专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]等离子体均匀检测-CN202180008893.2在审
  • S·E·萨瓦斯;A·德尚布里耶 - 科米特技术美国股份有限公司
  • 2021-01-09 - 2022-08-30 - H01J37/32
  • 一种检测射频等离子体处理系统中的等离子体的均匀的方法,该方法包括:在所述射频等离子体处理系统的反应室内生成等离子体;以及用关于所述射频等离子体处理系统的室对称轴以方位角部署的多个传感器,检测来自等离子体的在从维持等离子体的射频功率的频率到大约十倍频率的倍数的频率范围内的电信号该方法还包括将由所述多个传感器从等离子体拾取的电信号的波形进行比较;以及基于比较由所述多个传感器中的每一个检测到的等离子体的电性质来确定何时发生等离子体均匀
  • 等离子体均匀检测
  • [发明专利]短波红外焦平面均匀的校正方法及装置-CN201710108727.5在审
  • 周津同 - 北京津同利华科技有限公司
  • 2017-02-27 - 2017-06-30 - G06T5/00
  • 本发明提供了一种短波红外焦平面均匀的校正方法及装置,其中,方法包括均匀噪声计算步骤使用级联窗口滤波器计算原始红外图像的均匀噪声,输出各级的均匀噪声;均匀噪声融合步骤将各级窗口滤波器计算出的均匀噪声进行加权融合,生成融合后的均匀噪声;均匀校正步骤根据所述融合后的均匀噪声,对所述原始红外图像进行均匀校正。本发明的一种短波红外焦平面均匀校正方法,通过采用级联窗口滤波器的形式计算图像的均匀噪声,并将各级窗口滤波器计算出的均匀噪声进行加权融合,并使用融合后的均匀噪声对原始图像进行校正,其算法简单
  • 短波红外平面均匀校正方法装置
  • [发明专利]一种多抽头EMCCD均匀综合校正方法-CN202011129226.3有效
  • 乔丽;王明富;金峥 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2020-10-21 - 2022-07-19 - H04N17/00
  • 本发明公开了一种多抽头EMCCD均匀综合校正方法,所述方法的均匀对象包括相机的本底均匀、光响应均匀和倍增增益均匀。所述方法可大致分为四个步骤,分别为:步骤一、本底均匀校正参数的确定;步骤二、光响应线性均匀校正参数的确定;步骤三、倍增增益均匀校正参数的确定;步骤四、三类均匀校正参数的综合校正运算。本发明提出的多抽头EMCCD均匀综合校正方法能够大幅针对消除前述三类均匀对EMCCD输出图像带来的影响,提高EMCCD输出图像的质量。
  • 一种抽头emccd均匀综合校正方法
  • [发明专利]均质页岩均匀分簇射孔优化方法-CN201910288574.6有效
  • 李军;王滨;张辉;柳贡慧;翟文宝;颜辉 - 中国石油大学(北京)
  • 2019-04-11 - 2020-08-11 - E21B43/116
  • 本发明公开了一种均质页岩均匀分簇射孔优化方法,该方法包括:根据页岩水平井不同井段的储层页岩特性制作多个页岩靶,其中,所述储层页岩特性包括:页岩层理倾角、页岩的力学性质、裂缝特征以及岩特征,任意两个页岩靶的至少一个所述储层页岩特性不同采用多种射孔方式以及多种射孔参数对所述多个页岩靶进行射孔实验,并检测射孔后的孔眼质量参数、岩石渗透率、孔周冲击裂缝发育情况,以确定不同的影响因素对孔眼质量参数、岩石渗透率、孔周冲击裂缝发育情况的影响规律;根据所述影响规律进行均质页岩均匀分簇射孔优化本发明解决了现有技术难以实现对均质页岩的均匀分簇射孔优化方法的技术问题。
  • 非均质性页岩均匀分簇射孔优化方法
  • [发明专利]一种焦平面阵列均匀校正方法及校正电路-CN202010268809.8有效
  • 谢光忠;李小飞;杨凯;鲁竟原;阙隆成 - 电子科技大学
  • 2020-04-08 - 2021-09-21 - H04N5/365
  • 本发明公开了一种焦平面阵列均匀校正方法及校正电路,本发明通过在焦平面阵列读出电路中集成一均匀校正模块,均匀校正模块逐行逐列读出焦平面阵列中每个阵列像元的数字化输出信号,并将所述数字化输出信号与预先设定的像元输出目标值相比较,根据比较结果,调节第j列像元阵列偏置电路中的均匀调节电压的电压值,直至焦平面阵列探测器不再处于均匀校正调节模式,均匀校正模块停止工作,完成均匀校正。本发明均匀校正方法所采用的均匀校正模块结构简单,功耗及面积消耗低;使得焦平面阵列探测器本身能够实现均匀校正,不再需要外界输入均匀校正参数或对输出图像再次进行均匀处理。
  • 一种平面阵列均匀校正方法电路
  • [实用新型]均匀矫正装置及探测器-CN201921039404.6有效
  • 周津同;吕生;翟晓光 - 北京华科德科技有限公司
  • 2019-07-04 - 2020-02-28 - G01J5/00
  • 本申请实施例提供了一种均匀矫正装置和探测器。所述均匀矫正装置应用于探测器,所述探测器包括镜头,所述均匀矫正装置包括:矫正单元、驱动单元、锁紧部件和安装底座;所述矫正单元的一端与所述探测器的所述镜头相适配,另一端与所述驱动单元连接;所述驱动单元安装于所述安装底座上,所述驱动单元带动所述矫正单元转动,以对所述探测器进行均匀矫正;所述锁紧部件用于使所述矫正单元与所述驱动单元紧固连接,以在对所述探测器进行均匀矫正过程中使所述驱动单元带动所述矫正单元转动。该均匀矫正装置结构简单,实现了在需要对探测器的焦距进行调节时,对探测器进行均匀矫正,操作简单,方便快捷。
  • 均匀矫正装置探测器

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