[发明专利]一种双腔式等离子体沉积镀膜方法有效
| 申请号: | 201710361467.2 | 申请日: | 2017-05-22 |
| 公开(公告)号: | CN106987826B | 公开(公告)日: | 2019-03-12 |
| 发明(设计)人: | 王卓;戚艳丽;姜崴 | 申请(专利权)人: | 沈阳拓荆科技有限公司 |
| 主分类号: | C23C16/505 | 分类号: | C23C16/505;C23C16/455 |
| 代理公司: | 沈阳维特专利商标事务所(普通合伙) 21229 | 代理人: | 陈福昌 |
| 地址: | 110179 辽宁省*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开了一种双腔式等离子体沉积镀膜方法,包括如下步骤:(1)抽真空;(2)放置衬底并调整到所需的工艺位置;(3)向第一反应腔室和第二反应腔室内通入工艺气体,同时,向清洗气体进气通道内通入氮气;(4)调整两个反应腔室内的压力;(5)预热衬底,并对工艺气体进行射频处理,使工艺气体在射频的作用下形成等离子体,等离子体在衬底表面成膜,完成镀膜。本方法通过在向第一反应腔室和第二反应腔室通入工艺气体的同时,向清洗气体进气通道内通入氮气,破除了清洗气体进气通道的真空状态,平衡两端的压力,可以有效的消除两腔室间气流分配不均带来的沉积速率上的差异,从而提高晶圆间工艺的均一性。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 双腔式 等离子体 沉积 镀膜 方法 | ||
【主权项】:
1.一种双腔式等离子体沉积镀膜方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)将第一反应腔室、第二反应腔室、清洗气体进气通道和工艺气体进气通道抽真空,其中,清洗气体进气通道的进气口与远程等离子发生器的出气口连通,所述清洗气体进气通道的出气口为两个且分别与第一反应腔室和第二反应腔室的进气口连通,所述清洗气体进气通道的进气口距第一反应腔室的进气口和第二反应腔室的进气口的距离相同,所述工艺气体进气通道的进气口与工艺气体进气管路连通,所述工艺气体进气通道的出气口为两个且分别与第一反应腔室和第二反应腔室的进气口连通,所述工艺气体进气通道的出气口距第一反应腔室的进气口和第二反应腔室的进气口的距离相同;(2)将衬底分别送入第一反应腔室和第二反应腔室内,并调整到所需的工艺位置;(3)通过工艺气体进气通道向第一反应腔室和第二反应腔室内通入工艺气体,同时,向清洗气体进气通道内通入氮气;(4)调整两个反应腔室内的压力至1~10torr;(5)预热衬底至60~500摄氏度,并对第一反应腔室和第二反应腔室内的工艺气体进行射频处理,使工艺气体在射频的作用下形成等离子体,等离子体在衬底表面成膜,完成镀膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沈阳拓荆科技有限公司,未经沈阳拓荆科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710361467.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的





