[发明专利]隧道场效应晶体管及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201310365871.9 申请日: 2013-08-20
公开(公告)号: CN104425593B 公开(公告)日: 2017-12-29
发明(设计)人: 黄新运;丁士成 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/423;H01L29/08;H01L21/336;H01L21/28
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 骆苏华
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种隧穿场效应晶体管及其形成方法,所述隧穿场效应晶体管包括半导体衬底,所述半导体衬底包括鳍部;栅极结构,所述栅极结构横跨所述鳍部的中部;源极,所述源极横跨所述鳍部的一端;漏极,位于所述鳍部的另一端;所述漏极的导电类型为第一导电类型,所述源极的导电类型为第二导电类型,所述第一导电类型和所述第二导电类型不同。本发明所提供隧穿场效应晶体管中PN结隧穿面积较大,隧穿场效应晶体管的工作电流较大,包括所提供隧穿场效应晶体管的器件的响应速度。
搜索关键词: 隧道 场效应 晶体管 及其 形成 方法
【主权项】:
一种隧穿场效应晶体管,其特征在于,包括:半导体衬底,所述半导体衬底包括鳍部;栅极结构,所述栅极结构横跨所述鳍部的中部;源极,所述源极横跨所述鳍部的一端;漏极,位于所述鳍部的另一端;所述漏极的导电类型为第一导电类型,所述源极的导电类型为第二导电类型,所述第一导电类型和所述第二导电类型不同;所述隧穿场效应晶体管还包括源极轻掺杂区和漏极轻掺杂区;所述源极轻掺杂区位于所述源极下方的鳍部内,所述漏极轻掺杂区位于所述漏极下方的鳍部内;所述源极轻掺杂区和所述漏极轻掺杂区的导电类型为第一导电类型。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310365871.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top