定螺丝安装在夹具上，以便于工作人员对电路板进行检测。
- 一种基于红外线图像的设备故障检测系统-201521071065.1
- 唐维林;廖峪;唐泰可 - 成都狼图腾科技有限公司
- 2015-12-21 - 2016-09-21 - G01R31/308
- 本实用新型公开了一种基于红外线图像的设备故障检测系统，包括控制箱内各电路板、红外传感器、CCD图像采集电路、热成像数据信号、信息传输、计算机图像处理系统，其特征在于：红外线传感器与CCD图像采集电路连接，CCD图像采集电路与热成像数据信号连接，热成像数据与计算机图像处理系统连接，本实用新型采用红外线图像处理，不仅可以检测出电路板上故障的位置，同时也可以检测出故障的问题，维修时不需要再进行故障分析，节约了维修所需要的时间。
- 应用电子束诱发等离子体探针以进行检验、测试、除错及表面修改-201480054629.2
- 内达尔·沙利;丹尼尔·托特;安利奎·史特林;罗南·洛温格;斯里蓝·奎许那瓦米;艾利·葛雷瑟 - 奥宝科技有限公司;飞腾动力公司
- 2014-10-02 - 2016-07-20 - G01R31/308
- 本发明揭示一种电子束诱发等离子体，其用于与所关注装置建立非机械、电接触。此等离子体源可称为大气等离子体源且可经配置以提供具有极细直径及可控特性的等离子体柱。所述等离子体柱横穿在所述等离子体源之间的大气空间进入所述大气及所述所关注装置，且以可从所述装置收集特性电信号的方式充当到所述所关注装置的电路径。另外，通过控制流入所述等离子体柱的气体，探针可用于表面修改、蚀刻及沉积。
- 电路板故障检测系统-201610163774.5
- 夏思宇;吴东;荣彬杰 - 成都普诺科技有限公司
- 2016-03-22 - 2016-06-15 - G01R31/308
- 本发明公开了电路板故障检测系统包括：图像采集单元，所述图像采集单元用于采集电路板表面图像信息；信号采集单元，所述信号采集单元用于采集电路板信号信息；分析单元，所述分析单元用于基于所述图像信息和所述信号信息，对所述电路板的故障进行分析，获得分析数据；生成单元，所述生成单元用于基于所述分析数据生成检测报告，实现了系统设计合理，自动完成电路板的检测，检测效率较高的技术效果。
- 专利分类
