专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]晶体-CN201880062018.0在审
  • 富士原聪夫;乔安娜·比斯;S·K·K·苏库拉 - 日本新药株式会社
  • 2018-09-27 - 2020-05-08 - C07D401/14
  • 一种化合物A的I型晶体,其在使用Cu Kα辐射线而得到的粉末X射线衍射光谱中,在衍射角(2θ)为6.9度、9.4度、12.5度、15.1度、16.4度、18.3度、19.0度、24.9度、25.4度、27.3度和27.7度处显示衍射峰。DDA0002423454910000014.TIF" imgContent="drawing" imgFormat="TIFF" orientation="portrait" inline="no" />而得到的粉末X射线衍射光谱中,在衍射角(2θ)为6.9度、9.2度、12.4度、14.8度、16.5度、18.1度、18.5度、19.8度、23.6度、24.9度和27.7度处显示衍射峰。
  • 晶体
  • [发明专利]对组合样品的结构和成分进行测量分析的方法及装置-CN02148439.2无效
  • 高琛;罗震林 - 中国科学技术大学
  • 2002-12-02 - 2004-06-16 - G01N23/20
  • 本发明是一种对组合样品的结构和成分进行测量分析的方法及装置,它涉及利用X射线衍射X射线荧光技术对结构和成分进行测量分析的方法及装置。X射线源1、X射线透镜3、样品台7及其控制电路、能量探测器9及其测量电路等均置于仪器平台13上,X射线源与X射线透镜形成入射光路,能量探测器位于衍射光路上。将X射线源发出的发散白光X射线通过X射线透镜聚焦成准平行的微会聚束照射到样品台上,平移样品台使被测样品6位于该焦点,然后用能量探测器接收从被测样品上衍射X射线和发射的荧光X射线,再传输到计算机12中进行数据处理,得到衍射谱和荧光光谱,从而分析出结构和成分。
  • 组合样品结构成分进行测量分析方法装置
  • [实用新型]对组合样品的结构和成分进行测量分析的装置-CN02286529.2无效
  • -
  • 2002-12-02 - 2003-10-29 - G01N23/20
  • 本实用新型是一种对组合样品的结构和成分进行测量分析的装置,它涉及利用X射线衍射X射线荧光技术对结构和成分进行测量分析的装置。X射线源1、X射线透镜3、样品台7及其控制电路、能量探测器9及其测量电路等均置于仪器平台13上,X射线源与X射线透镜形成入射光路,能量探测器位于衍射光路上。将X射线源发出的发散白光X射线通过X射线透镜聚焦成准平行的微会聚束照射到样品台上,平移样品台使被测样品6位于该焦点,然后用能量探测器接收从被测样品上衍射X射线和发射的荧光X射线,再传输到计算机12中进行数据处理,得到衍射谱和荧光光谱,从而分析出结构和成分。
  • 组合样品结构成分进行测量分析装置
  • [发明专利]单色及多色光X射线的单晶/定向晶应力测量系统和方法-CN202010126225.7在审
  • 陈凯;朱文欣 - 西安交通大学
  • 2020-02-27 - 2020-06-05 - G01L5/00
  • 本发明公开了一种单色及多色光X射线的单晶/定向晶应力测量系统和测量方法,测量系统中,包括:多轴样品台,样品台控制器,多色光X射线发生器,单色光X射线发生器,X射线探测器,共心点调整模块,计算储存模块,控制模块测量方法中,包括:调节样品表面到共心点;多色光X射线发生器产生多色光X射线,样品曝光,X射线探测器采集衍射峰信号;基于采集到的衍射峰信号,计算储存模块计算样品取向;多轴样品台驱动处于共心点的样品表面旋转和倾转,单色X射线发生器照射样品表面,采集模块采集样品表面的衍射峰信号;基于采集到的衍射峰信号,计算储存模块计算应力数据。
  • 单色多色射线定向应力测量系统方法

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