专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种新型电子负载电路及装置-CN202121237967.3有效
  • 方彬;方岳亮 - 合肥同智机电控制技术有限公司
  • 2021-06-03 - 2021-11-30 - G01R31/00
  • 本实用新型公开了一种新型电子负载装置,电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、运算放大器N1、运算放大器N2、继电器K1、场效应管Q1、接口Ctr1、接口Ctr2、接口Ctr3、接口Ctr4、接口Ctr5、电容C1、电容C2、电容C3,继电器K1;运算放大器N1的同相端接接口Ctr1,反相端通过电阻R1接接口Ctr2,电阻R2和电容C1串联后与电容C2并联在运算放大器N1的反相端和输出端之间,运算放大器N1的输出端通过电阻R3连接到场效应管Q1的栅极;本实用新型能够模拟负载工作在恒定电流、恒定电压的情况;保证恒压、恒流、恒阻、恒功率的工作状态,使电源达到恒压、恒流、
  • 一种新型电子负载电路装置
  • [发明专利]一种检测光耦发光侧漏点硅胶缺陷的方法、装置及设备-CN202110666412.9有效
  • 陈益群;徐刚;蔡毅 - 宁波群芯微电子股份有限公司
  • 2021-06-16 - 2022-12-27 - G01R31/01
  • 本发明公开了一种检测光耦发光侧漏点硅胶缺陷的方法、装置及设备,包括以下步骤:电流源施加第一输入电流给待测光耦的输入端,电压源施加第一电压给待测光耦的输出端且测量第一导通电流,具有运算功能的电路计算第一导通电流与第一输入电流之间的电流传输比CTR1电流源施加大于第一输入电流的大电流给待测光耦通电进行老化;电流源施加第二输入电流给待测光耦的输入端,电压源施加第二电压给待测光耦的输出端且测量第二导通电流,具有运算功能的电路计算第二导通电流与第二输入电流之间的电流传输比CTR2;比较CTR1CTR2的衰减百分比变化量,筛选出有点胶缺陷的芯片,方案解决了生产过程中对光耦发光侧漏点硅胶缺陷的筛选产品耗时过长和成本高的问题。
  • 一种检测发光侧漏点硅胶缺陷方法装置设备

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