专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种落锤试验机多角度冲击夹具-CN202210862991.9在审
  • 王登峰;刘阔;韩旭;许文超 - 吉林大学
  • 2022-07-21 - 2022-11-11 - G01N3/04
  • 本发明公开了一种落锤试验机多角度冲击夹具,包括:夹具固定板,其为平板;试验机安装平台,其水平设置;测试样夹具固定板可拆卸的固定连接在测试样试验机安装平台上,并且测试样夹具固定板与测试样试验机安装平台之间具有夹角;冲击空心槽,其开设在测试样夹具固定板上;多个定位挡板,其围绕测试样冲击空心槽设置,并且可拆卸的固定连接在测试样夹具固定板上;夹持机构,其一一对应的安装在测试样定位挡板上;斜面转接头,其可拆卸的固定连接在落锤试验机的锤头连接件上;其中,测试样斜面转接头的底面为斜面,并且测试样斜面转接头的底面与测试样夹具固定板平行;冲击锤头,其可拆卸的固定连接在测试样斜面转接头上。
  • 一种落锤试验角度冲击夹具
  • [实用新型]一种电刷电阻率的测量装置-CN201220571063.9有效
  • 黄培;王文艺 - 株洲市微特电刷有限公司
  • 2012-11-01 - 2013-04-10 - G01R27/02
  • 本实用新型公开了一种电刷电阻率的测量装置,包括测试样、固定所述测试样的测量卡具及与所述测量卡具相连并显示所述测试样阻值的欧姆仪,所述测试样的宽度W和厚度b均为3mm,所述测试样的长度L为9mm,所述测量卡具的顶针能够分别顶在由所述测试样的两个厚度b×宽度W组成的端面上。测量卡具的顶针分别顶在测试样的两个宽度W×厚度b组成的端面上,测量卡具与欧姆仪相连,测试样的电阻显示在欧姆仪上,再由相应公式计算出测试样的电阻率,由于测试样尺寸较小,测试样与顶针接触的面积占测试样
  • 一种电刷电阻率测量装置
  • [发明专利]一种增强型塑料碳纤维V型剪切测试工装-CN202110180417.0在审
  • 吕小平 - 协强仪器制造(上海)有限公司
  • 2021-02-09 - 2021-05-18 - G01N3/24
  • 本发明公开了一种增强型塑料碳纤维V型剪切测试工装,包括工装主体固定底板、固定楔形块、测试样避让孔、右工装主体、测试压力轴、左剪切工装主体、楔形块调节手柄、测试样定位轴和样件中心调节操作杆,测试样定位轴与样件中心调节操作杆相连,固定楔形块之间固定有测试样,测试样四角与右工装主体和左剪切工装主体配合处设置有测试样避让孔。本发明通过两侧楔形块调节手柄推动楔形块前后移动固定测试样,由于测试样对于安装中心要求严格,因此在工装上设计了测试样定位轴,保证样件V型缺口在受力中心点;测试数据更精确;本发明结构设计合理,测试样固定方便
  • 一种增强塑料碳纤维剪切测试工装
  • [发明专利]霍普金森杆的加热装置-CN201910515507.3在审
  • 尚进;曹玮;陈永畅;褚玉龙 - 中国航发商用航空发动机有限责任公司
  • 2019-06-14 - 2020-12-15 - G01N3/30
  • 本发明提供了一种霍普金森杆的加热装置,其包括霍普金森杆和试样试样设置在霍普金森杆的内侧;加热上套管设置在试样的顶部,加热下套管设置在试样的底部,加热上套管和加热下套管上下连接围设在试样的外围;电阻上弧片安装在加热上套管和试样之间,电阻下弧片安装在加热下套管和试样之间,电阻上弧片和电阻下弧片的两端均连接有导线;加热上套管和加热下套管的两端均涂覆有保温涂层,使得试样在加热上套管和加热下套管内均匀加热本发明通过设置在霍普金森杆内侧的加热套管与加热套管内侧的加热弧片,可以全面接触试样试样进行加热,使试样受热均匀,减少加热时间,提高工作效率及控温准确性。
  • 霍普金森杆加热装置
  • [发明专利]用于半导体集成电路粒子碰撞噪声试验的夹具-CN202111150125.9在审
  • 倪天明;杨滔;聂牧;姚亮;卞景昌 - 安徽工程大学
  • 2021-09-29 - 2022-04-29 - B25H1/08
  • 本发明涉及集成电路粒子技术领域,且公开了用于半导体集成电路粒子碰撞噪声试验的夹具,其包括底座,所述底座的上方设有操作台,操作台的上方设有试验试样传送装置和打包箱,操作台的一侧连接有支撑柱,操作台和支撑柱的底端均设有与底座连接的支撑腿,支撑柱的内部开设有容纳槽,支撑柱的一侧顶端设有位于操作台上方的移动杆;通过配合吸附连接机构的设计,实现对试验试样的吸附,进而提高了试验试样的夹持稳定性,可以避免试验试样在打包过程中掉落而缩短试验试样使用寿命,进而实现对试验试样保护,同时提高了试验试样的打包效率,并降低了劳动力投入。
  • 用于半导体集成电路粒子碰撞噪声试验夹具

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