[实用新型]晶圆级半导体器件有效

专利信息
申请号: 201420043692.3 申请日: 2014-01-23
公开(公告)号: CN203871335U 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 蔡勇;张亦斌;徐飞 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15;H01L33/00
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王锋
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供了一种晶圆级半导体器件,包括晶圆级基片;形成于基片表面且并联设置的多个串联组,每一串联组包括串联设置的多个并联组,每一并联组包括并联设置的多个单胞,其中每一单胞均是由直接生长于所述基片表面的半导体层加工形成的独立功能单元;以及,导线,其至少电性连接于每一串联组中的两个选定并联组之间,用以使所有串联组的导通电压基本一致。本实用新型的器件结构简单,且其制程简单便捷、低成本,良品率高,适于规模化制造和应用。
搜索关键词: 晶圆级 半导体器件
【主权项】:
一种晶圆级半导体器件,其特征在于,包括:晶圆级基片;形成于基片表面且并联设置的多个串联组,每一串联组包括串联设置的多个并联组,每一并联组包括并联设置的多个单胞,其中每一单胞均是由直接生长于所述基片表面的半导体层加工形成的独立功能单元;以及,导线,其至少电性连接于每一串联组中的一个选定并联组与所述半导体器件的一个电极之间和/或两个选定并联组之间,用以使所有串联组的导通电压基本一致。
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