[发明专利]半导体器件无效

专利信息
申请号: 200810083430.9 申请日: 2008-03-05
公开(公告)号: CN101261993A 公开(公告)日: 2008-09-10
发明(设计)人: 高桥寿史 申请(专利权)人: 恩益禧电子股份有限公司
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;H01L27/105;H01L27/02;H01L27/08;H01L27/085
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 王波波
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 本申请公开了一种半导体器件。在包括排列成阵列的多个单位单元的半导体器件中,晶体管依赖于阵列中的位置而不同程度地受到来自STI的应力的影响。结果,在晶体管特性方面出现变化。在根据本发明的半导体器件中,阵列中的最外侧单元块中的预定晶体管的每一个具有根据来自所述STI的应力设定的晶体管尺寸。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
1.一种半导体集成电路,包括:多个单位单元的阵列;以及围绕所述阵列的器件隔离,其中在器件隔离附近的一个所述单位单元具有与设置为远离器件隔离的另一个所述单位单元中的另一个晶体管相比物理特性不同而电学特性实质上相同的晶体管。
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