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[实用新型]CT扫描系统-CN202223516661.9有效
发明人：陈志强;李元景;孙尚民;易茜;刘必成;宗春光 -专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2022-12-28 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N23/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种CT扫描系统，该扫描系统包括至少一个射线源组，用于向被扫描物体发射射线，每个射线源组包括多个射线源，多个射线源在同一扫描平面内彼此间隔布置并且具有不同的射线张角方向；以及至少一个探测器，与至少一个射线源组一一对应地相对设置，每个探测器接收从对应的射线源组发射的并且透射通过被扫描物体的射线，其中，至少一个射线源组在扫描过程中围绕被扫描物体旋转以在多个旋转角度上对被扫描物体进行扫描，并且在同一旋转角度处，每个射线源组中的多个射线源依次发射射线束。
ct 扫描系统

[发明专利]检测装置及用于电芯检测的检测方法-CN202310695777.3在审
发明人：张丽;陈志强;李元景;李亮;洪明志;常铭;王子楠 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2023-06-12 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测装置及用于电芯检测的检测方法，所述检测装置包括：支撑机构、旋转机构、传送机构以及检测机构。所述旋转机构设置于所述支撑机构，所述旋转机构包括：旋转支架和旋转盘，所述旋转支架设置于所述支撑机构，所述旋转盘可相对于所述旋转支架进行周向转动；所述传送机构穿过所述旋转盘，且所述传送机构适于传送电芯；所述检测机构设置于所述旋转盘，所述检测机构包括：射线源和探测器，所述射线源与所述探测器适于对所述传送机构上的所述电芯进行检测，且所述射线源与所述探测器适于在所述旋转盘上进行周向旋转。由此，检测装置可在降低电芯摆放需求的同时，提高检测质量以及检测效率。
检测装置用于方法

[发明专利]CT检查系统和CT成像方法-CN201711451934.7有效
发明人：倪秀琳;李荐民;谭海田;李玉兰;喻卫丰;李元景;周合军;陈志强;宗春光;张丽 -专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2017-12-28 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明涉及CT检测技术领域，特别涉及一种CT检查系统和CT成像方法。本发明所提供的CT检查系统，包括扫描装置和成像装置，其中：扫描装置具有放射源装置和探测装置并在对待检物进行扫描的至少部分过程中进行非匀速转动；成像装置基于有效探测数据生成CT图像，有效探测数据为探测装置在每转动预设角度时的数据。在本发明中，CT检查系统的成像装置基于探测装置在每转动预设角度时的数据生成CT图像，相对于传统的图像采集方案，可以有效减少图像形变，提高检测结果的准确性。
ct 检查系统成像方法

[发明专利]扫描图像校正装置、方法和移动式扫描设备-CN201711456583.9有效
发明人：李柯;李荐民;喻卫丰;李玉兰;杨学敬;李元景;宗春光;陈志强;张丽 -专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2017-12-28 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种扫描图像校正装置、方法和移动式扫描设备。该装置包括：图像采集模块，被配置为在使用移动式图像扫描设备扫描受检物的扫描过程中，采集受检物的扫描图像，确定扫描图像的图像参数；臂摆检测模块，被配置为在扫描过程中，检测探测器臂在指定方向上的位移偏移量，并建立探测器臂的臂摆模型，以拟合探测器臂的位移偏移量与扫描过程中的时间的函数关系；图像参数校正模块，被配置为通过臂摆模型和扫描图像的图像参数，确定扫描图像的图像参数随探测器臂的位移偏移量的变化关系，并基于变化关系对扫描图像进行校正。根据本发明实施例提供的扫描图像校正装置，可以改善扫描图像的成像质量，获得较好的扫描图像校正效果。
扫描图像校正装置方法移动式设备

[实用新型]CT设备-CN202223603424.6有效
发明人：张丽;陈志强;黄清萍;李元景;冯博;李桂培;张立国;洪明志 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：提供了一种CT设备，包括：第一机架；设置在第一机架上的多个支撑装置，每一个支撑装置包括多个可旋转轮，其中，至少一个支撑装置的至少一个可旋转轮作为驱动轮；可旋转部，可旋转部能够在驱动轮的驱动下围绕旋转轴线旋转，在可旋转部旋转过程中，可旋转部由多个支撑装置共同支撑；扫描装置，扫描装置包括射线源和探测器，射线源和探测器均设置在可旋转部上，且射线源和探测器沿可旋转部的径向相对设置；第二机架，第二机架与第一机架相对设置；以及磁力装置，磁力装置设置在第一机架和第二机架中的至少一个上，磁力装置用于在可旋转部旋转时给可旋转部提供磁力，磁力的至少一部分分力与可旋转部的重力的方向相反。
ct 设备

[发明专利]叉臂托举式牵引车-CN201711443720.5有效
发明人：何远;李荐民;李洪旗;李玉兰;王强强;李元景;陈志强;张丽 -专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2017-12-27 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： B62D49/00 文献下载
摘要：本发明提出一种叉臂托举式牵引车。本发明的叉臂托举式牵引车包括车体、托板、升降装置、前叉臂组件、后叉臂组件、前叉臂驱动组件和后叉臂驱动组件。车体活动地设于一通道。托板设于车体上方。升降装置能驱动托板升/降。前叉臂组件包括设于托板且能水平转动的两个前叉臂。后前叉臂组件包括设于托板且能水平转动的两个后叉臂，两个前叉臂和两个后叉臂均分居通道的中心线两侧且均能从托板两侧伸出或缩回。前叉臂驱动组件包括设于托板的前传动件和前动力装置，前动力装置能驱动前传动件水平直线移动，使两个前叉臂转动。后叉臂驱动组件包括设于托板的后传动件和后动力装置，后动力装置能驱动后传动件水平直线移动，使两个后叉臂转动。
托举牵引车

[发明专利]多功能离子迁移谱仪装置-CN201811653906.8有效
发明人：张清军;李元景;陈志强;李荐民;刘耀红;朱伟平;马秋峰;曹彪;李鸽;王巍;严李李;李广勤 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01N27/622 文献下载
摘要：本公开的实施例提供一种离子迁移谱仪装置。离子迁移谱仪装置包括：离子迁移谱仪、采样装置以及采样和循环气路。采样装置包括固体样品解吸装置和气体采样装置，其中固体样品解吸装置配置成将固体样品处理成包含固体样品的第一混合气体，气体采样装置配置成将气体样品处理成包含气体样品的第二混合气体。所述采样和循环气路能够将该第一混合气体和/或第二混合气体送入离子迁移谱仪用于检测。
多功能离子迁移装置

[发明专利]用于报关信息与货物监管信息的处理方法、装置及系统-CN201710245683.0有效
发明人： 李元景;李荐民;吴相豪;陈刚;戴俊娣;李永安 -专利权人：同方威视科技江苏有限公司
申请日： 2017-04-14 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G06K17/00 文献下载
摘要：本公开涉及一种用于报关信息与货物监管信息的处理方法、装置及系统，属于数据处理领域。该用于报关信息与货物监管信息的处理方法包括：接收货物报关信息；根据所述货物报关信息生成报关单号及对应的标签；接收货物监管信息，并根据所述报关单号和/或标签将所述货物报关信息和所述货物监管信息关联存储。根据本公开的用于报关信息与货物监管信息的处理方法、装置及系统，能够实现货物报关信息和货物监管信息的双向绑定，达到信息融合、共享。
用于报关信息货物监管处理方法装置系统

[实用新型]矿物分选装置及矿物分选系统-CN202222327523.X有效
发明人： 李元景;孙尚民;杨祎罡;明申金;刘必成;王东宇;党永乐;宗春光;崔桐源;于洋懿 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2022-09-01 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本实用新型公开一种矿物分选装置及矿物分选系统。矿物分选装置包括输送机构、位于输送机构上方的第一光源组件、位于输送机构下方的第一探测器组件以及分选机构。根据本实用新型矿物分选装置及矿物分选系统，能够完成矿物、特别是锂矿或硼矿的分选，减小环境污染、降低耗水、降低选矿成本且降低能耗，并确保选矿产品质量的稳定可靠。
矿物分选装置系统

[发明专利]检测装置及用于电芯检测的检测方法-CN202310693554.3在审
发明人：李亮;陈志强;李元景;张丽;洪明志;常铭;王子楠 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2023-06-12 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测装置及用于电芯检测的检测方法，所述检测装置包括：支撑机构、旋转机构、传送机构、移动机构以及检测机构。旋转机构设置于支撑机构，旋转机构包括：旋转支架和旋转盘，旋转支架设置于支撑机构，旋转盘可相对于旋转支架进行周向转动；传送机构适于将电芯传送至检测区域，且传送机构垂直于检测机构的旋转轴心延伸设置；移动机构设于支撑机构与旋转机构之间，旋转机构可在移动机构的支撑下与支撑机构发生相对移动；检测机构设置于旋转盘，检测机构适于对传送机构上的电芯进行检测，且检测机构适于在旋转盘上进行周向旋转。由此，检测装置可在降低电芯摆放需求的同时，提高检测质量以及检测效率。
检测装置用于方法

[发明专利]传送系统以及检测设备-CN202210786288.4在审
发明人：张丽;陈志强;黄清萍;洪明志;李元景;李桂培;张立国;杨建学 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2022-07-04 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： B65G15/58 文献下载
摘要：提供一种传送系统以及检测设备，该传送系统包括：传送机构，用于传送检测物品；以及限位机构，用于对所述检测物品进行限位，其中，所述限位机构包括：限位部，用于阻挡所述检测物品沿所述传送机构移动；以及驱动部，与所述限位部连接，用于驱动所述限位部移动，使得所述限位部与所述检测物品相抵以阻挡所述检测物品。本公开可以通过限位机构对传送机构输送的检测物品进行精准定位，有效的解决现有传动系统定位精度不够的问题。
传送系统以及检测设备

[发明专利]传送系统以及检测设备-CN202210786243.7在审
发明人：张丽;陈志强;李元景;黄清萍;洪明志;李桂培;张立国;杨建学 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2022-07-04 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： B65G15/58 文献下载
摘要：提供一种传送系统以及检测设备，该传送系统包括：第一传送机构，用于将检测物品传送至第一位置处；以及第二传送机构，用于将第一位置处的检测物品传送至第二位置处，其中，第二传送机构包括：支承部，用于支承检测物品；驱动部，与支承部连接，用于驱动支承部从第一位置处移动至第二位置处；以及限位部，与支承部连接，支承部在从第一位置处向第二位置处移动的状态下，限位部与检测物品相抵以对检测物品进行限位。本公开可以利用限位部对检测物品进行阻挡限位，以保证检测物品在被传送至第二传送机构上时，检测物品能被精准定位在第二传送机构上，从而满足传送系统的高定位精度需求。
传送系统以及检测设备

[发明专利]检测装置及用于电芯检测的检测方法-CN202310695770.1在审
发明人：陈志强;李元景;张丽;李亮;洪明志;常铭;王子楠 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2023-06-12 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测装置及用于电芯检测的检测方法，所述检测装置包括：支撑机构、旋转机构、传送机构以及检测机构。旋转机构设置于支撑机构；传送机构适于传送电芯；检测机构设置于旋转机构，检测机构包括：射线源和探测器，射线源与探测器适于对传送机构上的电芯进行检测，且射线源与探测器适于在旋转机构上进行周向旋转。由此，检测装置可在降低电芯摆放需求的同时，提高检测质量以及检测效率。
检测装置用于方法

[发明专利]检测装置及用于电芯检测的检测方法-CN202310693090.6在审
发明人： 李元景;陈志强;张丽;李亮;洪明志;常铭;王子楠 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2023-06-12 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测装置及用于电芯检测的检测方法，所述检测装置包括：支撑机构、旋转机构、传送机构以及检测机构。旋转机构设置于支撑机构，旋转机构包括：旋转支架和旋转盘，旋转支架设置于支撑机构，旋转盘可相对于旋转支架进行周向转动；传送机构包括两个分别设置在旋转盘两侧的往复式传送带，往复式传送带适于携带电芯进入或离开检测区域；检测机构设置于旋转盘，检测机构包括：射线源和探测器，射线源与探测器适于对传送机构上的电芯进行检测，且射线源与探测器适于在旋转盘上进行周向旋转。由此，检测装置可在降低电芯摆放需求的同时，提高检测质量以及检测效率。
检测装置用于方法

[发明专利]检测装置及用于电芯检测的检测方法-CN202310693558.1在审
发明人：洪明志;陈志强;李元景;张丽;李亮;王子楠;常铭 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2023-06-12 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测装置及用于电芯检测的检测方法，所述检测装置包括：支撑机构、旋转机构、传送机构、转动机构以及检测机构。旋转机构设置于支撑机构，旋转机构包括：旋转支架和旋转盘，旋转支架设置于支撑机构，旋转盘可相对于旋转支架进行周向转动；传送机构穿过旋转盘，且传送机构适于传送电芯；转动机构设于支撑机构与旋转机构之间，旋转机构可在转动机构的支撑下与支撑机构发生相对转动；检测机构设置于旋转盘，检测机构包括：射线源和探测器，射线源与探测器适于对传送机构上的电芯进行检测，且射线源与探测器适于在旋转盘上进行周向旋转。由此，检测装置可在降低电芯摆放需求的同时，提高检测质量以及检测效率。
检测装置用于方法

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