专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种内容可寻址存储-CN202222166453.4有效
  • 耿志远;陈惕生 - 本征信息技术(苏州)有限公司
  • 2022-08-18 - 2023-10-20 - G11C11/408
  • 本实用新型提供了一种内容可寻址存储器。所述内容可寻址存储器包括写控制电路、存储单元阵列和寻址控制电路,其特征在于,所述存储单元阵列中的存储单元为锁存器,同一数据对应的多个所述存储单元组成存储单元字线,所述存储单元的写数据端口连接至所述存储单元字线的写数据端口的不同比特,所述存储单元的写有效端口连接至所述存储单元字线的写有效端口,所述存储单元的查找数据端口连接至所述存储单元字线的查找数据端口的不同比特,所述存储单元的读数据端口连接至所述存储单元字线的读数据端口的不同比特,所述存储单元的数据匹配端口连接至一与门的不同输入端口,所述与门的输出端口连接至所述存储单元字线的数据匹配端口。
  • 一种内容寻址存储器
  • [发明专利]一种基于BRAM的迭代型NTT交错存储系统-CN202310710959.3在审
  • 陈涧升;崔益军;牛万泽;刘伟强;王成华 - 南京航空航天大学
  • 2023-06-15 - 2023-09-01 - G06F7/523
  • 本发明公开了一种基于BRAM的迭代型NTT交错存储系统,包括蝶形运算单元、分布式ROM、第一地址控制单元、第二地址控制单元以及数据存储单元;第一BRAM单元和第二BRAM单元存储有预处理后的数据;分布式ROM存储旋转因子;第二地址控制单元按照起始点组的变化以及每组蝶形运算的点数,使得上下两路输入数据按照数论变换变化规则进入蝶形运算单元进行处理;第一地址控制单元用于将蝶形运算单元的运算结果存储至第一BRAM单元或者第二BRAM单元。本发明采用交错存取数据的方式,大大减少了NTT运算的总周期数,消除了存储单元之间存取数据消耗的时间,在整体存储方式上做出了优化。
  • 一种基于bram迭代型ntt交错存储系统
  • [发明专利]非易失性存储器及其控制方法、存储系统-CN202210028399.9在审
  • 刘红涛;赵向南;贾建权;蒋颂敏;崔莹 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2022-01-11 - 2022-04-15 - G11C16/34
  • 本申请提供了一种非易失性存储器及其控制方法、存储系统,所述非易失性存储器包括多个存储串,每个所述存储串包括多个存储单元组,每个所述存储单元组包括多个存储单元,所述方法包括:对所述存储串的部分存储单元组执行擦除再编程操作,其中,所述执行擦除再编程操作的存储单元组为第一存储单元组,所述存储串中未执行擦除再编程操作的存储单元组为第二存储单元组;以及在对选中的存储单元进行读操作时,对未选中的存储单元施加导通电压,其中,对所述第一存储单元组中的未选中的存储单元施加第一导通电压,对所述第二存储单元组中的未选中的存储单元施加第二导通电压,其中,所述第一导通电压大于所述第二导通电压。
  • 非易失性存储器及其控制方法存储系统
  • [发明专利]修复电路和存储-CN202011124159.6在审
  • 张良 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2020-10-20 - 2022-04-22 - G11C29/44
  • 本申请实施例涉及一种修复电路和存储器,修复电路包括:多个冗余存储单元,每个冗余存储单元配置有一状态信号;修复模块,分别与多个冗余存储单元连接,用于根据多个状态信号,从多个冗余存储单元中确定出目标存储单元,并通过目标存储单元对缺陷存储单元进行修复;其中,目标存储单元与缺陷存储单元一一对应,修复模块能够在多个修复阶段分别对不同的缺陷存储单元进行修复,且多个修复阶段共用多个冗余存储单元。通过响应于冗余存储单元的状态信号,选择目标存储单元,并在多个修复阶段共用冗余存储单元,提高了对缺陷存储单元的修复率和修复灵活性,即,提供了一种修复灵活性和可靠性更高的修复电路。
  • 修复电路存储器
  • [实用新型]修复电路和存储-CN202022350793.3有效
  • 张良 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2020-10-20 - 2021-02-09 - G11C29/44
  • 本申请实施例涉及一种修复电路和存储器,修复电路包括:多个冗余存储单元,每个冗余存储单元配置有一状态信号;修复模块,分别与多个冗余存储单元连接,用于根据多个状态信号,从多个冗余存储单元中确定出目标存储单元,并通过目标存储单元对缺陷存储单元进行修复;其中,目标存储单元与缺陷存储单元一一对应,修复模块能够在多个修复阶段分别对不同的缺陷存储单元进行修复,且多个修复阶段共用多个冗余存储单元。通过响应于冗余存储单元的状态信号,选择目标存储单元,并在多个修复阶段共用冗余存储单元,提高了对缺陷存储单元的修复率和修复灵活性,即,提供了一种修复灵活性和可靠性更高的修复电路。
  • 修复电路存储器
  • [发明专利]一种物联网设备监控规则引擎-CN201911305736.9在审
  • 余新礼;靳云通;徐璀璀 - 昆明联诚科技股份有限公司
  • 2019-12-17 - 2020-05-08 - H04L29/08
  • 本发明公开了一种物联网设备监控规则引擎,包括规则引擎装置、强行停止单元、信息备份存储单元和危险操作录入单元,本发明涉及监控规则引擎技术领域。该物联网设备监控规则引擎,当指令触发时,通过强行停止单元中断指令,通过指令接收模块接收指令,并且通过反馈模块将指令反馈给控制核心,控制核心通过异常操作处理单元对异常操作进行记录,通过异常操作判别模块判别异常操作,通过异常操作分析模块进行分析,通过异常操作指令提取模块将指令提取,然后通过异常操作记录模块记录操作后发送到规则更改单元内,更改异常操作禁止指令,可以快速的对指令进行存储和更改,防止其下一次发生,可以快速的自动更新指令
  • 一种联网设备监控规则引擎
  • [发明专利]行地址保留存储单元触发电路及行地址保留存储单元装置-CN200910211797.9有效
  • 许人寿 - 钰创科技股份有限公司
  • 2009-11-12 - 2010-05-26 - G11C11/4063
  • 本发明公开一种行地址保留存储单元触发电路及行地址保留存储单元装置,该触发电路用来于第一或第二损坏存储单元存取时,分别触发行地址保留存储单元电路的对应存储单元。该判断电路根据所欲存取的存储单元与第一及第二损坏存储单元列地址的关系,产生判断信号以启动第一或第二比较电路。当第一比较电路启动时,比较欲存取的存储单元及第一损坏存储单元的行地址,若相同则触发该行地址保留存储单元电路对应的存储单元。当第二比较电路启动时,比较欲存取的存储单元及第二损坏存储单元的行地址,若相同则触发该行地址保留存储单元电路对应的存储单元
  • 地址保留存储单元触发电路装置
  • [发明专利]分布式文件存储系统的存储单元失效检测方法及装置-CN201410333913.5有效
  • 李璐 - 深圳市中博科创信息技术有限公司
  • 2014-07-14 - 2014-11-19 - H04L29/08
  • 本发明公开了一种分布式文件存储系统的存储单元失效检测方法,方法包括:依次获取各个节点的存储单元的运行标识;在存储单元的运行标识获取失败时,记录该存储单元为失效存储单元,并继续获取该存储单元所在节点的其它存储单元的运行标识,或者,依次获取其它节点的存储单元的运行标识。本发明还公开了一种分布式文件存储系统的存储单元失效检测装置。本发明分布式文件存储系统的存储单元失效检测方法和装置,通过依次获取各个节点中存储单元的运行标识,以确定失效存储单元并记录,可以有效的检测出分布式文件存储系统的节点中的失效存储单元,以供用户及时对失效的存储单元进行维护,保证了分布式文件存储系统的可靠性。
  • 分布式文件存储系统存储单元失效检测方法装置
  • [发明专利]具有包括伪晶体管的存储单元串的闪存装置-CN200910174045.X有效
  • 姜明坤;朴起台 - 三星电子株式会社
  • 2009-10-20 - 2010-06-09 - G11C16/02
  • 一种闪存装置,包括第一存储单元串和第二存储单元串,该第一存储单元串包括多个串联连接的存储单元、以及被配置为将所述串联连接的存储单元耦接到位线的第一和第二串联连接的伪晶体管,该第二存储单元串包括多个串联连接的存储单元、以及被配置为将所述串联连接的存储单元耦接到位线的第一和第二串联连接的伪晶体管。所述第一和第二存储单元串的第一伪存储单元具有与第一伪字线共同连接的栅极并具有不同的阈值电压,并且所述第一和第二存储单元串的第二伪存储单元具有与第二伪位线共同连接的栅极并具有不同的阈值电压。在一些实施例中,第一存储单元串的第一伪存储单元和第二存储单元串的第二伪存储单元可具有比预定电压大的阈值电压,并且第一存储单元串的第二伪存储单元和第二存储单元串的第一伪存储单元可具有比预定电压小的阈值电压
  • 具有包括晶体管存储单元闪存装置

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