[发明专利]封装件及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201210065841.1 申请日: 2012-03-13
公开(公告)号: CN103066032A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 陈孟泽;林俊成;蔡钰芃;林修任;郑明达;刘重希 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L21/56;H01L25/16
代理公司: 北京德恒律师事务所 11306 代理人: 陆鑫;房岭梅
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种器件包括:封装部件,具有顶面上方的导电部件,以及聚合物区域,模制在第一封装部件的顶面上方。多个开口从聚合物区域的顶面延伸到聚合物区域中,其中,导电部件中的每一个通过多个开口中的一个露出。多个开口包括:第一开口,具有第一水平尺寸;以及第二开口,具有第二水平尺寸,第一水平尺寸不同于第二水平尺寸。本发明还提供了封装件及其形成方法。
搜索关键词: 封装 及其 形成 方法
【主权项】:
一种器件,包括:第一封装部件,包括顶面上方的导电部件;聚合物区域,模制在所述第一封装部件的所述顶面上方;以及多个开口,从所述聚合物区域的顶面延伸到所述聚合物区域中,其中,通过所述多个开口的每一个露出所述导电部件的一个,以及其中,所述多个开口包括:第一开口,具有第一水平尺寸;和第二开口,具有第二水平尺寸,所述第一水平尺寸不同于所述第二水平尺寸。
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