[发明专利]半导体承载件暨封装件及其制法有效

专利信息
申请号: 201210059514.5 申请日: 2012-03-08
公开(公告)号: CN103247578A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 白裕呈;孙铭成;萧惟中;林俊贤;洪良易 申请(专利权)人: 矽品精密工业股份有限公司
主分类号: H01L23/14 分类号: H01L23/14;H01L23/498;H01L21/48;H01L21/50;H05K1/02
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种半导体承载件暨封装件及其制法,该半导体承载件包括介电层、至少一置晶柱、多个导电柱、第一线路层与第二线路层,该置晶柱与导电柱贯穿该介电层,且具有相对的第一表面与第二表面,该第一线路层形成于该第一表面侧的介电层、置晶柱与导电柱上,且具有分别电性连接该置晶柱与导电柱的置晶垫与第一电性连接垫,该第二线路层形成于该第二表面侧的介电层、置晶柱与导电柱上,且具有分别对应该置晶柱与导电柱的导热垫与第二电性连接垫。本发明能有效防止线路层剥离,并可达到线路细间距的效果。
搜索关键词: 半导体 承载 封装 及其 制法
【主权项】:
一种半导体承载件,其包括:介电层,其形成有贯穿该介电层的至少一置晶柱与多个导电柱,且该至少一置晶柱与多个导电柱具有相对的第一表面与第二表面;第一线路层,其形成于该第一表面侧的介电层、置晶柱与导电柱的端部上,且具有分别电性连接该置晶柱与导电柱的置晶垫与第一电性连接垫;以及第二线路层,其形成于该第二表面侧的介电层、置晶柱与导电柱的端部上,并具有分别对应该置晶柱与导电柱的导热垫与第二电性连接垫。
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