[发明专利]一种具有低栅极电阻的场效应晶体管的结构及制造方法有效
申请号: | 201880096780.0 | 申请日: | 2018-10-10 |
公开(公告)号: | CN112640128B | 公开(公告)日: | 2022-10-04 |
发明(设计)人: | 刘欣芳;许淼;刘燕翔 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 李欣 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请实施例公开了一种场效应晶体管结构,该结构包括:半导体衬底(101),金属栅极(104),源极金属沟槽(107)、漏极金属沟槽(108)、刻蚀停止层和栅极接触(105),该刻蚀停止层覆盖在源极金属沟槽(107)和漏极金属沟槽(108)的上方,该栅极接触(105)位于有源区上方,由于在源极金属沟槽(107)和漏极金属沟槽(108)的上方覆盖有刻蚀停止层,可以将栅极接触(105)准确打到栅极上,而不会与源极金属沟槽(107)或漏极金属沟槽(108)短接,因此栅极接触(105)可以在金属栅极(104)上延伸至有源区上方,这样栅极接触(105)的长度限制变小,栅极接触(105)的形状可以类似于金属栅极(104)呈长条的形状,增大了栅极接触(105)与金属栅极(104)的接触面积,大大降低了栅极电阻。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 栅极 电阻 场效应 晶体管 结构 制造 方法 | ||
【主权项】:
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