[发明专利]半导体元件的封装方法无效
申请号: | 201010196098.4 | 申请日: | 2010-06-03 |
公开(公告)号: | CN102270586A | 公开(公告)日: | 2011-12-07 |
发明(设计)人: | 张文雄 | 申请(专利权)人: | 宏宝科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/78;H01L27/146;B81C3/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 彭久云 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明为一种半导体元件的封装方法。首先,提供含有多个管芯的晶片,且在晶片的有源面粘置载板。然后在每一个管芯中形成贯穿晶片的多个开口。之后,在晶片的背面与开口侧壁顺应性形成绝缘层。接着,形成金属层以覆盖绝缘层与开口底部。随后,形成图案化保护层以覆盖金属层,且暴露出每一个管芯的开口外侧的部分金属层。继之,移除此载板,且切割晶片以分离出多个管芯。然后,再提供具有多个封装单元区的透明基板,且每一个封装单元区的周边形成有间隔层。接着,挑选这些管芯中的良品管芯,且置于每一个封装单元区的间隔层上。 | ||
搜索关键词: | 半导体 元件 封装 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体元件的封装方法,包括:提供含有多个管芯的晶片,且在该晶片的有源面粘置载板;在每一管芯中形成贯穿该晶片的多个开口;在该晶片的背面与该多个开口侧壁顺应性形成绝缘层;形成金属层,以覆盖该绝缘层与该多个开口的底部;形成图案化保护层以覆盖该金属层,且暴露出每一管芯的该多个开口外侧的部分金属层;移除该载板,且切割该晶片以分离该多个管芯;提供具有多个封装单元区的透明基板,且每一封装单元区的周边形成有间隔层;以及挑选该多个管芯中的良品管芯,且置于每一封装单元区的该间隔层上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造