[发明专利]半导体元件的封装方法无效

专利信息
申请号: 201010196098.4 申请日: 2010-06-03
公开(公告)号: CN102270586A 公开(公告)日: 2011-12-07
发明(设计)人: 张文雄 申请(专利权)人: 宏宝科技股份有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/78;H01L27/146;B81C3/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 彭久云
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明为一种半导体元件的封装方法。首先,提供含有多个管芯的晶片,且在晶片的有源面粘置载板。然后在每一个管芯中形成贯穿晶片的多个开口。之后,在晶片的背面与开口侧壁顺应性形成绝缘层。接着,形成金属层以覆盖绝缘层与开口底部。随后,形成图案化保护层以覆盖金属层,且暴露出每一个管芯的开口外侧的部分金属层。继之,移除此载板,且切割晶片以分离出多个管芯。然后,再提供具有多个封装单元区的透明基板,且每一个封装单元区的周边形成有间隔层。接着,挑选这些管芯中的良品管芯,且置于每一个封装单元区的间隔层上。
搜索关键词: 半导体 元件 封装 方法
【主权项】:
一种半导体元件的封装方法,包括:提供含有多个管芯的晶片,且在该晶片的有源面粘置载板;在每一管芯中形成贯穿该晶片的多个开口;在该晶片的背面与该多个开口侧壁顺应性形成绝缘层;形成金属层,以覆盖该绝缘层与该多个开口的底部;形成图案化保护层以覆盖该金属层,且暴露出每一管芯的该多个开口外侧的部分金属层;移除该载板,且切割该晶片以分离该多个管芯;提供具有多个封装单元区的透明基板,且每一封装单元区的周边形成有间隔层;以及挑选该多个管芯中的良品管芯,且置于每一封装单元区的该间隔层上。
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