专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种铁电存储器的控制方法以及相关装置-CN202210333051.0在审
  • 刘晓真;卜思童;方亦陈;谭万良;吕杭炳;许俊豪 - 华为技术有限公司
  • 2022-03-31 - 2023-10-24 - G11C11/4074
  • 本申请实施例提供了一种铁电存储器的控制方法以及相关装置,用于使得铁电存储器在写入与读取操作过程中稳定的进入铁电器件的部分翻转,从而提升铁电器件的耐久性能,同时可以有效地平衡铁电材料的正负应力平衡,从而减轻印迹效应。其具体操作如下:该铁电存储器的控制装置在写入操作的第一时间段内,将预充线的电压设置为第一电压并将浮栅的电压预充至第二电压,其中,该第一电压大于该第二电压,该第一电压减去该第二电压的差值用于导通该预充线上的晶体管;在该写入操作的第二时间段内,将该预充线的电压设置为0,并设置选中字线的电压为第三电压,该第三电压与该第二电压用于写入待写入数据。
  • 一种存储器控制方法以及相关装置
  • [发明专利]一种铁电存储阵列、铁电存储器以及其操作方法-CN202210355106.8在审
  • 贾秀峰;李昊;张敏;张恒;许俊豪 - 华为技术有限公司
  • 2022-03-31 - 2023-10-24 - G11C11/4074
  • 本申请提供了一种铁电存储阵列、铁电存储器以及其操作方法,用于减少SL数量,从而节省了版图面积和LBL上的寄生电容。该铁电存储阵列包括1T1C结构和gain cell;gain cell包括第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管,1T1C结构包括第四晶体管和第一电容;第四晶体管的栅极与字线相连,其源漏极的第一端与第一电容的第一端相连,另一端通过区域位线与第三晶体管的栅极以及第一晶体管的源漏极的第三端相连,第一电容的第二端与板线相连;第一晶体管和第二晶体管的栅级与控制线相连,第一晶体管的源漏极的第四端和第二晶体管的源漏极的第五端通过全局位线相连,第二晶体管的源漏极的第六端与第三晶体管的源漏极的第七端相连,第三晶体管的源漏极的第八端与源线相连。
  • 一种存储阵列存储器及其操作方法
  • [发明专利]一种存储器及补偿方法-CN202311170360.1在审
  • 方原;陈敦仁;吕震宇;程晓恬 - 温州核芯智存科技有限公司
  • 2023-09-12 - 2023-10-20 - G11C11/4074
  • 本发明公开了一种存储器及补偿方法,涉及半导体技术领域。本发明包括补偿单元,包括控制模块,以及与所述控制模块连接的补偿模块,所述控制模块包括带有转换开关的灵敏放大器,所述补偿模块接入线性稳压器电源提供的补偿电压。本发明的有益效果:本方案在每个控制模块里面增加一个或者两个NMOS管器件的基础上可以同时解决电荷泵抬升漏电的问题以及存储器位线选择器TDDB使用寿命的问题,从而得以解决铁电存储器小尺寸的CMOS工艺兼容的问题,在不用增加特殊工艺的情况下存储器的性能还得以保证。
  • 一种存储器补偿方法
  • [发明专利]基于NOR Flash的距离计算装置及方法-CN202011644923.2有效
  • 金西;吴奇哲;陶临风 - 中国科学技术大学
  • 2020-12-31 - 2023-10-20 - G11C11/4074
  • 一种基于NOR Flash的距离计算装置及方法,装置包括:基于NOR Flash的浮栅场效应晶体管,其上设有源极、漏极,控制栅极及浮置栅极。浮置栅极用于捕获电子并存储,通过改变浮置栅极中存储电子的数量以改变浮栅场效应晶体管的阈值电压;源极、漏极,控制栅极用于被施加不同的栅源电压及漏源电压以使浮栅场效应晶体管输出特性位于线性区或饱和区,通过测量线性区或饱和区对应的浮栅场效应晶体管的输出特性,以计算距离。浮栅场效应晶体管的控制栅极和浮置栅极配置有对应的偏置电压计算单元,偏置电压计算单元用于对栅源电压和/或阈值电压取偏置电压。该装置及方法可实现任意操作数的距离计算,且计算结构简单,功耗低及并行度高。
  • 基于norflash距离计算装置方法
  • [发明专利]控制电路以及半导体存储器-CN202210306176.4在审
  • 范玉鹏 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-03-25 - 2023-10-03 - G11C11/4074
  • 本公开实施例提供了一种控制电路以及半导体存储器,该控制电路包括偏置模块,偏置模块用于向功能模块提供偏置电流;偏置模块包括第一偏置模块和第二偏置模块,第一偏置模块用于提供第一偏置电流,第二偏置模块用于提供第二偏置电流;其中,第一偏置电流小于第二偏置电流,第一偏置模块用于在上电后处于常开状态,第二偏置模块用于接收偏置使能信号并基于偏置使能信号提供第二偏置电流。这样,该控制电路不仅可以保证偏置模块的稳定时间,而且还可以达到节省功耗的目的。
  • 控制电路以及半导体存储器
  • [发明专利]控制电路以及半导体存储器-CN202210307197.8在审
  • 范玉鹏 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-03-25 - 2023-10-03 - G11C11/4074
  • 本公开实施例提供了一种控制电路以及半导体存储器,该控制电路包括偏置切换电路和第一逻辑门电路;其中,第一逻辑门电路,由至少一个目标晶体管构成,目标晶体管的衬底与偏置切换电路的输出端连接,第一逻辑门电路具有第一速度模式和第二速度模式,第一速度模式的传输速度低于第二速度模式的传输速度;偏置切换电路,用于接收目标信号,若目标信号处于使能状态,则输出目标偏置电压,以增大目标晶体管的阈值电压,目标信号的使能状态表征第一逻辑门电路处于第一速度模式。这样,在保证半导体性能满足需求的情况下,该控制电路可以降低源极与漏极之间的漏电流,达到节省功耗的目的。
  • 控制电路以及半导体存储器
  • [发明专利]电子设备及其驱动方法-CN202210266447.8在审
  • 池性洙 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-03-17 - 2023-09-22 - G11C11/4074
  • 本公开涉及存储技术领域,提供一种电子设备及其驱动方法,该电子设备包括:灵敏放大器、电压调节电路。灵敏放大器包括:第一P型晶体管、第二P型晶体管、第一N型晶体管、第二N型晶体管、控制电路,控制电路连接第三节点、第四节点、预设电压端、第一控制信号端,用于响应于第一控制信号端的信号以连接预设电压端和第三节点、第四节点;电压调节电路连接预设电压端、调节信号端,用于根据调节信号端的调节信号向预设电压端输入预设电压信号。该电子设备可以通过电压调节电路向灵敏放大器写入合适大小的预设电压信号,以使灵敏放大器在偏移消除阶段位线和互补位线具有适当的电压差。
  • 电子设备及其驱动方法
  • [发明专利]双参考电压产生器、均衡电路及存储器-CN202011017186.3有效
  • 张志强 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2020-09-24 - 2023-09-15 - G11C11/4074
  • 本申请提供一种双参考电压产生器、均衡电路及存储器,该双参考电压产生器接收原始编码、第一编码以及第二编码,并根据接收到的原始编码和第一编码,产生第一参考电压,根据接收到的原始编码和第二编码,产生第二参考电压;其中,第一参考电压不同于第二参考电压。即本申请所提供的双参考电压产生器可以根据原始编码、第一编码以及第二编码输出两种不同的参考电压,能够更好的满足均衡处理过程对不同参考电压的需求,提升均衡电路的均衡处理效果;另外,通过对上述原始编码、第一编码以及第二编码的值进行预配置,可以使上述均衡电路的接收数据对应眼图中的电压裕度与时序裕度均处于最大值,还能够提高接收数据信号的质量。
  • 参考电压产生器均衡电路存储器
  • [发明专利]一种时钟校正电路和存储器-CN202311006147.7在审
  • 秦彬瑜;赵高伟 - 浙江力积存储科技有限公司
  • 2023-08-10 - 2023-09-12 - G11C11/4074
  • 本公开的实施例提供一种时钟校正电路和存储器,包括:延迟锁相环电路和占空比校正电路;其中,延迟锁相环电路,接收外部时钟信号和反馈时钟信号,并根据外部时钟信号和反馈时钟信号的相位差,调节延迟锁相环电路中的第一可调延迟电路,以使反馈时钟信号与所述外部时钟信号在每个时钟周期的初始相位相同,以及输出内部时钟信号至占空比校正电路;占空比校正电路,根据接收的延迟锁相环电路输出的内部时钟信号,确定内部时钟信号对应的占空比,并根据占空比调整占空比校正电路中的第二可调延迟电路,以使内部时钟信号的占空比为预设占空比;其中,相位差和占空比均为数字信号,以实现对相位和占空比的快速调节。
  • 一种时钟校正电路存储器
  • [发明专利]存储器的检测方法及存储器-CN202210186674.X在审
  • 苏阿妹 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-02-28 - 2023-09-05 - G11C11/4074
  • 本申请提供一种存储器的检测方法及存储器,涉及半导体技术领域,用于解决存储单元和位线之间的漏电检测复杂的技术问题,该存储器的检测方法包括:选通字线,通过位线向所有的存储单元中写入预设存储数据;关闭字线,并向位线上施加第一电压,以使位线上的电位与存储单元的电位不同;保持预设时间后,选通字线,通过位线读取所有的存储单元中的实际存储数据;将每个存储单元的实际存储数据与预设存储数据进行比较,以判断该存储单元是否存在漏电。通过在所有的存储单元中进行预设存储数据的写入和实际存储数据的读出,且位线上的电位单独施加,无需依次选通字线,存储单元与位线之间的漏电检测简单。
  • 存储器检测方法

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