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[发明专利]一种用于面阵相机成像的平场校正方法-CN201710437027.0在审
发明人：王建存;赵润川;李波 -专利权人：武汉中导光电设备有限公司
申请日： 2017-06-12 - 公布日： 2017-09-22 - 主分类号： H04N5/217 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于面阵相机成像的平场校正方法，包括如下步骤a.获取均匀样本的亮图像(white)、暗图像(black)；b.计算相机传感器自身的固定模式噪声和光响应非均匀性；c.根据实际成像样品及环境，获取照明成像的非均匀性；d.计算平场校正的各项系数，对采集到的图像做校正。本发明所提供的方法不需要频繁的采用均一样本来进行平场校正，可以根据现场条件选择易于得到的样本来获得照明成像的非均匀性，同时结合预先获取的white图和black图获得相机的固定模式噪声和光响应非均匀性系数
一种用于相机成像校正方法

[发明专利]一种基于深度学习的红外图像非均匀性校正方法-CN201810582351.6有效
发明人：赖睿;官俊涛;徐昆然;李奕诗;王东;杨银堂;王炳健;周慧鑫;秦翰林 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2018-06-07 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于深度学习的红外图像非均匀性校正方法，包括：构建第一多尺度特征提取单元；根据所述第一多尺度特征提取单元构建M个多尺度特征提取单元，形成偏置校正网络；根据所述第一多尺度特征提取单元构建N个多尺度特征提取单元，形成增益校正网络；将所述偏置校正网络与所述增益校正网络进行级联操作，构建非均匀性校正网络；对所述非均匀性校正网络进行训练，得到训练后的校正网络结构；将待校正的红外图像输入所述训练后的校正网络结构中，获得校正后的红外图像该红外图像非均匀性校正方法有效地适应非均性的漂移，消除了鬼影现象，且校正后图像中的细节信息更加丰富。
一种基于深度学习红外图像均匀校正方法

[发明专利]用于磁控溅射工艺腔室的磁场分布均匀化装置-CN201910883185.8有效
发明人：侯悦民 -专利权人：北京信息科技大学
申请日： 2019-09-18 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： H01J37/34 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于磁控溅射工艺腔室的磁场分布均匀化装置。柔性四杆机构连杆上一组磁铁以不同运动轨迹相对于柔性四杆机构机架做往复运动、并随同连杆机构做旋转运动，从而形成非周期或者弱周期变化的非辐射性磁场分布。根据本发明的磁场分布均匀化装置，可以使磁场分布呈非周期性或弱周期性、非辐射状分布，从而可以提高磁场分布均匀性，进而能够提高靶材溅射均匀性和靶材的利用率。本发明利用柔性四杆机构连杆曲线特性和凸轮机构实现磁场分布均匀化，从而提高工艺腔室内流场均匀性及溅射速率，提高流场的可控性。
用于磁控溅射工艺磁场分布均匀化装

[发明专利]薄膜晶体管及其制作方法-CN201910117376.3有效
发明人：朱静 -专利权人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
申请日： 2019-02-13 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： H01L29/786 文献下载
摘要：本发明提供一种薄膜晶体管，包括：依序层迭设置的一半导体衬底、一栅电极、一闸极绝缘层、一第一非晶硅膜层、一第二非晶硅膜层、一金属膜层、一钝化层、一透明导电膜，半导体衬底，包括一非电性成膜区与一电性成膜区，对应于所述非电性成膜区的所述第一非晶硅膜层一厚度小于对应于所述电性成膜区的所述第一非晶硅膜层一厚度，使非电性成膜区可作为电性成膜区利用，提升非电性成膜区的电性均匀度，来提升整个面板的电性的均匀性，减小非电性成膜区域的大小
薄膜晶体管及其制作方法

[发明专利]用于改进激进的胎面设计的均匀性和耐久性的方法和轮胎-CN201180072074.0有效
发明人： P·A·梅尼 -专利权人：米其林集团总公司;米其林研究和技术股份有限公司
申请日： 2011-07-14 - 公布日： 2014-03-19 - 主分类号： B60C11/03 文献下载
摘要：本发明提供一种带有在均匀性方面具有改进的激进的胎面特征的轮胎以及用于制造这种轮胎的方法和装置，该均匀性方面的改进还能够改进耐久性。该轮胎及其制造方式能够实现可能在模制大块胎面花纹块期间出现的某些非均匀性的减少或消除。减少或去除这些非均匀性能够改进温度性能以提供提高的轮胎耐久性。
用于改进激进设计均匀耐久性方法轮胎

[发明专利]一种短波红外焦平面自适应非均匀校正算法-CN201711497486.4有效
发明人：周津同 -专利权人：北京华科德科技有限公司
申请日： 2017-12-31 - 公布日： 2020-01-10 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种短波红外焦平面自适应非均匀校正算法，所述短波红外焦平面自适应非均匀校正算法通过对焦平面工作模型的改进和优化，采用多参数特性曲线模型计算出焦平面在各种状态的非均匀性，在焦平面工作时实时校正补偿
红外焦平面校正算法非均匀自适应短波特性曲线非均匀性工作模型模型计算实时校正校正模型多参数焦平面出焦对焦优化改进

[发明专利]测定承受非均匀外部负载的管道中的应力-CN201380080527.3在审
发明人： R·F·米切尔 -专利权人：兰德马克绘图国际公司
申请日： 2013-11-27 - 公布日： 2016-07-13 - 主分类号： E21B47/007 文献下载
摘要：用于通过以下方式测定承受非均匀外部负载的管道中的应力以便测试所述管道设计的结构完整性的系统和方法：粗略估计所述管道上的非均匀外部负载并且对承受所述非均匀外部负载的所述管道执行应力分析以测定所述管道中的所述应力
测定承受均匀外部负载管道中的应力

[发明专利]基于SRU与残差网络的递归红外图像非均匀校正方法-CN202011242885.8在审
发明人：秦翰林;张嘉伟;延翔;梁毅;冯冬竹;马琳;曾庆杰;杨硕闻;乐阳;姚迪;乐子晗;周慧鑫 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2020-11-10 - 公布日： 2021-03-02 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于SRU与残差网络的递归红外图像非均匀校正方法，将原始非均匀噪声图与原始非均匀噪声图进行通道数拼接，进行初步特征提取；其次，将初步特征提取结果经过简单递归单元(SRU)完成特征提取；经过多层残差块与卷积层处理，获得一阶段的红外图像非均匀校正结果；将所述一阶段的红外图像非均匀校正结果与原始非均匀噪声图进行通道数拼接，进行下一步特征提取，如此进行共N个阶段，获得最终的红外图像非均匀校正结果。本发明通过残差模块和简单递归单元共同作用，在以6个阶段作为递归的情况下，网络共享每个阶段的参数，大大降低了整体网络参数量，对大多数场景的红外图像都具有良好的非均匀性校正效果。
基于 sru 网络递归红外图像均匀校正方法

[发明专利]一种连续非均匀载荷下套管径向变形的测量方法及装置-CN202011375716.1在审
发明人：王小增;杨久红;林厚健 -专利权人：嘉应学院
申请日： 2020-11-30 - 公布日： 2021-03-16 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种连续非均匀载荷下套管径向变形的测量方法，涉及油气井井筒完整性评价领域，解决现有非均匀载荷下套管径向变形测量方式准确度差的技术问题，所述方法包括在具有初始椭圆度的套管外表面施加连续非均匀载荷，通过套管径向变形分析的几何模型和力学模型，确定套管外表面各点受力前的径向变形函数、载荷非均匀系数、外表面载荷分布函数、采用二次摄动法求解套管径向变形微分方程，得到连续非均匀载荷下套管径向变形。本发明还公开了一种连续非均匀载荷下套管径向变形的测量装置。本发明采用二次摄动法求解连续非均匀载荷下套管的径向变形，测量连续非均匀载荷下套管的径向变形，理论计算和实验测量相互检验，准确度高。
一种连续均匀载荷套管径向变形测量方法装置

[发明专利]强瞬态热载荷下多界面非均匀材料裂纹扩展数值模拟方法-CN202210575044.1在审
发明人：张艳艳;国峰楠;周斌;丰世林;叶梯 -专利权人：中国民用航空飞行学院
申请日： 2022-05-25 - 公布日： 2022-09-27 - 主分类号： G06F30/23 文献下载
摘要：本发明属于非均匀材料瞬态热断裂的技术领域，公开一种强瞬态热载荷下多界面非均匀材料裂纹扩展数值模拟方法，包括步骤：在Matlab中建立含裂纹的非均匀材料数值模型，设置材料热力学参数，基于线性加速度原理获得瞬态温度场，通过瞬态相互作用积分提取多界面非均匀材料内裂纹尖端的瞬态应力强度因子。基于断裂理论获得非均匀材料内的裂纹扩展关键参数。本发明提供的瞬态热载荷下多界面非均匀材料裂纹扩展的数值模拟方法，具有高效性、低成本、计算准确的特点，工程应用前景好。能够考虑瞬态传热过程的传热延迟效应，方便快捷地对瞬态热载荷下多界面非均匀材料的裂纹扩展进行模拟，对非均匀材料的工程设计和评价提供设计依据。
瞬态载荷界面均匀材料裂纹扩展数值模拟方法

[发明专利]基于模式噪声的图片出处与窜改认定方法-CN202010545044.8在审
发明人：刘秀萍;扆亮海 -专利权人：荆门汇易佳信息科技有限公司
申请日： 2020-06-15 - 公布日： 2020-09-25 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供的基于模式噪声的图片出处与窜改认定方法，图片出处认定基于图片模式噪声的主要分量光子响应非均匀性噪声的唯一特征，可作为图片源检测的依据，首先对参考图片集进行降噪处理，得到噪声残差图片，再计算多幅残差噪声图片的均值获取样本模式噪声，最后求其与待测图片非均匀性光响应噪声的关联度，并依据临界值判定出处，正确率达到95％以上。图片窜改认定首先从样本照相设备未伪造图片中估算非均匀性光响应噪声的值，然后提取局部图片区域的非均匀性光响应噪声，最后对两者进行关联性检测，根据临界值判断是否被窜改，正确率达到92％以上。
基于模式噪声图片出处窜改认定方法

[发明专利]一种非均匀性校正单个偏移参数的校正算法-CN202211511725.8在审
发明人：宋鸿飞;张馨壬;曹文晓;张科航;谭文;郭飞;周见红;孟颖;闫钰锋;李鹏飞;张云朋;王子乾 -专利权人：长春理工大学
申请日： 2022-11-29 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G01J5/90 文献下载
摘要：本发明涉及红外焦平面阵列非均匀性校正设计技术领域，且公开了一种非均匀性校正单个偏移参数的校正算法，利用标准校正参考源提供给非制冷红外焦平面阵列均匀入射辐射通量，测量每个探测单元输出响应，并按照线性假设条件对非制冷红外焦平面阵列的响应曲线进行拟合输出非均匀校正参数把单偏移参数存储模型聚合生成复合校正存储模型，根据像元和采集数据地址获取复合校正存储模型，从复合校正存储模型中提取单偏移校正参数存储模型，从单偏移校正参数存储模型中提取单个校正偏移参数，整个提取过程经过若干次的识别确认，有效地保证了非制冷红外焦平面阵列上任一探测单元校正结果的准确性
一种均匀校正单个偏移参数算法

[发明专利]一种Mg-Zn非晶/纳米晶复合结构医用材料及其制备方法-CN202110537301.8有效
发明人：王见;孟令众;张章;符潇潇 -专利权人：扬州大学
申请日： 2021-05-17 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： C22C45/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种Mg‑Zn非晶/纳米晶复合结构医用材料及其制备方法，所述Mg‑Zn非晶/纳米晶复合结构医用材料为非晶基体中均匀分散有纳米晶粒的复合结构材料，所述Mg‑Zn非晶/纳米晶复合结构医用材料按原子百分比计针对现有晶体态Mg合金材料腐蚀速率过快、力学性能不足和降解不均匀的问题，本发明公开的具有非晶/纳米晶双相结构的Mg‑Zn非晶/纳米晶复合结构医用材料中的纳米晶粒中产生的位错多，非晶能起到阻碍晶粒的位错和滑移的作用，可大大增强合金的性能，纳米晶粒均匀的分布在非晶基体中可以避免降解过程中的不均匀性，提高材料的耐蚀性。
一种 mg zn 纳米复合结构医用材料及其制备方法

[发明专利]一种摄像机系统-CN201580042843.0有效
发明人： L·拉梅施 -专利权人： IEE国际电子工程股份公司
申请日： 2015-08-11 - 公布日： 2021-03-12 - 主分类号： H04N5/217 文献下载
摘要：视频处理单元包括死像素校正单元和随后的非均匀偏移误差校正单元。死像素校正单元被配置用于校正经确认的死像素的信号，在与所述死像素校正单元相关联的经确认的死像素的图中参考该经确认的死像素。非均匀偏移误差校正单元被配置用于校正所述数字图像信号中的读出放大器非均匀性和像素级非均匀性。根据本发明，所述非均匀偏移误差校正单元进一步被配置用于与所述像素级非均匀性校正同时进行新的死像素检测。
一种摄像机系统

[发明专利]图像传感器非均匀性与非线性度同步标定与校正方法-CN202210762634.5在审
发明人：李云辉;王晓东;周大立 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-06-30 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： G01D18/00 文献下载
摘要：本发明提供图像传感器非均匀性与非线性度同步标定与校正方法，包括：S100、搭建测试系统；S200、使用所述测试系统对图像传感器进行测试标定；S300、根据测试标定结果建立统一化模型并校正所述统一化模型的系数采用本方案的图像传感器非均匀性与非线性度同步标定与校正方法能够同步对非均匀性与非线性度进行标定与校正。
图像传感器均匀非线性同步标定校正方法