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[发明专利]芯片的测试方法及装置-CN202111291349.1在审
发明人：张太白 -专利权人：海光信息技术股份有限公司
申请日： 2021-11-03 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种芯片的测试方法，执行于存储有测试参数包的数据服务器，包括：获取用户输入的更新测试参数，在测试参数包中查询是否具有与更新测试参数对应的历史测试参数；当测试参数包具备对应的历史测试参数时，将更新测试参数进行存储并记录更新测试参数的版本；当测试参数包不具备对应的历史测试参数时，将更新测试参数进行存储，向执行测试程序的测试服务器发送更新通知，以使测试服务器获取与更新测试参数对应的更新测试程序。本发明提供的芯片的测试方法及装置，能够将测试参数与测试程序本身进行解耦，在未增加新的功能模块和测试方法的时候，测试参数单独更新，无需对测试程序进行升版，从而，减少维护过程所需要投入的人力和时间。
芯片测试方法装置

[发明专利]测试参数的生成方法、系统、设备、介质及软件测试方法-CN202211042525.2在审
发明人：吴林泽;刘艺;林宝洪;黄志兰;樊勇兵 -专利权人：中国电信股份有限公司
申请日： 2022-08-29 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供了一种测试参数的生成方法、系统、设备、介质及软件测试方法，所述测试参数的生成方法包括步骤：获取测试脚本文件和软件部署文档；对所述测试脚本文件进行解析，得到测试参数集合；所述测试参数集合包括第一类测试参数和第二类测试参数；自所述软件部署文档获取与所述第一类测试参数对应的参数值；采用预设参数生成模板生成与所述第二类测试参数对应的参数值；基于所述第一类测试参数、所述第二类测试参数以及各自对应的参数值，生成测试参数配置文件；本发明实现快速自动化生成测试参数配置文件，利于提高测试人员的测试效率。
测试参数生成方法系统设备介质软件

[发明专利]一种参数的测试方法和设备-CN201210025878.1有效
发明人：易杰 -专利权人：腾讯科技（深圳）有限公司
申请日： 2012-02-07 - 公布日： 2017-03-15 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种参数的测试方法和设备，该方法包括确定测试目标以及所述测试目标对应的测试参数，并根据客户端标识将客户端分成多个测试组；为每个测试组配置所述测试参数的参数值，且每个测试组所配置的参数值不同；利用所述测试参数的参数值对该参数值所对应的测试组内的客户端进行测试，并获取所述多个测试组的测试效果；确定所述多个测试组的测试效果中最优的测试组所使用的参数值为所述测试参数的目标参数值。本发明实施例中，可同时支持多组参数值的测试，通过统计回归方法找出效果最好的一组参数值，从而快速获得效果最好的测试参数的参数值，节省测试时间，继而实现广告效果最大化的目标。
一种参数测试方法设备

[发明专利]测试方法和装置-CN201710933266.5有效
发明人：马刚;王海 -专利权人：北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司
申请日： 2017-10-10 - 公布日： 2022-06-07 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请公开了测试方法和装置。该方法的一具体实施方式包括：接收第一测试请求，其中，测试请求包括：测试参数集合、测试参数值集合，测试参数是待测试应用的参数集合中的参数，测试参数值与测试参数相对应且是预先设置的；执行以下处理步骤：将第一测试请求所包括的测试参数集合以及测试参数值集合存储至存储器；基于该存储器所存储的测试参数和测试参数值，运行待测试应用，以生成至少一条测试日志。该实施方式提高了测试的灵活性。
测试方法装置

[发明专利]相机参数测试方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202211621501.2在审
发明人：曾峙威;吕江波;沈小勇 -专利权人：深圳思谋信息科技有限公司
申请日： 2022-12-16 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种相机参数测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取至少两个相机测试参数，组成当前相机参数集；将至少两个相机测试参数依次作为初始测试参数，并获取初始测试参数对应的参数测试范围以及对应的测试步长；基于测试步长在参数测试范围内依次得到各个目标测试参数；基于各个目标测试参数通过相机采集得到对应的各个目标图像；根据各个目标图像对应的图像参数绘制得到对应的图像属性曲线；根据图像属性曲线的形态特征确定各个相机测试参数分别对应的参考测试结果；基于参考测试结果得到当前相机参数集对应的目标测试结果采用本方法能够有效提高对相机模块参数的测试效率。
相机参数测试方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]一种存储设备测试方法、系统、设备及计算机存储介质-CN201710882683.1在审
发明人：玄加林 -专利权人：郑州云海信息技术有限公司
申请日： 2017-09-26 - 公布日： 2018-01-19 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种存储设备测试方法、系统、设备及计算机存储介质，其中该方法包括获取取值范围预先确定的N类测试参数；从每一类测试参数中选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同；判断参与性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，若是，则执行从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组的步骤，若否，则结束测试，计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。本发明提供的一种存储设备测试方法实现了自动组合测试参数，降低了用户组合测试参数的组合难度，解决了如何提高存储设备测试过程的测试效率的技术问题。
一种存储设备测试方法系统计算机介质

[发明专利]手持参数测试仪和参数测试方法-CN202110758219.8有效
发明人：肖业伟 -专利权人：湖南亿能电子科技有限公司
申请日： 2021-07-05 - 公布日： 2021-10-26 - 主分类号： G01R27/08 文献下载
摘要：本申请实施例中提供了一种手持参数测试仪和参数测试方法，包括主控单元、温度传感器、显示屏、电阻测试电路和模数转换单元；温度传感器与主控单元连接，用于将检测到的温度值发送至主控单元；电阻测试电路与模数转换单元连接，电阻测试电路用于测量被测物体的电阻，并将测试结果发送至模数转换单元；模数转换单元与主控单元连接，用于将接收到的模拟信号转换为数字信号并发送至主控单元；主控单元用于根据温度传感器检测到的温度值对被测物体的电阻测量值进行电阻补偿本申请通过温度传感器检测环境温度，并根据温度值对被测物体的电阻值测量值进行补偿和修正，以提升手持参数测试仪在野外等复杂环境下的测量准确度。
手持参数测试仪测试方法

[发明专利]一种存储介质及晶圆级集成电路电学参数的测试方法-CN201811154053.3有效
发明人：郑勇军;成家柏;郑楷 -专利权人：杭州广立微电子有限公司
申请日： 2018-09-29 - 公布日： 2020-11-17 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明涉及一种存储介质及晶圆级集成电路电学参数的测试方法；晶圆级集成电路电学参数的测试方法包括以下步骤:a)根据待测试结构的电学参数及测试所需的测试输入参数划分测试计划组，将待测试结构的电学参数相同且测试所需的测试输入参数相同的测试计划分为一组；b)读取当前测试计划组的测试输入参数并进行配置；c)对当前测试计划组内各个测试结构的电学参数进行逐个测试；d)判断当前测试计划组中是否还有其他测试结构未测试；e)判断是否还有其他测试计划组未测试。本发明能根据待测试电学参数的类型以及测试输入参数异同对测试计划进行分类，显著提高测试效率。
一种存储介质晶圆级集成电路电学参数测试方法

[发明专利]硬盘性能测试方法、装置及电子设备-CN202310645066.5在审
发明人：李杨琪;盖晨臣;侯超 -专利权人：长城超云(北京)科技有限公司
申请日： 2023-06-01 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明提供了一种硬盘性能测试方法、装置及电子设备，涉及服务器、PC机测试技术领域，方法包括：获取预设的多个测试参数，将多个测试参数组装成第一测试命令；运行第一测试命令，得到第一性能测试结果；选取第一测试命令中的至少一个测试参数为迭代参数，按照预设的性能测试需求依次修改迭代参数的参数值，得到多个第二测试命令；运行每个第二测试命令，得到每个第二测试命令对应的第二性能测试结果；选取性能参数满足预设性能阈值时的测试参数为目标运行参数，并将满足预设性能阈值的性能参数确定为待测试硬盘的优选性能参数本发明利用第一测试命令、第二测试命令可以进行全量测试，还能得出待测试硬盘的优选性能参数，测试高效。
硬盘性能测试方法装置电子设备

[发明专利]测试用例集处理方法、处理装置、系统及可读存储介质-CN202211142511.8在审
发明人：于鹏飞;唐志刚 -专利权人：用友网络科技股份有限公司
申请日： 2022-09-20 - 公布日： 2022-11-29 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提出了一种测试用例集处理方法、处理装置、系统及可读存储介质。其中，测试用例集处理方法包括：从预设格式文件中获取多个第一测试参数以及多个第二测试参数，并根据多个第一测试参数以及多个第二测试参数生成预设测试参数列表；对预设测试参数列表中的多个预设测试参数进行结对算法处理，得到第一测试用例集；对第一测试用例集中的多个第一测试用例参数进行参数化处理；根据待测试框架以及待测试框架处理的数据类型，在参数化处理后的多个第一测试用例参数中确定与待测试框架对应的多个目标测试用例参数；对多个目标测试用例参数与待测试框架进行集成处理，并根据集成处理后的待测试框架对待测试产品进行测试。
测试用例集处理方法装置系统可读存储介质

[发明专利]接口测试参数分析方法、装置、电子装置及存储介质-CN201811151640.7在审
发明人：何新荣 -专利权人：中国平安人寿保险股份有限公司
申请日： 2018-09-29 - 公布日： 2019-03-26 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：一种接口测试参数分析方法，包括：接收待测试接口的接口文档；接收指定人员录入的接口测试参数集；对所述接口测试参数集进行一级拆分以获得相互独立的多个接口测试参数；对每一接口测试参数进行二级拆分以获得所述接口测试参数的测试名和测试值；将每一接口测试参数的测试名和测试值添加至一接口测试参数表单的指定位置。本发明实施例能够提高对接口测试参数的分析效率以及接口测试效率。
接口测试测试参数分析参数集测试参数测试接口存储介质电子装置分析效率接口文档参数表对接口录入

[发明专利]测试分选机测试参数写入及防呆方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310025134.8在审
发明人：李双成;马海龙;陈勇;范传敏;袁俊;辜诗涛 -专利权人：东莞利扬芯片测试有限公司
申请日： 2023-01-04 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试分选机测试参数写入及防呆方法、装置、电子设备及存储介质，其中方法为获取待测芯片的身份信息，并根据身份信息调取对应的测试参数；将调取的测试参数写入测试分选机的共享文件中；读取共享文件中的测试参数；比对读取的测试参数与调取的测试参数，若读取的测试参数与调取的测试参数一致，则生成驱动文件并将驱动文件发送至测试分选机，以使测试分选机使用驱动文件调用测试程序，若读取的测试参数与调取的测试参数不一致，则重复执行前述步骤本发明能够根据不同的芯片将对应的测试参数写入测试分选机，并检测写入的测试参数是否正确，有效地防止测试出现异常并减少人工参与设置，有利于提升芯片的品质和测试的效率。
测试分选参数写入方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种测试参数值的确定方法、装置、电子设备及存储介质-CN202211379475.7在审
发明人：吴玉莲 -专利权人：平安银行股份有限公司
申请日： 2022-11-04 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请提供了一种测试参数值的确定方法、装置、电子设备及存储介质，该测试参数值的确定方法包括：获取用户在测试选择界面的多个接口中选择的测试接口；将测试接口对应的接口标识发送给查询数据库，以使查询数据库查询与接口标识对应的测试参数的历史测试参数值、历史测试参数值对应的测试结果；从查询数据库发送的所有历史测试参数值中，确定测试结果为测试成功的目标历史测试参数值；根据所有目标历史测试参数值中包含每一个目标历史测试参数值的数量，确定目标测试参数值。通过本申请的方法，能够为用户推荐目标测试参数值。
一种测试参数确定方法装置电子设备存储介质

[发明专利]产品板快充口测试方法、产品板、测试板以及测试系统-CN202010908742.X在审
发明人：任凡;李明岗;张飞;梁宇;张晓梅;王鑫 -专利权人：西安易朴通讯技术有限公司
申请日： 2020-09-02 - 公布日： 2020-12-01 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种产品板快充口测试方法、产品板、测试板以及测试系统，该方法包括：产品板根据测试参数中的测试电压参数以及测试电流参数确定测试电阻参数，并将测试电压参数发送至调压模块，通过调压口及产品板的快充口接收测试板的调压模块输入测试电压；将测试电阻参数发送至负载模块，负载模块根据测试电阻参数设定负载电阻的电阻参数，产品板通过产品板的快充口以及负载模块的负载口向负载模块输入测试电压，产品板根据负载模块测得的实际电压参数和实际电流参数，以及测试电压参数和测试电流参数确定产品板的快充口的充电功能测试结果
产品板快充口测试方法以及系统

[发明专利]一种测试参数的处理方法和系统-CN201510068043.8在审
发明人：王启华;王福 -专利权人：大唐联仪科技有限公司
申请日： 2015-02-09 - 公布日： 2015-05-13 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供了一种测试参数的处理方法和系统，其中，所述方法包括：调用参数通用处理组件对预先定义的测试参数进行识别，得到测试参数的参数类型；根据测试参数的参数类型生成与测试参数相对应的显示控件；并根据测试参数的参数类型对测试参数进行有效性验证；对通过有效性验证的预先定义的测试参数进行参数转换；调用控件自动加载组件按照预设的顺序和类别加载显示控件，显示进行参数转换后的参数信息，完成测试参数处理。本发明降低了综测仪中软件的耦合性，提高了综测仪中软件的稳定性，实现了测试参数的自适应功能，减少了人工识别测试参数的工作量，提高了用户对综测仪的认同感，并统一测试参数的操作流程，降低了用户的使用门槛。
一种测试参数处理方法系统

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