专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种半导体激光器的测试和老化装置及方法-CN201510046050.8有效
  • 杨扬;孙素娟;苏建;江建民;李沛旭;徐现刚 - 山东华光光电子股份有限公司
  • 2015-01-29 - 2020-01-10 - G01R31/26
  • 一种半导体激光器的测试和老化装置,包括测试部和器件待测部;测试部包括有弹簧片、驱动弹簧片上下位移的固定块;弹簧片包括有开口回形弯曲段和L形测试段;在L形测试段的末端连接有绝缘块;在绝缘块上设置有两个彼此绝缘的弹簧针,分别将激光器COS或器件的正、负极接出;固定块包括C形开口,弹簧片的开口回形弯曲段设置在所述C形开口内,并通过贯穿于C形开口的螺钉对开口回形弯曲段挤压或释放,实现所述L形测试段与器件待测部之间的距离调节。本发明可实现对半导体激光器COS或器件的快速测试、分选及批量测试,也可在半导体激光器COS或器件的老化过程中实时的对各类参数进行检测,避免将不良品组装成器件导致的成本上升和原材料浪费。
  • 一种半导体激光器测试老化装置使用方法

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