[发明专利]半导体元件及其形成方法有效
申请号: | 201710059512.9 | 申请日: | 2017-01-24 |
公开(公告)号: | CN108346660B | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
发明(设计)人: | 冯立伟;王嫈乔;刘姿岑;蔡综颖;何建廷 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108;H01L21/8242 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种半导体元件及其形成方法,半导体元件包含多个位线、多个导电图案、多个接触垫与间隙壁。位线朝向第一方向延伸。导电图案同样是朝向第一方向延伸,位线与导电图案在与第一方向垂直的第二方向上彼此交错排列;接触垫是设置在导电图案与位线上并排列成一矩阵。间隙壁是设置在位线与导电图案之间并位于接触垫下方,其中间隙壁包含三层结构,其包含第一层、第二层以及第三层,第二层包含多个空隙层且各空隙层彼此分隔地沿着第一方向排列。 | ||
搜索关键词: | 半导体 元件 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体元件的形成方法,其特征在于包含:形成朝向一第一方向延伸的多个位线,各位线包含形成在两侧的一间隙壁,且该间隙壁包含三层结构;形成朝向该第一方向延伸的多个导电图案,其中该些位线与该些导电图案在与该第一方向垂直的一第二方向上彼此交错排列;形成一金属层,覆盖该些位线与该些导电图案;移除一部分的该金属层,以在该金属层内形成多个开口,该些开口朝向该第二方向延伸且横跨该些位线与该些导电图案,且一部分的位线与其两侧的间隙壁可自该些开口中暴露出;移除自该些开口中暴露出的该三层结构中的一第二层,以在该三层结构中形成一空隙层;以及在形成该空隙层后,移除另一部分的该金属层,以形成多个接触垫。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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