专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]干涉-CN201580043188.0有效
  • 马丁·贝尔茨 - 马丁·贝尔茨
  • 2015-08-19 - 2018-11-13 - G01J3/45
  • 本发明涉及一种干涉,包括:第一干涉臂及第二干涉臂,其中,所述第一干涉臂及第二干涉臂被配置成:从待成像的原始图像的中心像点出发的第一中心光束穿过所述第一干涉臂,从所述待成像的原始图像的所述中心像点出发的第二中心光束穿过所述第二干涉臂,其中,所述第一中心光束与所述第二中心光束在穿过所述第一或第二干涉臂之后叠加并在所述第一中心光束与所述第二中心光束的叠加点处生成k垂直=0‑干涉;从所述待成像的原始图像的像点出发的第一光束穿过所述第一干涉臂,以及从所述待成像的原始图像的所述像点出发的第二光束穿过所述第二干涉臂,其中,所述第一光束与所述第二光束在穿过所述第一或第二干涉臂之后重叠于所述第一中心光束与所述第二中心光束的所述叠加点处,以及其中本发明还涉及一种用于由使用根据本发明所述的干涉测量的图像重建原始图像的方法。本发明又涉及一种用于校准根据本发明所述的干涉的方法。
  • 干涉仪
  • [外观设计]干涉-CN202230026434.4有效
  • 申东方 - 申东方
  • 2022-01-15 - 2022-06-17 - 10-04
  • 1.本外观设计产品的名称:干涉。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于干涉。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图1。
  • 干涉仪
  • [发明专利]干涉-CN201510453259.6有效
  • M.迈斯纳 - 约翰内斯·海德汉博士有限公司
  • 2015-07-29 - 2019-09-20 - G01B9/02
  • 本发明给出一个干涉,它包括一光源、一分光器、一参考反射器、一测量反射器、一检测单元以及至少两个透明的平板。通过分光器将光束分裂成至少一测量光束和一参考光束。通过检测单元可以检测来自干涉的测量和参考光束相对于测量目标位置的至少一距离信号。所述平板相互平行地在光程中设置在光源与检测单元之间。至少测量反射器相对于平板沿着测量方向运动。
  • 干涉仪
  • [发明专利]干涉-CN200710043623.7有效
  • 刘国淦;段立峰 - 上海微电子装备有限公司
  • 2007-07-10 - 2007-12-05 - G03F7/20
  • 本发明公开了一种用于光刻机投影物镜检测的干涉。本发明的干涉包括第一偏振分光镜,分位于第一偏振分光镜入光面一侧的分别用于引入参考光和测量光的两个准直透镜组,位于第一偏振分光镜出光面的第二、第三偏振分光镜,第一偏振分光镜与第三偏振分光镜之间配置二分之一波片和四分之一波片利用本发明的干涉可准确得测得物镜的波前误差、放大率、畸变、场曲,并可减小光学检测元件的尺寸,而且制造简单,检测精度高且操作方便。
  • 干涉仪
  • [发明专利]干涉-CN200810172680.X有效
  • 高桥知隆 - 株式会社三丰
  • 2008-11-06 - 2009-05-13 - G01B9/02
  • 本发明公开了一种干涉。该干涉包括:激光束源;光波分割和合成部,用于对从激光束源照射来的激光束进行2路分波,并将其照射在测量对象上,并且合成分别具有位移信息的光;多相位干涉光生成部,用于根据合成的激光束,生成具有第一相位的第一干涉光、具有与第一相位相差180°的第二相位的第二干涉光、具有与第一相位相差90°的第三相位的第三干涉光和具有与第一相位相差270°的第四相位的第四干涉光;三相信号生成部,用于根据基于第一至第四干涉光的第一至第四干涉信号来生成相位差为
  • 干涉仪
  • [发明专利]干涉-CN200880113315.X有效
  • 刘志强 - 株式会社尼康
  • 2008-11-19 - 2010-09-15 - G01B9/02
  • 本发明提供一种干涉,即使受检面与参照面的表面形状的差别大,也可以测定受检物的表面形状。测定受检物(9)的表面形状的干涉具备:具有低空间相干特性的面光源、将面光源与受检物在光学上共轭地配置的导光光学系统(6、8)、具有配置于与受检物在光学上共轭的位置的检测面的光检测器(13)。面光源具有多个相互具有低干涉性的微小面光源。
  • 干涉仪
  • [实用新型]一种干涉测试结构-CN202222713158.6有效
  • 张宝安 - 苏州然玓光电科技有限公司
  • 2022-10-14 - 2023-01-13 - G01D18/00
  • 本实用新型公开了一种干涉测试结构,涉及干涉测试技术领域,该干涉测试结构,包括干涉本体和活动安装在干涉本体底端表面的干涉放置板,所述干涉放置板的底端表面安装有三角支架,所述干涉放置板的内部安装有引出结构,所述干涉本体内部安装有四个固定结构,所述干涉本体的外侧表面安装有取出结构。本实用新型通过顶柱本体阻挡移动板随着干涉本体向下移动,移动板带动四个斜角顶块本体向上移动,斜角顶块本体将固定卡块本体向干涉本体外侧挤出,固定卡块本体卡在卡接槽内,使干涉本体固定在干涉放置板内,使干涉本体在测量使不会发生晃动,使干涉本体测量数据准确性高。
  • 一种干涉仪测试结构
  • [发明专利]高精度波长测量用干涉装置-CN202211663087.1在审
  • 刘春红;程国军;代晓珂 - 核工业理化工程研究院
  • 2022-12-23 - 2023-03-17 - G01B9/02015
  • 本发明公开了一种高精度波长测量用干涉装置,包括壳体和设置于壳体内部的光学机构,所述光学机构包括左右平行设置的独立干涉和组合干涉,所述独立干涉包括Ⅴ号干涉后腔镜和以及设置于其前方的Ⅴ号干涉前腔镜;所述组合干涉包括组合后腔镜和以及设置于其前方的组合干涉前腔镜,组合后腔镜包括自下而上依次叠放的Ⅰ号干涉后腔镜、Ⅱ号干涉后腔镜、Ⅲ号干涉后腔镜和Ⅳ号干涉后腔镜。本发明提供了一种高精度波长测量用干涉装置,在一个密封腔体中集成五个费索干涉,简化测量光学系统,同时提出一种简洁的波长测量方法,可实现10‑7波长测量精度。
  • 高精度波长测量干涉仪装置
  • [发明专利]一种基于散斑干涉计量的残余应力测试装置-CN201610210813.2有效
  • 刘雪松;闫忠杰;潘海博 - 哈尔滨工业大学
  • 2016-04-07 - 2019-08-09 - G01L1/24
  • 本发明提供了一种基于散斑干涉计量的残余应力测试装置,属于残余应力测试装置技术领域。本发明包括:干涉底座、激光干涉、相机支架、相机连接块、工业CCD相机和三个尖角,所述激光干涉设置在干涉底座的上部,相机支架的下端与激光干涉的上部固定连接,相机支架的上端固定有相机连接块,工业CCD相机设置在相机连接块上;所述干涉底座为一个U形金属板,干涉底座的下端均布有三个尖角,干涉底座的上端均布有三个圆形定位孔,所述激光干涉为一个U型金属框架结构,激光干涉下表面设有三个钢珠且分别与干涉底座上的三个圆形定位孔相接触
  • 一种基于干涉计量残余应力测试装置

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