[发明专利]用于产生超级结器件的方法有效

专利信息
申请号: 201710574489.7 申请日: 2017-07-14
公开(公告)号: CN107623038B 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: F.希尔勒;J.G.拉文;A.毛德;H-J.舒尔策;W.舒施特雷德;M.特赖贝尔;D.图图克;A.韦尔克尔;H.韦伯 申请(专利权)人: 英飞凌科技奥地利有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336;H01L21/8238
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 申屠伟进;杜荔南
地址: 奥地利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及用于产生超级结器件的方法。公开的是一种方法,该方法包括使多个半导体布置一个在另一个上面形成。在该方法中,形成多个半导体布置中的每一个包括:形成半导体层;在该半导体层的第一表面中形成多个沟槽;以及将第一类型和第二类型中的至少一个的掺杂剂原子注入到该半导体层的多个沟槽中的每一个的第一侧壁和第二侧壁中的至少一个中。
搜索关键词: 用于 产生 超级 器件 方法
【主权项】:
一种方法,包括:形成至少一个半导体布置,其中形成该至少一个半导体布置包括:形成半导体层;在该半导体层的第一表面中形成多个沟槽;以及将第一类型和第二类型中的至少一个的掺杂剂原子注入到该半导体层的多个沟槽中的每一个的第一侧壁和第二侧壁中的至少一个中。
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