[发明专利]半导体芯片及其形成方法有效
申请号: | 201711241717.5 | 申请日: | 2017-11-30 |
公开(公告)号: | CN109427562B | 公开(公告)日: | 2021-08-27 |
发明(设计)人: | 刘铭棋;李汝谅;蔡嘉雄;陈逸群;亚历山大·卡尼斯基;余振华 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/18 | 分类号: | H01L21/18 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 冯志云;张福根 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 提供一种半导体芯片的形成方法,包括:提供硅承载晶片,其具有第一面及第二面,其中外延III‑V族半导体区及氧化区设置在第一面上,且外延III‑V族半导体区及氧化区具有从硅承载晶片的第一面量起大抵相同的高度,外延III‑V族半导体区侧壁接触氧化区侧壁;在外延III‑V族半导体区及氧化区顶表面形成共晶接合层;接合互补式金氧半晶片至共晶接合层;随后去除硅承载晶片;单粒化互补式金氧半晶片以形成三维集成电路,其皆包含互补式金氧半基板及III‑V族光学装置,互补式金氧半基板及III‑V族光学装置分别对应互补式金氧半晶片及III‑V族光学装置的一部分。 | ||
搜索关键词: | 半导体 芯片 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体芯片的形成方法,包括:提供一硅承载晶片,该硅承载晶片具有一第一面及一第二面,其中一外延III‑V族半导体区及一氧化区设置在该第一面上,且该外延III‑V族半导体区及该氧化区具有从该硅承载晶片的该第一面量起大抵相同的高度,以及其中该外延III‑V族半导体区的一侧壁接触该氧化区的一侧壁;在该外延III‑V族半导体区及该氧化区的一顶表面形成一共晶接合层;接合一互补式金氧半晶片至该共晶接合层;在接合该互补式金氧半晶片至该共晶接合层后,去除该硅承载晶片;以及单粒化该互补式金氧半晶片以形成多个三维集成电路,其中该些三维集成电路中的每一个皆包含一互补式金氧半基板及一III‑V族光学装置,该互补式金氧半基板对应该互补式金氧半晶片的一部分,且该III‑V族光学装置对应该III‑V族半导体区的一部分。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造