[发明专利]一种评价镁合金微裂纹萌生的方法在审
| 申请号： | 201510725436.1 | 申请日： | 2015-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN105388174A | 公开（公告）日： | 2016-03-09 |
| 发明（设计）人： | 靳丽;刘璁慧;董杰;章桢彦;王锋华 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01N23/203 | 分类号： | G01N23/203;G01N1/32 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种评价镁合金微裂纹萌生的方法，其包括以下步骤：采用原位拉伸的方法，获得原位扫描电镜以及原位电子背散射衍射的数据；根据原位扫描电镜以及原位电子背散射衍射的数据，获得代表晶粒取向信息的欧拉角；根据欧拉角，计算出裂纹萌生参量F1，预测微裂纹可能萌生的位置。本发明的评价镁合金微裂纹萌生的方法，采用原位EBSD的方法可以动态观察镁合金单轴拉伸过程中晶粒内滑移和孪生的信息以及微裂纹萌生；裂纹萌生参量F1的计算综合评价晶界处微裂纹的萌生和周围晶粒的取向及应力方向的相关性；F1值的计算可以准确预测微裂纹的形核及发生的位置，对镁合金的塑性提高至关重要。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 评价 镁合金 裂纹 萌生 方法 | ||
【主权项】：
一种评价镁合金微裂纹萌生的方法，其特征在于，包括以下步骤：S11：采用原位拉伸的方法，获得原位扫描电镜以及原位电子背散射衍射的数据；S12：根据所述原位扫描电镜以及原位电子背散射衍射的数据，获得代表晶粒取向信息的欧拉角；S13：根据所述欧拉角，计算出裂纹萌生参量F1，预测微裂纹可能萌生的位置。
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- 本发明公开了一种室温下快速制备钛及钛合金EBSD试样的方法；包括如下步骤：步骤1，将待观察面分别在不同颗粒度的SiC砂纸上粗磨和精磨，并清洗吹干；2，配置电解液：体积分数分别为50～58％乙酸、15～20％硫酸、18～23％氢氟酸、3％～8％硝酸，在室温下进行电解抛光，电压12～16V，随后立即清洗、吹干。本发明的有益效果如下：(1)无需液氮等低温介质冷却，在室温下即可操作；(2)抛光电压低，安全，对设备要求低；(3)对样品形状要求低，过程简单，易于操作；(4)得到一个光亮、平整、无变形扰动层的满足EBSD检测需要的试样。
- 半导体瞬态X射线非线性光学效应测试装置-201821169444.8
- 朱九匡;易涛;陈绍荣;张军;江少恩 - 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 2018-07-23 - 2019-01-29 - G01N23/203
- 本实用新型公开了一种半导体瞬态X射线非线性光学效应测试装置，包括用于产生X射线的X射线源，其可照射到待测试的半导体材料片上，使其产生非线性光学效应；用于引入一束探针光照射到所述半导体材料片的延时模块，并在该半导体材料片表面被反射，延时模块能够对该探针光的传输光程进行调节；用于对延时模块引入的探针光进行分光的分光片，用于接收经半导体材料片反射的探针光的光谱仪A，用于接收经分光片透射的探针光的光谱仪B，通过对光谱仪A光谱仪B最终所测的光谱进行差分对比分析即可完成测试。可以快速灵敏的完成半导体材料非线性光学效应的测试，且具有较高的测试效率和测试精度，为后续试验提供参数依据，便于操作实施。
- 背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法-201811291946.2
- 于昊;王伟珍;迟豪杰;刘必成;胡煜;孙尚民;李荐民;李元景;陈志强 - 同方威视技术股份有限公司;同方威视科技江苏有限公司
- 2018-11-01 - 2019-01-04 - G01N23/203
- 本发明公开了一种背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法。背散射成像系统包括：背散射线源，背散射线源被设置为执行扫描时具有无扫描光束发出的第一扫描状态和发出扫描光束的第二扫描状态；背散探测器，背散探测器在背散射成像系统的背散射线源处于第一扫描状态下探测第一背散射信号，在背散射线源处于第二扫描状态下探测第二背散射信号；控制装置，与背散探测器信号连接，被设置为用根据第一背散射信号形成的修正信号修正第二背散射信号以得到修正背散射信号，并根据修正背散射信号形成图形信息；和成像装置，与控制装置信号连接，根据图形信息生成第二扫描状态下的背散射图像。本发明获得的背散射图像更加清晰。
- 安全检查系统-201820685176.9
- 于昊;李营;王伟珍;宋全伟;王东宇;迟豪杰;李荐民;李玉兰;宗春光;陈志强;李元景;张丽 - 清华大学;同方威视技术股份有限公司
- 2018-05-09 - 2018-12-25 - G01N23/203
- 本实用新型涉及安全检查技术领域，特别涉及一种安全检查系统。本实用新型所提供的安全检查系统，其包括背散射扫描装置和支撑装置，支撑装置形成允许被检物通过的检查通道，背散射扫描装置设置在支撑装置的上部并包括背散射射线源装置和背散射探测装置，且支撑装置调节背散射扫描装置的高度。在本实用新型中，安全检查系统的支撑装置可以调节安装在支撑装置上的背散射扫描装置的高度，由于便于在扫描过程中根据被检物的高度来调节背散射的飞点光斑投影大小和张角大小，因此，能够有效提升背散射图像的成像质量。
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