[发明专利]一种通过硒元素掺杂提高铜镉锡硫薄膜晶粒尺寸的制备方法无效

专利信息
申请号: 201410326642.0 申请日: 2014-07-10
公开(公告)号: CN104060235A 公开(公告)日: 2014-09-24
发明(设计)人: 孟磊;徐娜;陈哲 申请(专利权)人: 吉林化工学院
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/58;C23C14/06;H01L31/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 132022*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明涉及一种通过硒元素掺杂改变铜镉锡硫(Cu2CdSnS4)薄膜晶粒尺寸的制备方法。其特征是采用铜镉锡硫单一靶材磁控溅射铜镉锡硫预制膜,对预制膜进行硒元素掺杂硫化热处理,得到晶粒尺寸较大的优质铜镉锡硫薄膜。最大晶粒尺寸可达到2mm。本方法工艺简单,成本低廉,操作方便,可重复性强,有助于铜镉锡硫吸收层的太阳电池的产业化发展。
搜索关键词: 一种 通过 元素 掺杂 提高 铜镉锡硫 薄膜 晶粒 尺寸 制备 方法
【主权项】:
一种通过硒元素掺杂提高铜镉锡硫薄膜晶粒尺寸的制备方法,其特征在于采用铜镉锡硫单一靶材进行磁控溅射,对溅射后的薄膜进行掺入硒元素的硫化热处理,将获得大晶粒尺寸的铜镉锡硫薄膜。
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