专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种钢筋保护层垫块的锚固结构-CN202320825732.9有效
  • 沈海涛;姚磊;周新田;田丰收;吴崇乾;林海彬;冯顺平;蒋雪磊;仇韵 - 浙江恒山建设有限公司
  • 2023-04-10 - 2023-10-27 - E04C5/16
  • 本实用新型涉及建筑相关技术领域,且公开了一种钢筋保护层垫块的锚固结构,环形垫块的一侧一体成型有弧形凸起块,环形垫块的一侧设有锚固组件,环形垫块的外侧设有锁紧组件,锚固组件包括铁线组,铁线组的外侧固定套接有橡胶管,本实用新型在钢筋外侧安装保护层垫块时,将铁线组套在钢筋外侧,露出的铁线贯穿环形垫块之后,将弧形套筒套在环形垫块的外侧,推动弧形套筒相对环形垫块移动,通过紧固机构固定于环形垫块的外侧,在此过程中,弧形部对弧形凸起块挤压,使得铁线分散,下部嵌入于第一防滑槽内,上部嵌入于第二防滑槽内,起到锁紧目的,实现快速锚固,反转弧形套筒,使得弧形套筒脱离环形垫块,即可将铁线组脱离钢筋。
  • 一种钢筋保护层垫块锚固结构
  • [发明专利]一种辐照加固的SiC超结MOS结构-CN202111167188.5有效
  • 周新田;张仕达;贾云鹏;胡冬青;吴郁 - 北京工业大学
  • 2021-10-03 - 2023-09-19 - H01L29/78
  • 本发明提供一种辐照加固的SiC超结MOS结构,从下至上依次为N+漏区,P柱和N柱交替排列,位于N+漏区的上表面;左侧P‑base区、右侧P‑base区、左侧N‑source区、右侧N‑source区位于所述P‑base5的上表面;左中右三个P柱在芯片内部连为一体,并与左侧P‑plus区、右侧P‑plus相连;栅氧位于所述左侧N‑source区部分区域、右侧N‑source区部分区域、左侧P‑base区的预设区部分区域、右侧P‑base区的预设区部分区域、部分N柱的上表面;多晶硅栅,位于栅氧与隔离氧之间,栅氧位于最上端。本发明具有较强的抗辐照能力,同时具有栅漏电容低、开关损耗低、短路能力强的特点。
  • 一种辐照加固sicmos结构
  • [发明专利]一种基于LDMOS器件内栅电荷补偿的抗总剂量方法-CN202111250922.4有效
  • 王正江;胡冬青;贾云鹏;蒋佳烨;周新田;吴郁;李新宇 - 北京工业大学
  • 2021-10-26 - 2023-09-12 - H01L29/78
  • 一种基于MOS器件内栅电荷补偿的抗总剂量效应的方法属于抗辐照半导体技术领域。本发明至少包括两种新型MOS器件结构和一种新型电路结构,能够大幅度增强LDMOS器件的抗辐照性能。本发明针对星载LDMOS在总剂量效应作用下产生的阈值漂移甚至是器件失效,提出在LDMOS栅极添加辅助栅极以共同构成复合栅极,再通过旁置的浮栅MOS来引入外部负压源。当总剂量效应使得LDMOS栅氧化层中积累一定量的正电荷后,通过浮栅MOS检测LDMOS阈值漂移程度,且其自身与外部负压源共同向LDMOS辅助栅极引入负电荷来抑制LDMOS的阈值漂移,并在LDMOS阈值回归正常范围后停止该过程,总体上达到将LDMOS阈值控制在合理范围内的效果。本发明可提高集成电路的抗辐照能力。
  • 一种基于ldmos器件电荷补偿剂量方法
  • [发明专利]地下室防水结构及施工工艺-CN202310345711.1在审
  • 沈明虎;马国强;鲍佳军;胡志洪;李华峰;黄新宇;周新田;姚磊;钱涛 - 浙江恒山建设有限公司
  • 2023-03-31 - 2023-08-15 - E02D31/02
  • 本发明涉及建筑施工技术领域,且公开了地下室防水结构及施工工艺,包括从下向上依次叠铺的垫土层、地下室底板、防渗膜、钢筋混凝土层和表面防护层,地下室底板的表面均匀开设有导水槽,防渗膜铺设于地下室底板的表面,防渗膜的顶部铺设有第一防水层,地下室底板的两侧均开设有集水沟,集水沟与导水槽相连通,本地下室防水结构在地下室底板的顶部铺设防渗膜配合第一防水层构成双重防渗结构,相比于传统单一式结构的防水层具有更好的防渗效果,而且利用在地下室底板顶部设置的导水槽与集水沟构成导流排水结构,可对下层渗出的渗水进行导流收集并排出到外部的排水结构内,相比于传统的隔绝式防水结构,具有更好的防渗效果和使用寿命。
  • 地下室防水结构施工工艺
  • [发明专利]一种深基坑支护施工工艺-CN202310525211.6在审
  • 马国强;姚磊;李华峰;高海明;胡志洪;吴崇乾;黄新宇;周新田 - 浙江恒山建设有限公司
  • 2023-05-09 - 2023-07-28 - E02D17/04
  • 本发明涉及工程施工技术领域,且公开了一种深基坑支护施工工艺,包括以下步骤:S1、深基坑底部开槽;S2、在槽内浇筑混凝土;S3、将围护体放置按照放置槽排列;S4、将相邻的围护体连接面贴合,使得提示组件处于开始工作状态;S5、调节连接组件,使得支撑柱抵触在第一限位槽内侧;S6、完成深基坑支护,通过固定架内部的电机输出轴带动丝杠转动,使得滑块和支撑柱伸出,从而使得支撑柱一端抵触在第一限位槽的内侧,使得支撑柱和固定架与两个围护体内侧壁组成三角形,并且可以根据围护体的高度设置多组连接组件,提高了围护体在对深基坑进行支护时的侧壁的垂直度,保证了围护体对深基坑的支撑效果。
  • 一种基坑支护施工工艺
  • [发明专利]一种具有内嵌沟道二极管的SiC MOSFET结构-CN201911040815.1有效
  • 周新田;庞浩洋;贾云鹏;胡冬青;吴郁 - 北京工业大学
  • 2019-10-30 - 2023-03-21 - H01L29/78
  • 本发明提供一种具有内嵌沟道二极管的SiC MOSFET结构,从下至上依次为漏极金属,衬底层,N‑漂移层,JFET区;P‑base区位于JFET区两侧,P‑base预设区域上表面为N+源区及P‑plus区;左侧N+源区、P‑base区以及部分JFET区上表面为MOSFET栅氧,右侧为厚度较薄的沟道二极管栅氧;MOSFET多晶硅栅位于MOSFET栅氧的上表面;沟道二极管多晶硅栅位于沟道二极管栅氧的上表面;隔离氧位于MOSFET多晶硅栅、沟道二极管多晶硅栅以及裸露的MOSFET栅氧和沟道二极管栅氧的上表面;源极金属位于N+源区、P‑plus区及隔离氧的上表面,且与沟道二极管多晶硅栅相连。
  • 一种具有沟道二极管sicmosfet结构
  • [发明专利]一种具有超结结构的碳化硅肖特基二极管-CN202210432449.X在审
  • 周新田;卢翔鸾;贾云鹏;胡冬青;吴郁;刘峰;宗雷 - 北京工业大学;阜新嘉隆电子有限公司
  • 2022-04-23 - 2022-07-22 - H01L29/06
  • 一种具有超结结构的碳化硅肖特基二极管涉及功率半导体技术领域,包括衬底层,外延层,P型注入区,氧化层,金属电极层,金属电极层包括阳极金属层与阴极金属层,所述衬底层设置于外延层层之上,所述外延层从上至下分为第一外延层,第二外延层与第三外延层,所述第三外延层设置于衬底层之上,所述第一外延层上端与阳极金属层接触,所述第二外延层位于第一外延层及第三外延层之间,所述外延层上开设矩形沟槽,氧化层设置于沟槽内部,氧化层与外延层之间设置P型注入区,所述P型注入区包裹氧化层,将氧化层与外延层分隔开。P型注入区侧面与第一外延层及第二外延层接触,P型注入区底部与第二外延层接触,顶部与阳极金属层接触。
  • 一种具有结构碳化硅肖特基二极管

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