专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]表征光学元件的表面形状的方法及装置-CN201880063801.9有效
  • F.里彭豪森;M.施罗特 - 卡尔蔡司SMT有限责任公司
  • 2018-09-04 - 2022-04-12 - G01B9/02015
  • 本发明涉及一种提供表征光学元件的表面形状的方法和装置,该光学元件特别是微光刻投射曝光系统的反射镜或透镜。根据本发明的方法包括以下步骤:实行多个干涉式测量,其中记录在来自光学元件的相应部分的测试波与参考波之间的相应的干涉图,其中在这些测量之间,光学元件的位置相对于测试波更改;以及基于这些测量计算与光学元件的目标形状的偏差,其中该计算迭代地发生为使得在多个迭代步骤中,与光学元件的目标形状的偏差通过实行正演计算来确定,其中这些迭代步骤中的每一个迭代步骤基于以前次迭代步骤为基础来调整的相应的参考波。
  • 表征光学元件表面形状方法装置
  • [发明专利]用于感测应用的自混合干涉设备-CN202080047558.9在审
  • M·A·德拉德;C·H·林;谈飞;A·拉甫拉奎尔;K·里昂;W·李 - 苹果公司
  • 2020-06-30 - 2022-04-08 - G01B9/02097
  • 本文公开了自混合干涉测量(SMI)传感器,诸如可包括垂直腔面发射激光(VCSEL)二极管和谐振腔光电探测器(RCPD)。公开了VCSEL二极管和RCPD的结构。在一些实施方案中,VCSEL二极管和RCPD横向相邻并由在公共基板上外延形成的一组公共半导体层形成。在一些实施方案中,第一VCSEL二极管和第二VCSEL二极管横向相邻并由在公共基板上外延形成的一组公共半导体层形成,并且RCPD形成在所述第二VCSEL二极管上。在一些实施方案中,VCSEL二极管可包括其间具有隧道结层的两个量子阱层。在一些实施方案中,RCPD可与VCSEL二极管垂直地集成。
  • 用于应用混合干涉设备
  • [实用新型]一种激光干涉仪安装底座-CN202122500330.5有效
  • 刘佳;王俊;金嘉辉 - 杭州志达光电有限公司
  • 2021-10-18 - 2022-04-08 - G01B9/02
  • 本实用新型公开了一种激光干涉仪安装底座,用以调整激光干涉仪的偏转角度,包括底板、偏转件、基板,所述底板的正面设置有定位柱,所述偏转件与所述定位柱转动连接,使得所述偏转件能够相对于所述底板进行角度偏转;所述基板对接定位安装于所述偏转件的正面,使得安装于所述基板的正面的所述激光干涉仪能够随所述偏转件一同进行角度偏转。本实用新型用以定位安装激光干涉仪,能够对激光干涉仪的安装角度进行偏转调整,降低定位安装的精度。
  • 一种激光干涉仪安装底座
  • [发明专利]基于非均匀采样校正的抗振动白光干涉测量方法-CN202011298694.3有效
  • 李建欣;毕书贤;段明亮;宗毅;王佳欣 - 南京理工大学
  • 2020-11-18 - 2022-04-01 - G01B9/02015
  • 本发明公开了一种基于非均匀采样校正的抗振动白光干涉测量方法,所述方法包括以下步骤:采集待测件的白光干涉图序列和准单色光干涉图序列;对准单色光干涉图进行基于频域峰值亚像素定位的振动倾斜平面计算,并利用这些倾斜平面计算白光干涉图中每个像素位置的非均匀移相采样间隔;利用非均匀傅里叶变换校正白光干涉信号;对校正后的白光干涉信号进行调制度峰值位置的提取,以此恢复被测件表面的形貌分布。本发明采用双通道的白光干涉系统分别获取单色光干涉图序列以及白光干涉图序列,利用单色光干涉图序列来解算出振动影响下的采样间隔误差,以此来校正畸变的白光干涉信号,复原出被测件表面的形貌分布,该方法成本较低且测量精度高。
  • 基于均匀采样校正振动白光干涉测量方法
  • [发明专利]光学相干单元和光学相干测量装置-CN201880037887.8有效
  • 高屋雅人;岩田真也 - 拓自达电线株式会社;株式会社尼德克
  • 2018-05-29 - 2022-03-29 - G01B9/02
  • 光学相干单元(20)具备分支光学元件(21)、合波光学元件(23)以及至少一个光纤器件(22)。分支光学元件(21)将使射出波长随时间进行了扫频的激光分支为测量光和参照光。合波光学元件使参照光与由被测量物反射后的测量光合波并使它们发生干涉。至少一个光纤器件包括参照光用器件(22A)。将透过参照光用器件后的参照光的从参照光用器件至合波光学元件为止的光路长度设为透过光路长度。将由参照光用器件的脱离部反射后的参照光的从参照光用器件至合波光学元件为止的光路长度设为反射光路长度。在该情况下,透过光路长度为反射光路长度以上。
  • 光学相干单元测量装置
  • [发明专利]差分干涉仪装置-CN201911052228.4有效
  • 王宁;揭小军;邹泽华;凡顺利 - 上海微电子装备(集团)股份有限公司
  • 2019-10-31 - 2022-03-18 - G01B9/02015
  • 本发明提供一种差分干涉仪装置,包括光源;第一分光棱镜,用于对入射光进行分光,以将所述入射光分为至少两条光束,第一分光棱镜具有相对的第一表面和第二表面;第一波片和第一反射镜,用于接收以第一方向从第一表面出射出的光束,第一方向为第一分光棱镜对于入射光的反射方向;第二波片和第二反射镜,用于接收以第二方向从第二表面出射出的光束;第三波片和测量镜,用于接收以第三方向从第二表面出射出的光束,以及,基于第一波片、第二波片、第三波片、第一反射镜和第二反射镜的设置,以使得至少两条光束均照射至所述测量镜上。本发明提供的差分干涉仪装置所占空间较少,成本较低,集成度较高,调试难度较低。
  • 干涉仪装置
  • [发明专利]一种闭环控制的激光干涉测量同步动态增益补偿方法-CN202110578721.0有效
  • 熊显名;张文涛;张志成;曾启林;杜浩;徐韶华;张玉婷;赵正义 - 桂林电子科技大学
  • 2021-05-26 - 2022-03-15 - G01B9/02
  • 本发明提供的是一种闭环控制的激光干涉测量同步动态增益补偿方法。所述方法为:同步于测量流程运行,根据信号采集部分模数转换的采集要求,确定需要增益到的信号强度的目标区间和修改信号增益的阈值;取采集到的正弦电信号峰峰值,作为调节增益时所需要的正弦光信号强度数据;根据所述正弦光信号强度数据与信号强度目标值进行PID调节运算;根据PID调节运算结果,FPGA修改DAC输出电压数据控制增益补偿模块的补偿增益,进行一次增益调节;完成一次增益调节,采集调节后的信号强度数据。本发明可用于双频激光干涉测量的光电探测电路的信号采集前置增益补偿流程中,用于对光电检测信号的动态补偿。由于增益补偿调节均匀连续且与信号采集流程动态同步,信号的强度范围将实时保持在最佳采集区间内且不会发生增益突变。可有效提高模数转换部分对信号采样的精度,提高对模数转换模块性能的利用率,提高信号采集的稳定性。
  • 一种闭环控制激光干涉测量同步动态增益补偿方法

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