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[发明专利]劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法-CN202110520233.4有效
发明人：陈凯;寇嘉伟 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2021-05-12 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： G01N23/2055 文献下载
摘要：公开了一种劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法，方法包括以下步骤：在劳厄衍射图谱中寻找衍射亚峰并计算衍射亚峰的积分强度，将衍射亚峰标记为未归类衍射亚峰；将在未归类衍射亚峰中积分强度最大的衍射亚峰加入序列L；对序列L中的所有衍射亚峰Pi，根据各衍射亚峰Pi的积分强度，计算各衍射亚峰Pi各自对应的临界偏差距离为εi，在所有不属于序列L的未归类衍射亚峰中，寻找与序列L中的任一衍射亚峰Pi的偏差距离Δε小于衍射亚峰Pi对应临界偏差距离εi的衍射亚峰，并将其加入序列L；将序列L的所有的衍射亚峰定义为同一衍射峰所劈裂出的衍射亚峰，将序列L的所有衍射亚峰重新标记为已归类衍射亚峰。
衍射图谱识别同一劈裂方法

[发明专利]存在衍射峰劈裂的劳厄衍射图谱中标定多个亚晶的方法-CN202110520234.9有效
发明人：陈凯;寇嘉伟 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2021-05-12 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： G01N23/2055 文献下载
摘要：存在衍射峰劈裂的劳厄衍射图谱中标定多个亚晶的方法，以下步骤：在劳厄衍射图谱中寻找衍射亚峰并计算衍射亚峰的积分强度；识别同一衍射峰所劈裂的各衍射亚峰，基于各衍射亚峰的坐标与积分强度确定各衍射峰的坐标与积分强度；标定各衍射峰获得各衍射峰的米勒指数；将劈裂自同一衍射峰Pi的衍射亚峰排序，将劈裂自不同的衍射峰Pi中排序位置相同的衍射亚峰Si，j组成一个序列Lj；在各序列Lj中识别序列中各衍射亚峰间的角度差偏差ds中的离群点，并替换或删除离群点对应的衍射亚峰，直到没有离群点；如果去除离群点后，序列包含的衍射亚峰数多于参数N，则序列衍射亚峰所劈裂的衍射峰的米勒指数为各衍射亚峰的米勒指数
存在衍射劈裂图谱标定多个亚晶方法

[发明专利]一种磷酸硅铝分子筛、其制备方法及应用-CN201610081448.X有效
发明人：田鹏;王德花;刘中民;向骁;杨淼;郜贝贝 -专利权人：中国科学院大连化学物理研究所
申请日： 2016-02-04 - 公布日： 2019-08-20 - 主分类号： C01B37/08 文献下载
摘要：本申请公开了一种新型磷酸硅铝分子筛，其X射线衍射图谱中包含以下4个衍射峰：衍射峰A，2θ在12.82°至13.2°之间，峰强度为I_A；衍射峰B，2θ在17.63°至18.15°之间，峰强度为I_B；衍射峰C，2θ在21.80°至22.40°之间，峰强度为I_C；衍射峰D，2θ在25.92°至26.38°之间，峰强度为I_D；其中，衍射峰B的峰强度I_B最大；除衍射峰A、衍射峰C和衍射峰D外的其他任意衍射峰与衍射峰B的峰强度比值均不超过0.07。
一种磷酸分子筛制备方法应用

[发明专利]一种TiCN基金属陶瓷-CN201711466012.3在审
发明人：鲁攀;许荣杰;聂洪波;项忠楠;郭新营;江嘉鹭 -专利权人：厦门钨业股份有限公司
申请日： 2017-12-28 - 公布日： 2019-07-05 - 主分类号： C22C29/04 文献下载
摘要：本发明提供了一种特殊结构的TiCN基金属陶瓷，包括硬质相和粘结相，通过对TiCN基金属陶瓷进行X射线衍射测量得到原始谱图，原始谱图包括在布拉格角2θ为47°‑49.7°出现的衍射峰A和在布拉格角2θ为132.1°‑139.7°出现的衍射峰B；衍射峰A的峰边宽0.92°‑1.48°，衍射峰B的峰边宽0.84°‑2.0°；衍射峰A进行峰形拟合得到分峰图谱，分峰图谱中所述衍射峰A分峰数量为1个‑3个；衍射峰A分峰中最强峰的峰面积占所述衍射峰
衍射峰基金属陶瓷布拉格角图谱定量化控制切削工具使用寿命微观结构粘结相最强峰峰形拟合硬质优化保证

[发明专利]一种粉末X射线衍射图谱的衍射峰定标方法-CN202010245672.4有效
发明人：阳卓岑;马健;温书豪;赖力鹏 -专利权人：深圳晶泰科技有限公司
申请日： 2020-03-31 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01N23/2055 文献下载
摘要：本发明提供一种粉末X射线衍射图谱的衍射峰定标方法，包括以下步骤：（1）对原始衍射数据进行插值平滑处理；（2）选定数据处理窗口，寻峰算法将对窗口范围内的数据进行寻峰计算；（3）对划定的数据处理窗口内的数据计算参数，识别并记录出该窗口内可能的衍射峰位置；（4）对选出的衍射峰位置进行过滤；（5）将选定的数据处理窗口进行移动，选定新的数据处理窗口位置，重复（3）—（4）步骤，识别并记录新得到的衍射峰位置；（6）将所有获取到的衍射峰位置进行聚类，距离过近的衍射峰位置合并为同一衍射峰。本发明能够对各种情况的衍射峰保持较高的识别率，过滤错误的衍射峰，显著减少标定缺失/寻峰错误的情况。
一种粉末射线衍射图谱定标方法

[发明专利]劳厄衍射图谱的标定方法-CN201911313370.X有效
发明人：陈凯;寇嘉伟 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2019-12-18 - 公布日： 2021-04-13 - 主分类号： G01N23/2055 文献下载
摘要：本发明公开了一种劳厄衍射图谱的标定方法，方法包括以下步骤：求解样品在白光X射线光源能量范围内所有的劳厄衍射峰的米勒指数，在劳厄衍射图谱中获得衍射峰及其位置并将获得的衍射峰标记为实验衍射峰，基于探测器坐标系计算所述实验衍射峰的衍射矢量，计算所述实验衍射峰数量大于预定参数np的晶带轴Zi′方向；标定晶带轴Zi′得到晶带轴的米勒指数并计算取向变换矩阵T；对比标定的所述实验衍射峰，通过衍射峰之间的角度差检测被标定的所述实验衍射峰的标定结果的正确性，若标定正确的实验衍射峰的数目大于等于预定参数n
衍射图谱标定方法

[发明专利]基于能量扫描衍射的获得晶体材料共格两相衍射峰的方法-CN202010045873.X有效
发明人：陈凯;周光妮;张玉彬;朱文欣 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2020-01-16 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： G01N23/2055 文献下载
摘要：本公开揭示了一种基于能量扫描衍射的获得晶体材料共格两相衍射峰的方法，包括：利用同步辐射能量扫描X射线衍射技术，获得晶体材料的衍射峰在特定能量范围内每个能量步长下的衍射强度二维分布，并计算与衍射强度二维分布相对应的衍射矢量模二维分布；对所述衍射强度二维分布和衍射矢量模二维分布进行重构，获得衍射峰的衍射强度相对于衍射矢量模的衍射强度分布曲线；选取所述衍射强度分布曲线中的有效部分，根据该有效部分在衍射峰峰值两侧的不对称性，对该有效部分进行分峰处理，获得晶体材料共格两相的第一衍射强度分布曲线和第二衍射强度分布曲线。本公开根据衍射峰的不对称性，对一维衍射峰进行分峰，能够获得错配度极小的两相独立衍射峰。
基于能量扫描衍射获得晶体材料两相方法

[发明专利]单晶碳化硅液相外延生长用单元和单晶碳化硅的液相外延生长方法-CN201180062368.5有效
发明人：鸟见聪;野上晓;松本强资 -专利权人：东洋炭素株式会社
申请日： 2011-06-29 - 公布日： 2017-02-15 - 主分类号： C30B29/36 文献下载
摘要：供料件（11），通过含有结晶多型为3C的多晶碳化硅的表层的X射线衍射，作为与结晶多型为3C的多晶碳化硅对应的衍射峰，观察到与（111）晶面对应的衍射峰和与（111）晶面对应的衍射峰以外的衍射峰。种晶件（12），通过含有结晶多型为3C的多晶碳化硅的表层的X射线衍射，作为与结晶多型为3C的多晶碳化硅对应的衍射峰，观察到与（111）晶面对应的一级衍射峰，观察不到具有与（111）晶面对应的一级衍射峰的衍射强度的10%以上的衍射强度的其他的一级衍射峰。
碳化硅外延生长单元方法

[发明专利]一种电化学装置和电子装置-CN202180012182.2在审
发明人：袁国霞 -专利权人：宁德新能源科技有限公司
申请日： 2021-09-28 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： H01M10/058 文献下载
摘要：本申请提供了一种电化学装置和电子装置，其包括正极、负极和电解液，正极活性材料包括含锰复合材料，在30％SOC至40％SOC条件下，正极活性材料的XRD衍射图谱中，在40°至46°范围内包括第一衍射峰锰酸锂特征峰(400)和第二衍射峰镍钴锰酸锂特征峰(104)，第一衍射峰的2θ角小于第二衍射峰的2θ角，第一衍射峰的峰强为A，第二衍射峰的峰强为B，满足：0.01≤B/A≤0.55，提高了电化学装置的高温循环性能和存储性能
一种电化学装置电子

[发明专利]硅基负极活性材料及其制备方法、二次电池及用电装置-CN202380009160.X在审
发明人：郭晓鑫;王家政;吕子建 -专利权人：宁德时代新能源科技股份有限公司
申请日： 2023-03-06 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： H01M4/36 文献下载
摘要：一种包括Si和MSiO3，其中，M包括一种或多种碱土金属元素；在所述硅基负极活性材料的XRD衍射图谱中，衍射角2θ在26°‑26.8°之间具有第一衍射峰，所述第一衍射峰的半峰宽为βA；衍射角2θ在31°‑32°之间具有第二衍射峰，所述第二衍射峰的半峰宽为βB；则所述硅基负极活性材料满足：1.5≤
负极活性材料及其制备方法二次电池用电装置

[发明专利]铜合金线材-CN202280003421.2在审
发明人：松尾亮佑 -专利权人：古河电气工业株式会社
申请日： 2022-03-23 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： C22C9/00 文献下载
摘要：铜合金线材具有含有1.0质量％以上6.0质量％以下的Ag、余量为Cu及不可避免的杂质的合金组成，针对表面的利用X射线衍射分析得到的111衍射的峰强度I(111)、200衍射的峰强度I(200)、220衍射的峰强度I(220)及311衍射的峰强度I(311)，前述峰强度I(111)、前述峰强度I(200)与前述峰强度I(311)的合计强度相对前述峰强度I(220)的峰强度比((前述峰强度I(111)+前述峰强度I(200)+前述峰强度I(311))/前述峰强度I(220))为1.20以上3.00以下。
铜合金线材

[发明专利]硫化物固体电解质-CN202011548301.X在审
发明人：宇都野太;寺井恒太;梅木孝;中川将;山口展史 -专利权人：出光兴产株式会社
申请日： 2017-08-08 - 公布日： 2021-04-13 - 主分类号： H01M10/0562 文献下载
摘要：一种硫化物固体电解质，包含锂、磷、硫、氯、溴,在使用了CuKα射线的粉末X射线衍射中，在2θ＝25.2±0.5deg具有衍射峰A，在29.7±0.5deg具有衍射峰B，衍射峰A以及衍射峰B满足下述式(A)：0.845＜SA/SB＜1.200…(A)，式中，SA表示所述衍射峰A的面积，SB表示所述衍射峰B的面积,所述氯相对于磷的摩尔比c(Cl/P)与所述溴相对于磷的摩尔比d(Br/P)，满足下述式(1)：1.2＜c+d＜1.9…(1)。
硫化物固体电解质

[发明专利]硫化物固体电解质-CN201780055751.5有效
发明人：宇都野太;寺井恒太;梅木孝;中川将;山口展史 -专利权人：出光兴产株式会社
申请日： 2017-08-08 - 公布日： 2021-01-05 - 主分类号： H01M10/0562 文献下载
摘要：一种硫化物固体电解质，包含锂、磷、硫、氯、溴,在使用了CuKα射线的粉末X射线衍射中，在2θ＝25.2±0.5deg具有衍射峰A，在29.7±0.5deg具有衍射峰B，衍射峰A以及衍射峰B满足下述式(A)：0.845＜SA/SB＜1.200…(A)，式中，SA表示所述衍射峰A的面积，SB表示所述衍射峰B的面积,所述氯相对于磷的摩尔比c(Cl/P)与所述溴相对于磷的摩尔比d(Br/P)，满足下述式(1)：1.2＜c+d＜1.9…(1)。
硫化物固体电解质

[发明专利]晶相识别方法、晶相识别装置、以及X射线衍射测定系统-CN201710373083.2有效
发明人：池田由纪子;长尾圭悟;姬田章宏 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2017-05-24 - 公布日： 2020-05-12 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明涉及晶相识别方法、晶相识别装置、以及X射线衍射测定系统。使用注册有关于多个晶相的X射线衍射图案的峰位置和峰强度比的数据的数据库，根据包含多个环状的衍射图案的数据的样品的X射线衍射数据来识别样品所包含的晶相。根据X射线衍射数据针对多个衍射图案检测峰位置和峰强度（步骤102），制作各衍射图案的周向的角度对强度的数据（步骤103）。然后，基于周向的角度对强度的数据来将各衍射图案分类为多个群组（步骤105）。然后，基于分类为相同的群组的衍射图案的峰位置和峰强度比的组来从数据库检索样品所包含的晶相候补（步骤106）。
相识方法装置以及射线衍射测定系统

[发明专利]催化剂、以及二烯化合物的制造方法-CN202080046104.X在审
发明人：西山悠;柳桥宣利 -专利权人：积水化学工业株式会社
申请日： 2020-06-24 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： B01J21/08 文献下载
摘要：一种催化剂，含有选自周期表第3～6族中的至少1种元素X、和选自第14族元素中的至少1种元素Z，在使用X射线衍射法观测到的X射线衍射谱图中，在θ＝6°以下的低角度范围观测到至少1个衍射峰，所述至少1个衍射峰的峰强度I与所述衍射峰的半峰半宽H之比即I/H为5000以上。
催化剂以及化合物制造方法

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