[发明专利]半导体存储装置、快闪存储器及其连续读出方法有效

专利信息
申请号: 201710231829.6 申请日: 2017-04-11
公开(公告)号: CN107871521B 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 神永雄大;水藤克年 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: G11C16/08 分类号: G11C16/08;G11C16/26;G06F12/02
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马雯雯;臧建明
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供一种半导体存储装置、快闪存储器及其连续读出方法,实现页面的连续读出的高速化。本发明的快闪存储器(100)包括:存储胞元阵列(110);页面读出部件,选择存储胞元阵列(110)的页面,将选择页面的数据读出至页面缓冲器/读出电路(180);页面信息保存部(160),保存与连续读出的范围相关的页面信息;以及控制部(150),控制页面的连续读出。控制部(150)基于页面信息来判定是否继续连续读出,在判定为继续的情况下,即使芯片选择信号被切换,仍可无页面数据读出命令及页面地址的输入地进行连续读出。
搜索关键词: 半导体 存储 装置 闪存 及其 连续 读出 方法
【主权项】:
一种半导体存储装置,其特征在于包括:存储胞元阵列;页面读出部件,选择所述存储胞元阵列的页面,将选择页面的数据读出至数据保持部;设定部件,设定与页面的连续读出的范围相关的页面信息;以及控制部件,控制所述页面读出部件对页面的连续读出,所述控制部件基于所述页面信息来判定是否继续连续读出模式。
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